Устройство для измерения частотных характеристик комплексной электропроводности металлов Советский патент 1978 года по МПК G01R29/02 

Описание патента на изобретение SU620915A1

которого подключен выход первого блока умножения 12. Выход последнего связан с вертикально-отклоняющими пластинами осциллографа 15, а выход блока 14 подключен к горизонтально-отклоняющим пластинам осциллографа 15. Симметричные индуктивные делители, включенные параллельно, питаются тармоническим напряжением изменяющейся частоты, которое подается от свип-генератора 6. При внесении исследуемого образца 5 в ближнюю зону поля токовихревого датчика 2 изменяются действительная и мнимая части импеданса датчика, а следовательно, амплитуда и фаза напряжения, снимаемого с индуктивного делителя, содержащего р-абочий токовихревой датчик 2. Напряжения, снимаемые с индуктивных делителей, подаются на входы амплитудных детекторов 7 и на входы формирователей 9. С выхода амплитудных детекторов постоянные напряжения поступают на входы блока деления 8, состоящего из логарифмирующей, делительной, усилительной и антилогарифмирующей ячеек. Выходное напряжение блока деления, пропорциональное /А исследуемого металла, подается на первый вход блока умножения. 12, состоящего из логарифмирующей ячейки у.множения, усилительной и антилогарифмирующей ячеек. На второй вход блока 12 поступает напряжение, снимаемое с выхода генератора 13, пропорциональное частоте свипгенератора 6. Выходное напряжение блока умножения 12, пропорциональное мнимой части импеданса датчика с веществом, поступает на вертикально-отклоняющие пластины осциллографа 15. С выхода формирователя 9 П-образных импульсов напряжение поступает на вход щирокополосного высокочастотного датчика фазы 10, измеряющего разность фаз S между напряжениями, снимаемыми с индуктивных делителей при внесении в ближнюю зону поля рабочего датчика 2 исследуемого материала. Выходной сигнал датчика фазы 10 подается на вход функционального преобразователя 11, с выхода которого сцгнал, пропорциональный to-S |-, где R - действительная, X - мнимая части импеданса датчика с веществом, поступает на первый вход блока умножения 14, на второй вход которого подается сигнал с выхода блока умножения 12, пропорциональный X. Сигнал с выхода блока 14, пропорциональный R, подается на горизонтально-отклоняющие пластины осциллографа 15. На экране осциллографа при этом отображается годограф исследуемого металла. Формула изобретения Устройство для измерения частотных характеристик ком-плексной электропроводности металлов, содержащее свип-генератор, управляемый генератором линейно-изменяющегося напряжения, симметричные индуктивные делители напряжения с токовихревыми датчиками, в поле одного из которых расположен испытуемый образец, и дополнительными катушками индуктивности, параллельно которым подключены амплитудные детекторы, выходы которых соединены с входами блока деления, формирователи, подключенные к входам высокочастотного датчика фазы, выход которого соединен с входом функционального преобразователя, и осциллограф, отличающееся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей устройства, оно снабжено двумя последовательно соединенными блоками умножения, подключенными другими своими входами к выходам блока деления и функционального преобразователя, а выходом - к вертикально-отклоняющим и горизонтальноотклоняющим пластинам осциллографа соответственно.

Похожие патенты SU620915A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения частотных характеристик электромагнитных свойств веществ 1984
  • Горелик Фадей Львович
  • Петров Валентин Михайлович
  • Юпенков Владимир Алексеевич
  • Арш Эмануэль Израилевич
  • Сивцов Дмитрий Павлович
SU1224742A1
Устройство для отображения характеристик перестройки широкополосных свип-генераторов 1983
  • Тимин Игорь Алексеевич
  • Чернушенко Анатолий Максимович
  • Майбородин Анатолий Викторович
SU1103155A1
Автоматический регулятор уровнязВуКОВОгО СигНАлА 1979
  • Захаров Юрий Петрович
  • Мармазинский Андрей Алексеевич
SU813684A1
Устройство для измерения частотных характеристик диэлектрических свойств веществ 1982
  • Арш Эмануэль Израилевич
  • Сивцов Дмитрий Павлович
  • Флоров Александр Константинович
SU1051455A1
Цифровой стробоскопический импедансметр 1978
  • Волохин Валерий Викторович
  • Губарь Валентин Иванович
  • Туз Юлиан Михайлович
SU788035A1
Устройство для измерения диэлектрических параметров материалов 1984
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Немаров Александр Васильевич
  • Терлецкая Любовь Алексеевна
  • Штраль Игорь Янович
SU1205069A1
Широкополосный измеритель параметров диэлектриков 1983
  • Иванов Борис Александрович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Захаров Павел Томович
  • Ручкин Валерий Иванович
  • Федорина Игорь Алексеевич
  • Папенко Наталья Рафаиловна
  • Покалюхин Николай Алексеевич
SU1109670A1
Стенд для измерения частотных характеристик свойств веществ 1982
  • Арш Эмануэль Израилевич
  • Сивцов Дмитрий Павлович
  • Флоров Александр Константинович
SU1114981A1
Измеритель нелинейности амплитудной характеристики радиоэлементов 1986
  • Васильева Маргарита Георгиевна
  • Галиев Анвар Лутфракманович
  • Гольдфельд Лев Наумович
  • Федосеев Виталий Григорьевич
  • Фильгус Яков Ефимович
SU1370615A1
Устройство для измерения диэлектрических параметров 1985
  • Подгорный Юрий Владимирович
  • Немаров Александр Васильевич
SU1277019A1

Иллюстрации к изобретению SU 620 915 A1

Реферат патента 1978 года Устройство для измерения частотных характеристик комплексной электропроводности металлов

Формула изобретения SU 620 915 A1

SU 620 915 A1

Авторы

Арш Эмануэль Израилевич

Фролов Александр Константинович

Хандецкий Владимир Сергеевич

Даты

1978-08-25Публикация

1973-08-06Подача