Селективный дефектоскоп Советский патент 1978 года по МПК G01N27/86 

Изобретение предназначено для неразрушающего контроля качества повер ности цилиндрических изделий и может быть использовано для контроля длинномерных цилиндрических изделий в че ной металлургии. . Известен дефектоскоп селективного контроля поверхности пртката, в кото ром для повышения надежности обнаружения продольно ориентированных дефектов используется запись информации о дефекте на движущийся магнитоноситель с последующим считыванием и логической обработкой этой информации в электронном блоке l. Недостатком такого дефектоскопа является возможность пропуска протяженного дефекта, если такой дефект смещен относительно феррозондов и ко роче двойного расстояния между ними. Известен дефектоскоп наиболее бли кий к изобретению по технической сущ ности, содержащий два одинаковых измерительных канала, выполненные каждый в виде последовательно соединенных феррозондового преобразователя, усилителя с детектором и амплитудного дискриминатора, первую схему совп дения, входы которой соединены с выходами амплитудных дискриминаторов, и выходной индикатор . Известное устройство позволяет определить характер и местоположение|дефекта, но не позволяет определять наличие дефектов, смещенных относительно преобразователей феррозондов. Целью изобретения является повышение точности контроля. Это достигается тем, что предлагаемый дефектоскоп снабжен второй схемой совпадения, схемой ИЛИ, входы которой соединены с выходами схем совпгшения, преобразователем угла поворота и регистром сдвига, тактовый вход которого соединен с пре- , образователен угла поворота, а логический вход-с выходом одного из амплитудных дискриминаторов. Выход другого амплитудного дискриминатора и выход регистра сдвига соединены со входами второй схемы совпадения. На чертеже изображена структурная схема селективного дефектоскопа. Селективный дефектоскоп для контроля длинномерных изделий содержит узел 1 сканирования, включающий основание 2, преобразователь 3 угла поворота, два канала, выполненные каждый в виде феррозондового преобразоватеЛЯ 4 и 5, усилителя б и 7 и амплитудного дискриминатора 8 и 9, первую схему 10 совпадения, вторую схему 11 Iсовпадения, регистр 12 сдвига, ске.му .13 ИЛИ и выходной инйикатор 1,

Основание 2 .с установленными на нем преобразователями 4 и 5 механически скреплено с узлом 1. Преобразователи 4 и 5 образуют два канала измерения и соединены соответственно с усилителями .6 и 7, выходы которых подключены ко входам амплитудных дискриминаторов 8 и 9. Вьаход дискриминатора 8 соединен с логическим входом регистра 12 и одним входом. схемы 10 совпадения. Тактовый вход регистра 12 соединен с .преобразователем 3,- а выход - с одним входом второй схемы 11, совпадения. Выход дискриминатора .9 соединен с flpyrwiviH входами схем 10 и 11 совпадения, выходы которых соединены с входами схе мы 11 -ИЛИ , а ее выход - b индикатором 14.

Через узел 1 сканирования движется изделие 15 с условно показанньши дефектами 16.

Основание 2 вращается узлом 1 сканирования вокруг поступательно движущегося изделия 15. Когда дефект 16 находится одновременно под обоими преобразователями 4 и 5, то их сигналы после усиления усилителями б и 7 и оценки величины сигнала (глубины дефекта) амплитудными дискршминаторами 8 и 9 поступг-от на оба входа схемы 10 совпадений, на выходе котоЕюй также появится сигнал Сигнал с выхода схемы-10 совпадений через схему 13 ИЛИ поступит на индикатЪр 14 и дефект будет зафиксирован.

Если-дефект находится только под преобразователем 4, то его сигнал, усиленный усилителем 6 и оценеин-ый . по величине, амплитудным дискриминатором 8, поступит одновременно на один из входов схемы совпадений1 О и л6гичёский вход регистра 12. Так как сигнал на втором входе схемы 10 сов падений отсутствует, то и на ее выхрде сигнала не будет.

Сигнал, поступивший на логический . вход регистра 12, через оборот, благодаря сигналу преобразователя 3, когда основание 2 окажется опять над тем же дефектом , появится на выходе регистра 12 и поступит на один из входов схемы 11 совпадений. Если дефект 16 длиннее, чем расстояние меЖду преобразователями 4 и 5, то на др-у;гой вход схемы 11 совпадений так- . же поступит сигнал. С выхода схемы 11 совпадений сигнал через схему 13 ИЛИ поступит на индикатор 14 и дефект будет зафиксирован.

Лредложенный селективный дефектоскол повышает точность выявления протяженных поверхностных дефектов при контроле длинномерных изделий цилиндрической формы.

Формула изобретения .

Селективный дефектоскоп, содержащий два одинаковых измерительных канала, выполненные каждый в ви-де поспедовательио соединенных феррозондового преобразователя, усилителя и амплитудного дискриминатора, первую схему совпадения, входы которой соединены с выходами амплитудных дискриMHviaTopOB, и вы: одной индикатор,отличающийся тем, что,с целью повьшления точности контроля, он снабжен второй схемой совпадения, снемой ИЛИ, входы которой соединены с выходами схек совггадения, преобразсвателем угла поворота и регистром сдвига, тактовый вход которого соединен с преобразователем угла йоворста, а логический вход - с выходом ол.ного из амплитудных дискриминаторе в , выход другого амплитудного д1-::скр 1минатора и выход регистра сдвиге, соединены со входами второй схемы совпадения.

Источники информации, принятые во вкгкмани.е при экспертизе:

1.Авторское свидетельство СССР W- 376708, кл.Q 01N 27/86, 1968.

2.Авторское-свидетельство СССР № 402796, кл. -01 М 27/88, 1971.