Двухканальный дефектоскоп Советский патент 1979 года по МПК G01N27/86 

(54) ДВУХКАНАЛБНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к области средст 3 неразрушающего контроля и может найти применение при дефектоскопии ферромагнитных материалов и изделий.

Известен двухчастотный дефектоскоп, содержащий генератор высокой частоты, генератор низкой частоты, селективный усилитель, вихретоковый дифференциальный преобразователь, измерительную схему и индикатор, предназначенный для контроля поперечных и локальных дефектов ферромагнитных изделий 1.

Однако точность контроля таким дефектоскопом недостаточна, так как в нем имеется только один информационный канал, в который ноступают сигналы от различно ориентированных дефектов, что вызывает перебраковку изделий с поперечными дефектами 1Н пропуск изделий с продольными дефектами.

Наиболее близким техническим решением к изобретению является двухканальный дефектоскоп, содержащий два генератора, настроенные на высокую и низкую частоты, преобразователь, два селективных усилителя и два выходных блока, выходы генераторов соединены с возбуждающими обмотками преобразователя, сигнальная обмотка которого соединена с входами усилителей 2. Однако этот дефектоскоп обладает недостаточной эффективностью ц точностью при контроле различно ориентированных дефектов.

Целью изобретения является повышение эффективности и точности контроля различно ориентированных дефектов.

Для этого пр.е,длагаемый двухканальный дефектоскоп снабжен двумя одинаковыми стробирующнми каналами, входы которых подключены к выходу генератора низкой частоты, каждый канал выполнен в виде посл1едовательно соединенных фазового задатчика строб-импульса, генератора строб-нмпульса и электронного ключа, сигнальный вход которого соединен с выходом усилителя, а выход - с выходным блоком.

При этом по одному каналу стробируется огибающая первой гармоники высокочастотного поля в момент максимума синусоидального низкочастотного возбуждающего поля, а по другому - огибающая второй гармоники высокочастотного поля в момент перехода амплитуды низкочастотного пола через ноль (район максимальной магнитной проницаемости). Выбор первой и второй гармоник высокочастотного возбуждающего поля в качестве информативных переменных обоснован теоретическими и экспериментальными исследованиями, подтвердившими высокую чувствительность первой

гармоники к иродольным дефектам, а второй - к поперечным. Применение стробирования обеспечивает наиболее оптимальный режим съема полезной информации по измерительным каналам, повышает их помехозащищенность, так как в отсутствие стробирующих сигналов в,ходы выходных блоков закрыты электронными ключами и вероятность ложного срабатывания сводится к минимуму.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит генератор / высокой частоты, генератор 2 низкой частоты, преобразователь 3, селективные усилители 4 и 5, стробирующие каналы , выполненные каждый в виде последовательно соединенных фазового задатчика 8 или 9 стробимпульса, генератора 10 или // строб-импульса и электронного ключа /2 или 13, и выходные блоки 14 .и 15. Генераторы / и 2 подключены к возбуждающим обмоткам преобразователя 3, сигнальные обмотки которого соединены с входами усилителей -/ и 5. Выходы усилителей 4 5 соединены соответственно с сигнальными входами электронных ключей 12 и 13, управляющие входы которых соединены с выходами строжрую1щих каналов 6 и 7. Каждый стробирующий канал подключен входом к выходу генератора 2. Вылоды электронных ключей 6 ,и 7 соединены соответственно с входами выходных блоков 14 и 15.

Устройство работает следующим образом.

Генераторы / и 2, своими выходами подключенные к возбуждающим обмоткам преобразователя S, создают в нем сложное поле двух частот, которое в силу нелинейного взаимодействия с контролируемым изделием индуцирует в измерительных обмотках преобразователя 3 сигнал, спектр которого содерЖ1ит высшие гармоники высс;кочастотного лоля. С измерительных обмоток преобразователя 3 сигналы поступают на входы усилителей 4 и 5, где усиливаются и проходят на сигнальные ключей 12 и 13, на управляющие входы которых поступают строб-импульсы с временным положением, заданным фазовыми задатчиками S и 9 каналов 5 и 7. На время действия стробов-импульсов, выработанных генераторами 10 и 11, ключи 12 и 13 открываются и на RX выходах появляются сигналы первой гармоники (например, на выходе

ключа 12} или второй гармоники (например, на выходе ключа 13) высокочастотного возбуждающего поля, которые поступают на входы блоков 14 и 15, где усиливаются, детектируются, преобразуются и поступают на ил индикаторы.

На выходном индикаторе, например, блока 14, канал которого настроен на первую гармонику высокочастотного поля, появляется информация о продольных дефектах, а на выходном индикаторе например, блока 15, канал которого настроен на вторую гармонику - информация о поперечных дефектах.

Таким образом, предлагаемый дефектоскоп позволяет повысить точность и эффективность контроля благодаря раздельному обнаружению поперечных и продольных дефектов, повысить помехозащищенность за

счет стробирования Момента съема полезной информации и определить тин дефекта.

Формула изобретения

Двухканальный дефектоскоп, содержащий два генератора, настроенные на высокую и низкую частоты, преобразователь, два селект1ивны1х усилителя и два выходных блока, выходы генераторов соединены с возбуждающими обмотками преобразователя, сигнальная обмотка которого соединена с входами усилителей, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности и точности контроля различно ориентированных дефектов, он снабжен двумя одинаковыми стробирующими каналами, входы которых подключены к выходу генератора низкой частоты, каждый канал выполнен в виде последовательно соединенных фазово..

го задатчика строб-импульса, генератора строб-импульса и электронного ключа, сигнальный вход которого соединен с выходом усилителя, а выход - с выходным блоком.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе;

2.Авторское свидетельство СССР № 191196, кл. G 01 N 27/86, 1965.