Устройство для оценки качества линзовых растров Советский патент 1978 года по МПК G03C9/02 G02B27/38 

Описание патента на изобретение SU624195A1

1

Изобретение относится к области производства растровых стереоскопических изображений и может быть ис- .. пользовано в полиграфической промышленности.

Известное устройство для измерения толщин пленок в процессе их изготовления l сложно конструктивно.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устрой ство для оценки качества линзовых растров, содержащее тест-чэбъект и осветитель Г2 .

Однако это устройство не может обнаружить нарушения геометрических параметров линзовых растров, которые неизбежны при тиражировании стереопродукции .

Целью изобретения является обеспечение визуального определения откло нений оптических параметров от оптимальных.

Это достигается тем, что в предлагаемом устройстве тест-объект выполнен в виде двух прижатых друг к друГУ линейчатых растров с постоянньпл шагом и окрашенных в разные основные цвета, причем ширина полос одного растра равна половине шага испытываемого линзового растра, а ширина полос второго растра равна ширине муаровых полос, получаемых в результате наложения испытываемого линзового растра и первого линейчатого растра.

На фиг. 1 показана схема опись1ваемого устройства, содержащего осветитель, состоящий из лампочки 1 и молочного стекла 2. На этом стекле лежат две пленки тест-юбъекта. Нижняя пленка 3 является линейчатым растром с несколькими широкими линиями в кадре. Верхняя пленка является линейчатой растровой решеткой 4, ширина линеек которой равна половине шага контролируемого линзового растра 5. С одной стороны линзовый растр 5 упирается в планку 6, предназначенную для получения одной и той же ориентации растров 5 относительно линейчатой растровой решетки 4. Над линзовым растром установлена лупа 7.

Устройство работает следующим образом.

Испытываемый линзовый растр укладывают на линейчатую растровую решетку 4 и прижимают одним краем к планке 6. При разглядывании растра и тест-объекта сквозь лупу 7 и подсветке их снизу наблюдатель увидит муаровые полосы зе

Похожие патенты SU624195A1

название год авторы номер документа
РАСТРОВО-МУАРОВАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА 2014
  • Давыдов Григорий Владимирович
RU2596948C2
Измерительное устройство для определения взаимного перемещения двух подвижных частей механизмов 1960
  • Мироненко А.В.
SU142699A1
КОНТАКТНО-КАПЕЛЬНЫЙ ВЫСОКИЙ СПОСОБ ПЕЧАТИ МИКРОЛИНЗ НА ПЛОСКОМ НОСИТЕЛЕ ИНФОРМАЦИИ И ЗАЩИТНЫЙ ЭЛЕМЕНТ НА ПЛОСКОМ НОСИТЕЛЕ ИНФОРМАЦИИ 2014
  • Давыдов Григорий Владимирович
RU2596949C2
СТРУКТУРА ДЛЯ ОТОБРАЖЕНИЯ 2008
  • Кауле Виттих
  • Рам Михель
  • Раушер Вольфганг
RU2466029C2
РАСПРЕДЕЛЕНИЕ, КОМПОНОВКА ПИКСЕЛЕЙ И ФОРМИРОВАНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К МАТРИЦАМ МИКРОЛИНЗ С КРУГЛЫМИ И КВАДРАТНЫМИ ОСНОВАНИЯМИ ДЛЯ ДОСТИЖЕНИЯ В ПОЛНОМ ОБЪЕМЕ ТРЕХМЕРНОСТИ И МНОГОНАПРАВЛЕННОГО ДВИЖЕНИЯ 2013
  • Рэймонд Марк А.
  • Сото Эктор Андрес Поррас
RU2621173C2
ЗАЩИТНАЯ СИСТЕМА 2009
  • Ангелика Кекк
  • Астрид Хайне
  • Кристоф Менгель
RU2547700C2
ЗАЩИТНЫЙ ЭЛЕМЕНТ 2008
  • Кауле Виттих
  • Рам Михель
RU2466028C2
ЗАЩИТНЫЙ ЭЛЕМЕНТ 2008
  • Кауле Виттих
RU2466030C2
МАРКА К ВИЗИРНОМУ УСТРОЙСТВУ 2000
  • Григорашенко И.А.
  • Кузьмин Г.И.
RU2175112C1
Способ и система бесконтактной дальнометрии и профилометрии 2023
  • Гитлин Михаил Семенович
RU2807409C1

Иллюстрации к изобретению SU 624 195 A1

Реферат патента 1978 года Устройство для оценки качества линзовых растров

Формула изобретения SU 624 195 A1

SU 624 195 A1

Авторы

Воробьев Юрий Михайлович

Власенко Виктор Иванович

Волкова Людмила Александровна

Даты

1978-09-15Публикация

1977-04-26Подача