Способ измерения световой характеристики вакуумных фотоэлектронных приборов Советский патент 1978 года по МПК H01J9/42 

ристики при освещении фотокатода от искрового источника света с длительностью импульса на попувысоте 0,810,07 НС. При этом производят осциллографирование сигнала фотоэлектронного при бора. При перегрузке в 30 - 100 раз (по вершине импульса) предельный линейный ток заведомо достигается на начальном экспоненциальном участке импульса. Для построения истинной формы светового импульса на этом участке проводят измерение при интен сивности света, уменьшенной нейтральными фильтрами в 10 - 100 раз, при чем одновременно уменьшгиот ослабление сигнала входными аттенюаторами осциллографа в то же число раз, что позволяет получить осциллограмму того же участка светового импульса при малых токах на выходе фотоэлектронного прибора, где его характеристик будет заведомо линейной. Предложенный способ позволяет измерять световую характеристику и предел линейности фотоприбора в динамическом режиме работы, что значительно повыпает точность физических измерений. Формула изобретения Способ измерения световой характеристики вакуумных фотоэлектронных приборов путем освещения фотокатода световым импульсом и осциллографирования импульсов выходного тока, отличающийся тем, что, с целью определения световой харак- , теристики в динамическом режиме работы, фотокатод освещают световым импульсом экспоненциальной, формы с интенсивностью, обеспечивающий ограничение выходного импульса прибора на восходящем экспоненциальном участке светового импульса, и по осциллограмме импульса тока строят в полулогарифмическом масштабе световую характеристику . Источники информации, принятые во внимание при экспертизе: 1,Патент США 3515878, кл, 250-207, 1971, 2,Гаванин В,А, и др, Способ измерения характеристик вакуумных фотоэлементов , Импульсная фотометрия, Л,, Машиностроение, 1969, с. 6.