Способ измерения спектральной отражательной способности поверхности Советский патент 1979 года по МПК G01N21/02 

Изобретение относится к области исследований материалов с помощью онтнческих методов путем поглощения потока излучения и может быть использовано для измерения спектральной отражательной способности поверхности. Известен способ определения отражательной способности, заключающийся в сравнении падающего на образец и отраженного лучистых потоков. Однако абсолютные измерения коэффициента отражения в этом сл}чае не могут быть выполнены с точностью выще 0,1%, при этом для достижения такой точности предъявляются жесткие требования к проведению измерений. Использование относительного метода измерения путем сравнепия с поверхностью с известным коэффициентом отражения не приводит к с)ществениому увеличению точности. Наиболее близким по своей технической сущности является способ, в котором исследуемый образец помещается в термостабилизированную камеру и облучается излучекием требуемого состава. Часть излучения поглощается поверхностью образца, отраженный лучистый поток - специальным экраном с высоким коэффициентом поглощения, а рассеянное излучение - камерой И подставкой, на которой закреплен образец. Измеряются температуры образца, экрана и подставки, затем лучистый поток перекрывают заслонкой и с помощью нагревателей на образце, экране и подставке устанавливают температуры такие же, как и при нагреве излучением, и измеряют мощность, затрачиваемую на нагрев. Коэффициент поглощения рассчитывают по формуле + эк где «об- мощность, затрачиваемая па нагрев образца; со эк - мощность, затрачиваемая на нагрев экрана. Основным недостатком способа является сложность определения тепловых потерь от образца. Способ трздоемок, связан с большим числом очень точных измерений, ограниченных временными интервалами. Ие удается достаточно точно воспроизвести поле температур образца и экрана при замене нагрева излучением нагревателями, поэтому появляются дополнительные погрещности, величину которых даже трудно оценить.