Система для контроля качества отжига стекла Советский патент 1979 года по МПК C03B25/00 

Описание патента на изобретение SU642263A1

(54) СИСТЕМА ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СТХСИГА СТЕКЛА

устройства измерения временного интервала, а мирра выполнена с радиально расположенными штрихами и эксцеитрично установлена на валу электродвигателя.

На фиг, 1 изображена система для контроля качества отжига стекла; на фиг. 2 - временная диаграмма его работы .

Осветитель 1 имеет источник света 2 и конденсатор 3, радиальную мирру 4, эксцентрично установленную на валу двигателя 5, коллиматор 6, объектив 7, диафрагму 8, светоприемник 9, фильтр 10, детектор 11, устройство измерения временного интервала 12, пороговый блок 13 и механизм перемещения стекла 14.

Устройство измерения временного интервала 12 содержит триггер 15 с раздельными входами,- генератор 16 квантующих импульсов, схему 17 совпадения, счетчик 18 импульсов и индикатор 19.

Описанная схема работает следующим образом.

Световой поток от осветителя 1, проходя через радиальную мирру 4, попадает во входной зрачок коллиматора 6. Коллиматор 6 направляет параллельный световой пучок на исследуемое стекло 20 и при помощи объектива 7 образует в плоскости установки светоприемника 9 изобрах ёние мирры 4. Дифрагма 8 служит для вырезания из изображения мирры узкой полосы, в пределах которой разрешающая способность мирры 4, практически, , постоянна. При вращении эксцентрично установленной мирры 4 плавно изменяется ширина полос участка мирры, проектируемого на исследуемое стекло 20, т.е. разрешающая способность мирры.

При отсутствии стекла в поле зрения прибора изображение мирры проектируется в njfocKOCTb установки светоприемника без искажений и размытостей и глубина модуляции светового пучка в течение всего периода измерения остается постоянной, независимо от того, какой участок мирры проектируется на светоприемник. Появление стекла в поле зрения прибора вызывает искаже 1ия и рассеяние света, обусловленные неоднородностью стекла. При этом, чем выше качество отжига, тем однородней стекло и тем выше его разрешающая способность. При вращении мирры 4 глубина модуляции светового пучка остается постоянной (максимальной) до тех пор, пока через стекло проектируются участки мирры, разрешающая способность которых меньше разрешающей способности исследуемого стекла.

Когда разрешающая способность проектируемого участка мирры становится больше разрешающей способности стекла, глубина модуляции светового пучка уменьшается.

Светоприемник 9 регистрирует.прошедший через стекло 20 переменный световой поток и выдает переменный сигнал 21 на фильтр 10, выделяющий огибающую сигнала 21 (сигнал в %). Сигнал 22 поступает на вход детектора 11, который при достижении установленного схемой 13 порога срабатывания 23 выдает сигнал 24 на входной триггер 15 устройства 12 измерения временного интервала. Триггер 15 выдает разрешающий сигнал 25 на один из входов схемы 17 совпадения, ко

второму входу которой подключен выход генератора 16, Разрешающий сигнал 25. выдается триггером только в интервале времени между сигналами 24 детектора 11 и квантующие импульсы 25 со входа генератора 16 поступают в счетчик 18 только в этом временном интервале .

При этом длительнбсть измеряемого временного интервала обратно пропорциональна степени однородности стекла и, следовательно, качеству отжига: чем выше качество отжига, тем меньше регистрируемый временной интервал. Индикатор 19, шкала которого может быть отградуирована в единицах разрешающей способности стекла или непосредственно в категориях оптической однородности, осуществляет индикацию результатов измерения. Механизм 14 перемещения стекла

непрерывно или ступенчато по заданной программе перемещает стекло перпендикулярно подающему на него световому потоку. При этом устройство осуществляет последовательное определение

качества отжига всех участков контролируемого образца сте.кла. При контроле движущейся ленты стекла предложенное устройство может работать без механизма перемещения стекла,

Формула изобретения

Система для контроля качества отжига стекла, содержащая мирру, установленную между осветителем и колл матором, объектив и светоприемник, отличающаяся тем, что, с целью повышения качества -контроля, она снабжена устройством измерения временного интервала, пороговым блоком, детектором, фильтром и электродвигателем, причем светоприемник подключен ко входу фильтра, выход которого соединен с одним из входов детектора, другой вход которого соединен с пороговым блоком, выходы детектора подключены к соответствующим входам устройства измерения временного интервала, а мирра выполнена с радиально расположенными штрихами и эксцентрично установлена на валу электродвигателя ,

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Лвторское Свидетельство СССР 4036.34, кл. С 03 В 27/00, 1971,

2. Справочник по производству стекла ,т.1, М., Госстройиздат. 1963 с,289.

Похожие патенты SU642263A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ОБЪЕКТИВА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1995
  • Богданова Татьяна Львовна
  • Васильев Леонид Иванович
  • Верещагин Владимир Павлович
  • Гаврилов Алексей Александрович
  • Каряки Вадим Георгиевич
  • Колядинцев Владимир Алексеевич
  • Мазяркин Виктор Владимирович
  • Остапчук Валентин Петрович
  • Попов Олег Олегович
  • Савич Наталья Васильевна
  • Сорока Владимир Васильевич
  • Тухов Андрей Александрович
RU2078360C1
Фотоэлектрический счетчик дисперсных частиц 1979
  • Смирнов Владимир Владимирович
SU857812A1
Устройство для контроля качества формования стекла 1983
  • Бялик Анатолий Аврамович
  • Золотковский Борис Семенович
  • Кадлец Сергей Иосифович
  • Меньшов Владимир Николаевич
  • Лозинский Виктор Евдокимович
  • Медведев Борис Алексеевич
  • Плехов Александр Викторович
SU1131837A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕТКИ НА ДИСКЕ ИНДУКЦИОННОГО ЭЛЕКТРОСЧЕТЧИКА 1992
  • Оранский Л.Г.
  • Кокарев А.С.
RU2010161C1
Частотный способ измерения дальности с измерением частоты биений голографической измерительной системой 2021
  • Габриэльян Дмитрий Давидович
  • Демченко Валентин Иванович
  • Караваев Сергей Вячеславович
  • Мусинов Вадим Михайлович
  • Прыгунов Александр Германович
RU2765727C1
УСТРОЙСТВО для АВТОМАТИЧЕСКОЙ ЛИЦОВКИ тонких 1973
  • Авторы Изобретени Г. Б. Соскин, Г. В. Данилов, А. Г. Лев, М. Н. Шнайдер, Ю. А. Сергеев, А. М. Стрищенко Г. В. Кобищанов Витель
SU360986A1
Рефрактометр 1982
  • Карабегов Михаил Александрович
  • Комраков Юрий Ильич
  • Хуршудян Сергей Азатович
  • Погосов Георгий Георгиевич
  • Кантере Карен Виленович
  • Кузнецова Ирина Сергеевна
SU1061005A1
РЕФРАКТОМЕТР 1992
  • Пеньковский А.И.
  • Петрановский Н.А.
RU2049985C1
ДАТЧИК ПЕРЕКОСА УТКА ТКАНИ 1967
SU202865A1
Способ автоматического контроля шахтных устройств визуализации и стенд для его осуществления 1988
  • Гейхман Исаак Львович
  • Гвоздев Сергей Михайлович
  • Богомолов Алексей Алексеевич
  • Назаров Владимир Иванович
  • Онищенко Александр Михайлович
  • Янин Анатолий Петрович
SU1559140A1

Реферат патента 1979 года Система для контроля качества отжига стекла

Формула изобретения SU 642 263 A1

Фиг.111

.

liliM

Л/

Л.

11

SU 642 263 A1

Авторы

Бялик Анатолий Аврамович

Кадлец Сергей Иосифович

Даты

1979-01-15Публикация

1976-10-14Подача