Способ определения долговечности свч-диодов Советский патент 1978 года по МПК G01R31/26 

U - постоянная форсирования, рассчитанная по результатам ступенчатых испы ний; - мощность в форсированном режиме, устанавливаемая в диапазоне от Р„ ДОРср(Рн Рф РсркУ, где Ф14 критическое значение рассеиваемой мощности, определяемое по результатам ступенчатых испытаний, равное рассеиваемой мощности той «ступе ни, на которой зафиксирован первый отказ) - основание натурального логарифма. Сущность предлагаемого способа состоит в том, что длительность испытаний в форсированном режиме 1ф по отношению к длительности испытаний в нормальном режиме 1:„ уменьшается в Яф раз. Данная величина называется коэффициентом Форсирования. Между величинами Ьф, , Рф « .,следующие математические соотно шения «р в Ci) (1) Для установленной рассеиваемой электрической мощности р по конк.ретному типу СВЧ-диодов, определив U и , а также проведя испытание в течение времени tqj в данном режиме при температуре корпуса диодов 25±lOc, с помощью выражений (1) и (2) оценивают долговечность н Последовательность оценки долговечности (t ) след;уЮ1цая. ., На одной партии конкретного типа СВЧ-диодов при постоянной температуре корпуса диода, равной , и ступенчато увеличивающейся рассеи ваемой мощности проводят ступенчатые испытания. Перед каждой ступень испытаний измеряют параметры-критерии годности диодов. Эти параметры заносят в протокол. Длительность ступени должна обеспечивать установ ление теплового режима прибора. На первую ступень подают мощность, равную ее нормальному значению. Испыта ния продолжают до первого отказа. Затем по приведенным выше формулам определяют коэффициент форсирования и проводят при форсированной мощности испытания до получения заданного количества отказов. Время до наступления заданного количества отказов соответствует долговечности прибора. Формула изобретения Способ определения долговечности СВЧ-диодов путем подачи на приборы непрерывной электрической мощности, превышающей номинальную, при температуре корпуса 25+10С и выдержки ее до наступления отказа заданного количества приборов отличающ и и с ятем, что, с целью сокращения длительности испытаний, предварительно определяют коэффициент форсирования мощности, подрезультатам кратковременных воздействий на прибор электрической мощностью ступенчато возрастающего значения, длительность ступени определяется постоянной времени прибора , а разница в амплитуде соседних ступеней не превышает 20% значения номинальной мощности, при этом долговечность определяют по формуле t j П qa t ср где Пф - коэффициент форсирования электрической мощности (. 1ф - время проведения испытаний в форсированном режиме; t - долговечность диодов; - относительное приращеч ние электрической мощности;РН рассеиваемая мощность при номинальнсад режиме; U - постоянная форсирования, рассчитанная по результатам ступенчатых испытаний; РФ - мощность в форсированном режиме, устанавливаемая в диапазоне от Рц до РфкСРн й Рсрк), где 1фк критическое значение рассеиваемой мощности, определяемое по результатам ступенчатых испытаний равное рассеиваемой мощности той ступени, на которой зафиксирован первый отказ; е- основание натурального логарифма. Источники информации,, принятые, во внимание при экспертизе: 1.Гост 18349-73.Диоды полупроводиковые, сверхвысокочастотные. 2.Авторское свидетельство CCCIP 490047, кл. & 01 R 31/26, 31.03.76.