Способ контроля качества изготовления оптического узла электронно-лучевого прибора Советский патент 1979 года по МПК H01J9/42 

3

из источника света 2 и линзы 3. Луч света пГр-оходйт через противоореольный диск 4. имеющий непрозрачную маговую цилиндри-. ческую поверхность, клеевой слой 5, входное окно 6 плюмбикона, -фотослой (мишень) 7.Детали .4-6 могут иметь дефекты 8, например пузыри.

На фиг. 2 показан ход лучей, поясняющий появление теневых пятен различной формы.

Предположим, что в клеевом слое 5 имеются дефекты: шаровой 9 и плоский 10 пузыри,

Микроскоп и система подсветки располагаются по отношению к плоскости входного окна таким образом, чтобы угол падения света и угол наблюдения были бЛизкиЛ1И, равными по величине для ycтpa ШйГйя попадания в поле зрения визирного прибора зеркальной составляющей (блика) при отражении света от наружной поверхности йротивоореольного диска. В данном случае угол наблюдения а , и угол подсветки оа выбраны экспериментально с учетом величины переднего отрезка микроскопа, обеспечивающего резкое изображение всей контролируемой поверхности при 1аблюдении ее под данным углом, и толщины прОтивоореольного диска, при которой его боковая цилиндрическая поверхность минимально виньетирует наблюдаемук площадь.

При подсветке возможные дефекты (пузыри, посторонние предметы в клеевом слое) дают тени на мищени плюмбикона, которые хорошо просматриваются как темные пятна на освещенном фоне. Если технология изготовления электроннолучевого прибора такова, что фотослой (мишень) наносится в последнюю очередь, то в плоскость фокусировки можно временно ввести экран, на котором дефекты подсветки такие же, как и на мищени.

ТенёвЬё пяТйо в зависимости От размеров пузыря будет иметь форму либо темного кольца, либо темной точки. Если пузырь имеет форму шара, т. е. если его диаметр меньIfiF-ИЛИ равен толщине клеевого слоя, то тень отнего на мишени будет видна в виде темной точки. Если пузырь имеет форму

646382

сплющенного тара, то теневое кольцо проецируется в виде темного кольца (фиг. 2).

Предлагаемый способ контроля по сравнению-с существующими обеспечивает: а) проведение предварительной отбраковки оптических узлов прибора до его сборки, что позволяет получать готовые приборы без дефектов;

б)более качественный контроль при низКйх уровнях Подсветки, не влияющих на

светотехнические параметры прибора. Например, при контроле входного оптического узла плюмбикона при безопасных уровнях подсветки для материала его мишени (400лк) обеспечивается практически 100%-ная отбраковка.

в)отбраковку оптических узлов по дефеКтам независимо ciT того, где локализован этот дефект, поскольку дефекты создают -структурную помеху в виде тени на изображении, проецируемой объективом телевизионнои камеры.

Формула изобретения

Способ контроля качества изготовления оптического узла электроннолучевого прибора, включающий визуальный контроль дефектов, создающих паразитные сигналы на .изображении в виде темных и светлых пятен, отличающийся тем, что, с целью обеспечения предварительного контроля дефектов оптического узла до его монтажа в прибор и увеличения чувствительности, . визуальный контроль проводят с помощью микроскопа и системы подсветки, расположенных под углами 16-15° к оси входного окна, не равньшн между собой, путем фокусировки микроскопа в плоскость изображения передаваемого объекта с одновременной ее подсветкой и наблюдают дефект по тени, отбрасываемой им на плоскость изображения .,

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР № 257035, кл. Н 01 J 9/20, 1967.

2.Кривошеев М. И. Основы измерителъной техники. М., «Связь, 1976, с. 96-97.