I
Изобретение относится к области технической физики и предназначено для использования в спектральных приборах для проведения спектрофотометрических анализов.
Известны спектрофотометрические камеры, содержащие отсчетные ме анизмы и оптические элементы l, 2
Наиболее близким техническим решением к данному изобретению является спектрофотометричаская камера, содержащая и сточн ик , из ну чё нйя, фотопр ие мник, отсчетные механизмы и оптические элементы, образующие измерительную спекгрофотометрическую систему 3J,
Однако известное устройство имеет ограниченную точность измерения коэффициентов отражения за счет высоких светопотерь, неточностей кинематической схемы и отсутствия возможности перемещения фотоприемника относитепьно образца.
Цель изобретения - повышение точности измерения.
Это достигаетса тем, что предлагаемая спектрофотометрическая камера снабжена дифференциальным механизмом состоящим из водила, це ггрального колеса и двух сателлитов, на одном из которых установлен фотопрнемник, причем; указанный сателлит выполнен с числом зубьев, равным числу зубьев ценграпьного колеса.
На фиг. 1 представлена оптико-кинематическая схема механизма описывае мой спектрофотометрической камеры; на фиг. 2 - спектрофотометрнческая камера, общий вид;,на фиг. 3 - то же, вид сверху.
Устройство содержит анализируемые образцы 1, 2 и 3, крышку 4, маховнчок 5 поворота водила, щестеренчатые колеса 6,7 и 8, маховичок 9, шестеренчатые колеса 10 и 11, центральное колесо 12, сателлиты 13 и 14, фотоприемник 15, который перемещается при помощи маховичка 9, спектральную щель 16, объектив 17, корпус 18. При этом ct угол падения лучей на анализируемые
образцы; f,. 5, 4 У поворота фотоприемника при иэмеренни многократного отрадсений а, б, в, г различные положения фотопрнемника н элементов оптико-кинематической сжемы.
Юателпит 13 служит для попучення требуемого направпения вращения сателлита 14 относительно центрального колеса 12. Чнспо зубьев сателлита 13 определяется из габаритных соображе- НИИ, Число зубьев центрального колеса равно числу зубьев сателлита 14,
Оптико-кинематйческая схема устройства рассчитана на три последовател ных отражения параплепьного пучка лу чей от образцов 1, 2 и Зи направления их в задат10й поспедовательности на окно фотолриемника 15,
Измерение интенсивности излучения З падающего на образцы, осуществляется в положении фотоприемтжа 15а при выведенном из хода пучей, путем опускания вниз, образце 1, При намерении интенсивности .отраженного света 3 образца 1 последний вводится в ход лучей, а фотоприемник при помощи маховичка 5 перемещается в положение 156
Абсолютное значение коэффициента отражения находится из отношения
величин 3j, / 3(5 . Аналогичным образом измеряется интенсивность отраженного света от образцов 2 и 3,
Коэффициент пропускания находится
tta отношения величин 3,. /З, где 3 интенсивность света, прошедшего через образец 1. В 8ТОМ случае образец уотанавл1шается под углом падения 90 к падающему пучку лучей
Относительный козффишент отражения образца 1 находится из отношения интенсивностч отраженного от него света 3 р в положении фoтoпpиeмJiикa 156 к интенсивности отраженного света D Y. от зеркальной пластинки с известны м абсолютным коэффициентом отражения, помещенной на месч-о образца 1 Для образцов 2 и 3 относ(1тельньгй
коэф41ициент отраженю находится ана- ЛОГ1ГЧНЫМ образоки
В случае многократного отражения при введении в измерительный канал образца 2 интенсивность падающего излучения Од измеряется в положении фотопркемника 156 при выведенном из пучка яучей образце 1. Интенсивность двукратного отражения 6 3 , попучен- ного путем двух последовательных отражений от образцов 1 и 2, измеряется в положении фотоприемника 15в. Прк введении в измерительный канал образца 3 интенсивность трехкратного отражения 0, измеряется путем установкн
1, Э
фотоприемника в положение 15г, Длш положений фотоприемника 156 и 15г параллельный пучок лучей изменяет ход направлении на 18 О -2 оС , поэтому маховичком 9 фотоприемниж 15 также рааворачавают на этот угол.
Таким образом, при однократной уотановке в камере нескольких образцов можно последовательно во времени без нарущенкя вакуума производить несколько операций.
Формула изобретени Спектрофотометрическая камера, со- держащая источник излучения, фотопри- емник, отсчетные механизмы, образующие измерительную спектрофотометричео кую систему, отличающаяся тем, что, с целыо повышения точности измерения, она снабжена дифференциальным механизмом, состоящим из водила, центрального колеса и двух сателлитов, один сателлит выполнен с числом е(убьев равным «1ислу бьев центрального колеса, и на нем установлен фотоприемник.
Источники информадви, принятие во внимание при экспертизе:
1, Симадзу Хёрон, CtlimC3dzg Rev1973, № 2-3, с. 95-104 Япония.
2,Патент США № 3542482, кл/ 356-244, 1970.
3,Авторское свидетельство СССР № 411356, кл. Q 01 N 21/48, 1974.
16 It f //
.i
17
fff
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Спектрофотометрическая камера | 1977 |
|
SU714172A1 |
Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка | 1987 |
|
SU1441209A1 |
Устройство контроля качестваКРиСТАлличЕСКиХ лиНз | 1978 |
|
SU836764A1 |
Устройство для определения коэффициента отражения диффузно отражающих объектов | 1986 |
|
SU1427249A1 |
Устройство для контроля шероховатости зеркальных поверхностей | 1982 |
|
SU1046611A1 |
Способ измерения коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения зеркал | 1980 |
|
SU868375A1 |
Устройство для контроля толщин пленок в процессе нанесения оптического покрытия испарением в вакууме | 1976 |
|
SU555278A1 |
Микроспектрофотометр | 1978 |
|
SU697836A1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ ПЕРЕМЫЦЕНИЙ ОБЪЕКТА | 1973 |
|
SU407185A1 |
Способ определения радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство для его осуществления | 1988 |
|
SU1562691A1 |
Авторы
Даты
1979-01-15—Публикация
1977-02-09—Подача