Устройство для измерения угловой погрешности положения штрихов лимба Советский патент 1978 года по МПК G01B11/26 

1

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения угловой погрешности полохсения штрихов прецизионных лнмбов.

Известии устройства для измерения угловой погрешности положения штрихов лнмбов с применением двух пар, микроскопов, расподжениых над диаметрально противопопожныкш штрихами лигула. Измерение производится путем отсчета показаний микроскопов после периодических поворотов лимба на шаг измерение, изменением угла между парами микроскопов и повторением этих операций l ,

Однако процесс измереиия является трудоемким, длительным, связан со сложными расчетами погрешностей. ,

Наиболее близкймк ойисываемому устройству по технической сущности и достигаемом результату является устройство, содержащее основание, установленные на нем поворотную платформу, механизм поворота и два микроскопа, расположенные над диаметрально противопопожными штрихами лимба 2 .

Недостаток измерения таким устройством связан с отсчетом погрешностей в.линейных

величинах, при переводе которых угловые вносятся дополнительные погрешности, а процесс измерения является продолжительным.

Цель изобретения - повышение производительности измерения путем выполнения отсчета погрешностей, од ним углоизмерительным прибором.

Для этого, устройство снабжено индикаторным элементом в виде зеркала, устаиовпеиного на поворотной платформе напротив коллиматора, приводом микроподачи поворотной платформы и блоком сравнения, подключенвым между выходами микроскопов и приводом микроподачи, а микроскопы выполнены фотоэлек рическими.

На фиг. 1 схематично изображено предпвгаемое устройство, вид спереди; на фиг. вид А фиг. 1.

На основании 1 устройства через круговые направляющие 2 установлена поворотная платформа 3 с выступом и механизмом поворота с торцовым зубчатым зацеплением, состоящим из нижней части 4, верхней части 5 и рукоятки 6. На верхней части прибора закреплен измеряемый лимб 7, а на поворотной платформе 3 зеркало 8. Над диаметрально протиБОположньЧми штрихами лимба 7 установлены два фотоэлектрических микроскопа 9 и Ю. .Устройство снабжена приводом 11 микро подачи, вращаюищм винт Ik, который через выступ перемещает платформу 3, С другой стороны выступа установлена пружина 13 возврата. На платформе 3 расположено зерка ло QS в направлен автвкошгкматар 14„ Выходы из фотоалектрическЕХ микроскв« пов 9 и Ю подсоединены в блок 15сраЬн& НИИ, выход на которого подключен к приводу 11 микроподачив Устройство работает следующим образом. В исходном положении фотоэлектрические микроскопы 9 и 1О установлены на середины диаметрально; противоположных штрихов измеряемого лимба 7, а автоколлиматор 14 наводится на нуль. При помощи рукоятки 6 верхняя часть 5 механизма поворота выводится из зацепления с нижней частью 4 и опять вводится в зацепление через требуемый шаг измерения Фотоэлектрические микроскопы 9 и 10 выдают сигналы, пропорциональные погрешностям угла расположения штрихов лимба 7« Из-за разности амплитуды и фазы выходных сигналов блок 15 сравнения не срабатывает. Блок 15 сравнения настроен на срабатывание при одинаковой амплитуде и прогивопояожнойфазе выходных сигналов .S3 микроскопов 9 и 1О. Привод 11 микроподачи поворачивает пла-р форму 3 до тех пор, пока амплитуда выходны сигналов из микроскопов 9 и 10 не станет одинаковой, а их фаза противоположной, И блок 15сравнения выключает привод. В.. тиком случае диаметрально противоположные штрихи лимба 7 распопагаютса параллельно оптЖческим осям микроскопов 9 и Юг а такое распо ложение штрихов Относительно оптической оси микроскопов соот тствует погрешности угла линии, соедйнающей диаметрально противопо ложные штрихи лимба, что является погрешноо тью диаметров лимба, которая сшределяется для прецизионных лимбов. Эта погрешность намеряет ся автоколлиматором 14. Формула изобретения Устройство для измерения угловой погрешности положения штрихов лимба, содержащее основание, устан овленные на нем автоколлиматор, поворотную платформу, механизм поворота и два микроскопа, располагаемые над диаметрально противоположными штрихами лимба, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности изме рения, устройство снабжено индикаторным элементом в виде зеркала, установленного на поворотной платформе напротив коллиматО ра, приводом микроподачи поворотной платф6р1мь и блсжом сравнения, подютюченным между Bbixoiдамимикроскопов и приводом микроподач15д а микроскопы выполнены фотс8элежтрически « ми.. Источники информации; принятые во внимание при экспертиза: 1.Авторское свидетельство СССР 131843, кл., Q О1 В 9/04, 1966, 2. Измерительная техника, 1971, hfe 3, с, 24-26.

Л

О

v лл/v Ж/v /sAл/

3

- чтп i

Yi

f

.//

f

A