Волноводный измерительный преобразователь Советский патент 1978 года по МПК G01N23/24 

Описание патента на изобретение SU589571A1

(54) ВОЛНОВОДНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ

Похожие патенты SU589571A1

название год авторы номер документа
Волноводный измерительный преобразователь 1979
  • Григулис Юрис Карлович
  • Дагилис Мартин Карлович
  • Пориньш Виестурс Мартынович
  • Русманис Сигурдс Юльевич
SU873061A2
ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО НАПРЯЖЕНИЯ В ЧАСТОТУ 1991
  • Корнилов Б.В.
  • Малышев В.В.
  • Привезенцев В.В.
  • Щетинин А.Г.
RU2035808C1
Проходной детекторный СВЧ преобразователь мощности 1981
  • Силаев Михаил Александрович
  • Фурлендер Борис Аврумович
  • Дергачев Владимир Федорович
  • Исаев Виктор Николаевич
SU1137407A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТЕКУЧЕЙ СРЕДЫ В ТРУБОПРОВОДЕ 2001
  • Редькин Г.А.
  • Мудров А.Е.
  • Жуков А.А.
  • Мещеряков В.А.
  • Хасанов В.Я.
  • Житов Н.Б.
  • Дума А.Р.
  • Мальцев Л.Б.
RU2203482C2
СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ РЕЗОНАНСНОГО ДАТЧИКА ПАРАМЕТРОВ ЭПИТАКСИАЛЬНОГО СЛОЯ НА ПРОВОДЯЩЕЙ ПОДЛОЖКЕ 1993
  • Тэгай В.А.
  • Енишерлова-Вельяшева К.Л.
  • Детинко М.В.
RU2107356C1
Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов 1988
  • Богобоящий Виктор Владимирович
  • Петряков Владимир Алексеевич
  • Раскевич Александр Михайлович
  • Дроздов Сергей Анатольевич
  • Рогулин Владимир Юрьевич
SU1583814A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ И ТАНГЕНСА УГЛА ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕРЬ ЖИДКОСТИ 2010
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Скрипаль Александр Владимирович
  • Абрамов Антон Валерьевич
  • Боголюбов Антон Сергеевич
  • Куликов Максим Юрьевич
  • Пономарев Денис Викторович
RU2419099C1
БАЛАНСНЫЙ СМЕСИТЕЛЬ 1991
  • Легенкин С.А.
  • Амирян Р.А.
RU2034394C1
СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ РАБОТОЙ МЕМРИСТИВНОЙ КОНДЕНСАТОРНОЙ СТРУКТУРЫ МЕТАЛЛ-ДИЭЛЕКТРИК-ПОЛУПРОВОДНИК 2018
  • Тихов Станислав Викторович
  • Антонов Иван Николаевич
  • Белов Алексей Иванович
  • Горшков Олег Николаевич
  • Михайлов Алексей Николаевич
  • Шенина Мария Евгеньевна
  • Шарапов Александр Николаевич
RU2706197C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НИЗКООМНОГО КОНТАКТА К КРЕМНИЮ 1993
  • Чистяков В.В.
  • Зимин С.П.
  • Винке А.Л.
RU2065226C1

Иллюстрации к изобретению SU 589 571 A1

Реферат патента 1978 года Волноводный измерительный преобразователь

Формула изобретения SU 589 571 A1

Л

Изобретение относится к контрольнЬизмерительной технике и может испольг зоваться для контроля параметров слоЬ ев полупроводниковых структур.

Известны сверхвысокочастотные методы измерения удельного сопротивления полупроводниковых пластин/ при которых образец помещается в волново|| и, кроме того(Прижат к концу волновода l.

Однако в известном преобразователе точность измерения недостаточна, особенно при контроле тонких слоев материалов двух или более слойных структур с малым удельным сопротив(лением.

Наиболее близким техническим решет нием к изобретению является волноводг |ный преобразователь для контроля электрических параметров полупроводйиковЕлх структур, содержащий переходной фланец и отрезок волноводного

тракта X.

Однако у этого волноводного преобразователя ч шствительность измерения толщины высокоомных слоев на низкоомных структурах недостаточна.

Цель изобретения - увеличение чувотвительности измерения толщины высокоомных сшоей на низкос 1ных стру турах и параметров низкоомных структур с линеаризацией функциональной зависимости при низких значениях этих величин.

Для этого в волноводном преобразователе для контроля электрофизических параметров полупроводниковых структур, содержащем переходивши фланец и отрезок волноЁодног.о тракта, на конце отрезка волноводного тракта установлена отражающая поверхность.

На фиг, 1 показан предлагаемый ВОЛНОВОДНЫЙ преобразователь, возможней вариант конструкции; на фиг,2 - кривые, характеризующие эффективность использования предлагаемого преобразователя,

ВОЛНОВОДНЫЙ преобразователь для контроля электрических параметров полупроводниковых структур содержит переходный фланец 1, отрезок волноводного тракта 2, на конце которого установлена отражающая поверхность 3,

При наложении на отражающую повер4ность 3 испытуемого образца возникает поперечное распространение сверхвысо4 кочастотной мощности в высокоомном поверхностном слое 4 вследствие MHQгократного отражения потока между отражающей поверхностью 3 и низкоомной структурой 5. Кривые (см. фиг.2) характеризуют ВОЗМОЖНОСТЬ достижения значительного {прироста чувствительности измерений на примере контроля толщины d диэлектрических слоев, нанесенных на ниэкор ных полупроводниковых пластинках с р 0,001, 0,03, 0,1 и 0,5 Ом-см по показаниям разности тока измерительного устройства, например по разнице показаний тока индикатора и минимуме стоячей волны измерительной пинии при контроле структуры со слоеи и основы. Кривые 1 определяют изменение раз |ности тока для преобразователя без отражающей поверхности, а кривые П характеризуют изменение разности тока JB измерительном приборе для тех же контрольных образцов при использовании предлагаемогоизмерительного преобразователя. I .При использованиипредлагаемого преобразователя чувствительность изме рений контролируемых параметров образ цов, т.е. толщины слоев d или удельИого сопротивления р , а также поверхJHOcTHoro сопротивления Rg,Ha порядок , чем для преобразователей, не имеющих отражающей поверхности, при|Чем такая чувствительность сохраняется не только при контроле толщины диэлектрических и высокоомных полупрйЭодниковых слоев, а также при контроле параметров подложки при определен,ной толщине верхнего слоя.Такой при- рост чувствительности возможен вследствие возникновения в приповерхностнём слое контролируемой структуры многократных отражений потока электромаг;нитной энергии. Формула изобретения I Волноводный измерительный преобразователь для контроля электрофизичесkиx параметров полупроводниковых структур, содержащий переходный флайец и отрезок волноводного тракта, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности измерения толщины высокоомных слоев На низкоомных структурах и параметро4 низкоомных структур с линеаризацией функциональной зависимости при низких значениях этих величин, на конце отрезка волноводного тракта установлена отражающая поверхность. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1.Давыдов Д., Арапов Ю. ПТЭ, 1967, 6, с. 113. 2.Авторское свидетельство СССР №.166763, М.Кл. GiOl Т 31/26, 1962.

Ilo

1600

tzoo

120

SU 589 571 A1

Авторы

Григулис Юрис Карлович

Дагилис Мартин Карлович

Пориньш Виестурс Мартынович

Русманис Сигурдс Юльевич

Даты

1978-01-25Публикация

1977-01-26Подача