Способ измерения диэлектрических свойств Советский патент 1977 года по МПК G01R31/12 G01N27/22 

1

Изобретение относится к области электроизмерительной техники и предназначено для неразрушающего контроля диэлектрических материалов.

По основному авт. св. ЛЬ 216807 известен способ измерения диэлектрических свойств, заключающийся в том, что измеряют комплексное сопротивление измерительного конденсатора при разных глубинах проникновения электрического поля в исследуемый материал и по нему судят о диэлектрических свойствах материала 1.

Однако в известном способе для получения разной глубины проникновения электрического поля в исследуемый материал используют отдельные измерительные конденсаторы. Известный способ не обеспечивает необходимой точности измерений ввиду того, что использование отдельных измерительных конденсаторов приводит к изменению условий измерения - расположения контролируемого участка, воздушного зазора и т. д.

Цель изобретения - повыщение точности измерения.

Это достигается за счет того, что глубину проникновения электрического поля изменяют путем заполнения пространства между обкладками конденсатора и исследуемым диэлектриком эталонным диэлектриком, а в качестве эталонного диэлектрика используют жидкость.

Па чертеже приведены зависимость 1 нормированной величины емкости конденсатора от величины зазора h между электродами и контролируемой поверхностью (диэлектрическая проницаемость 8 10) при наличии воздушного пространства между ними (диэлектрическая проницаемость ) и зависимость 2 нормированной величины емкости конденсатора от величины зазора h при заполнении пространства между ними эталонным диэлектриком с проницаемостью

82 5.

Под нормированной величиной емкости понимается:

Cj - С; h

С С;Л 0-С;й о,

где С,- - емкость конденсатора при данном

значении /г;

C/h - емкость конденсатора при /г сч:, т. е. при отсутствии контролирземого материала;

- емкость конденсатора с исследуемым материалом без зазора меладу ним и электродами.

Способ осуществляют следующим образом. Пространство между электродами и контролируемым материалом заполняют эталон