Устройство для группового испытания мощных полупроводниковых приборов Советский патент 1979 года по МПК H05K13/08 

ния мощных полупроводниковых приборов, сбдёржашее теплоотвод с посадочными гнездами, охлаждающими каналами и контактный узел, снабжено электроттэоляцион Нбгм кольцом, размещенным на теппоотвоШ7 й У ругИ«й захватами, распбпоженныi B tfS f адёктрййзйпяциошд о кбйьиа е |ЙЬст6яниём 1угёжду ними, превышающим Ширину электродов полупроводниковых приборов. В корпусе контактного узла расположены подпружиненные контакты, смёШенные относительно захватов на угой .45°. На фиг. 1 показано предложенное уст ройство с ьднйм контактным УЗЛОМ, сечение вертикальной плоскостью; на фиг. 2 Час 6 тШл6огЁбДа с пЬсадочным гнездом И испытуемым прибором. Устройство содержит теплоотвод 1 с резьбовыми осадочными гнездами 2, в которые устайавливаюг полупроводниковые приборы 3 с электродами 4. Для протока хладагента в гёплоо воде выполнены охлаждающие каналы 5. На теплоотводе 1 соосно с гнездами 2 жестко закреплено .электроизоляционное кольцо 6, имеюшее воЬемь прямоугольных пазов 7 для четырех упругих захватов 8, расположенных на цилиндрической втулке 9 под углом 9 О друг к другу. С помощью втулки 9 и винтов 10 соединены верхняя 11 и нижняя 12 4i3c:№ корпуса контактного узпа, в который вмонтированы контакты 13 с пружинами 14 и щтырями 15. В корпусе контактного узла также вьшолнено отверстиедля монтажа жгута 16 электропроводов, закрепленного винтом 17. Для поджа тия упругих захватов 8 накорпусе установлена втулка 18. -. Установка прибора на испытания и под ключение к контактному узлу осушесгвляются следующим образЬй. . ; Испытуемый прибор 3 с помощью резь бового хвостовика закрепляют на теплоог воде 1, при этом электродь за:,нимать на плоскости кольца 6, произволь ное по, отнощению к пазам 7 положение, Ширина каждого электрода 4 такова, что если они окажутся между пазами 7, то все/ восемь пазов будут открыты (см. пунктир на фиг. 2). Если же электроды перекроют полностью или частично четыре из восьми пазов 7, тб четглре других паза будут свободны. ПошслюЧ€8НИе. контактного узла к элект родам 4 прибора 3 производят следующим образом. Берут контактный узел и, передвигая втулку 18, отжимают упругие захваты 8 к центру. После этого контактный узел нижней частью 12 корпуса прижимают к кольцу 6 так, чтобы коллекторный электрод транзистора и маркировка на торце верхней части 11 корпуса совпали по направлению, а захваты 8 вощли в свободные пазы кольца 6. При этом контакты 13 за счет сил сжатия пружин 14 прижимаются к электродам 4 прибора 3. Затем втулку 18 перемещают вверх, вдоль оси, тем самым освобождая захваты 8, которые входят в контакт с наружной стенкой Пазов 7, обеспечивая надежное крепление контактного узла на кольце 6. После установки испытуемого прибора 3 и контактного узла на теплоотводе через каналы 5 пропускают хлацагент и ведут испытания. Форму и размеры торцов контактов 13 выбирают такими, чтобы даже при расположении электродов 4 прибора 3 между пазами 7 наименьщая площадь контактирования) обеспечивался надежный контакт. Для отсоединения контактного узла втулку 18 перемещают вниз вдоль оси, при этом захваты 8 сдвигаются к центру и под действием пружин 14 контактный узел отходит от кольца 6. Формула изобретения Устройство для группового испытания мощных полупроводни1ювых приборов, со держа1йеё теплоотвод с посадочными гнездами, охлаждающими каналами и контак-гный узелг о тличающееся тем, что, с целью повыщения надежности и сокращен;ия времени испытания приборов, .оно снабжено электроизоляционным коль цом, размёщенным на теплоотводе, и упругими захватами, расположенными в элёКТТ50из6л:яционного кольца, расстояние Между которыми превышает ширину электродов полупроводниковых приборов, причем is корпусе контактного узла расположены подпружиненные контакты, сме Шенньге Относительно захватов на угол 45°. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Патент США N9 3715632, кл. 317-234, 1973. 2 Заявка Франции № 2086334, кя. Н 01 L 1/00, 1971.