На фиг, 4 изображена схематически щель микрофотометра и положение иятна иочернения для определения его диаметра, где d - диаметр иятна иочериения, / - длина щели, b - щирина щели микрофотометра.
На серии злектроиограмм (фиг. 1) наглядно представлено увеличение площади пятна с ростом экспозиции. Основным существенным признаком известных способов измерения относительной интенсивности электронных пучков является измерение илотиости почернения под действием излучения. В иредлагаемом способе определение относительной иитенсивности электронных пучков ведут по изменению площади почернения фотоматериала иод действием излучения. В случае рефлексов, имеющих центральную симметрию, илощадь иятна почернения пропорциональна квадрату его диаметра. Ноэтому практически возникает задача измерения диаметра пятна почернения.
Для этого исиользуется микрофотометр с постоянной длиной и шириной щели. Если щель длиной I перекрывается полностью непрозрачным участком с резкими границами диаметром d, то коэффициент пропускания K()/l или, измерив величину пропускания на микрофотометре со стандартной. щелью, можно определить эффективный диаметр рефлекса, имеющего нечеткие границы пропускания по минимальному коэффициенту dэфф (I-k)l (см. фиг. 4).
По измеренным таким способом диаметрам строят графики изменения диаметра в зависимости от экспозиции для различных рефлексов (фиг. 2). Построение обобщенного графика (фиг. 3) производят путем смещения по оси X до совпадения общих участков кривых, показанных на фиг. 2. Относительную интенсивность рефлексов определяют по значениям диаметров пятен почернений и соответствующих им значений
flog а (1П d, - og(/.)d,j
/.//.
где а - основание логарифмов соответствующее выбранной кратности экспозиций (в данном примере а 2).
Пример. Определение относительной интенсивности рефлексов по электронограммам монокристалла талька.
На фиг. 1 приведена серия фотографий участка электронограммы талька, снятая с экспозициями, обеспечивающими почернение фотоэмульсии больще 2, и с коэффициентом кратности экспозиций равным 2. Фотометрирование с целью определения эффективных диаметров пятен почернений проводится со щелью, имеющей размеры: длина щели / 18 мм, щирина щели В 0,1 мм, при оптическом увеличении негатива микрофотометром в 6 раз. Размеры й(елк, приведенные к плоскости негатива, при этом составляют / 3 мм, В 0,015 мм. Длина щели определяется минимальным расстоянием между рефлексами 3,3 мм.
Данные измерений и результатов сведеиы в таблицу.
| название | год | авторы | номер документа |
|---|---|---|---|
| Устройство для обработки спектросенситограмм | 1982 |
|
SU1116328A1 |
| Способ определения добротности излучателя ультразвука | 1977 |
|
SU678725A1 |
| СЕНСИТОМЕТР | 1939 |
|
SU60389A1 |
| Фотометр | 1984 |
|
SU1296848A1 |
| Фотокомпенсационный преобразователь плотности почернения негатива в логарифм интенсивности светового потока | 1979 |
|
SU902034A1 |
| Микрофотометр | 1959 |
|
SU131112A1 |
| Способ анализа ионов и продуктов их нейтрализации | 1986 |
|
SU1426344A1 |
| Микрофотометр | 1975 |
|
SU826201A1 |
| Способ определения химического состава поликомпонентных минеральных веществ | 1977 |
|
SU763697A1 |
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СТЕПЕНИ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ КОГЕРЕНТНОСТИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2003 |
|
RU2234064C1 |
К-коэффициент;
d-эффективный рефлекс.
По данным измерений построены графические .зависимости (It) (фиг. 2) для восьми рефлексов различной интенсивности, по которым построен обобщенный график зависимости диаметра пятна почернения от экспозиции (фиг. 3). Относительная интенсивность определяется для каждого
рефлекса относительно самого сильного по разности значений log(/) для соответствующих диаметров.
Пример. На электронограмме 4t (фиг. 1) йэффог 0,93 мм и эффо4 0,54 мм. По кривой (фиг. 3) этим диаметрам соответствуют значения логарифмов og(It)dQ2
5,8, og(tt)4o 4,4, по разности логарифмов определяется отношение интенсивности рефлексов /о2//04 2(15.)214 2,б4.
Использование предлагаемого способа фотографического определения относительной интенсивности электронных пучков позволяет производить измерение относительной интенсивности электронных пучков повышенной энергии в дифракционных картинах, используемых в структурной кристаллохимии; упрощается процесс определения относительной интенсивности.
Формула изобретения
Фотографический способ определения относительной интенсивности электронных пучков, основанный на регистрации следа
-ъ
Ои 01 DV ог 00 ог 0 ов
пучка электронов g виде пятен почернений фотоэмульсий с последующим фотометрированием, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона, фотографирование производят с экспозицией, при которой почернение пятна на фотоэмульсии достигает величины более 2, а относительную интенсивность электронных пучков определяют по изменению площадей пятен
почернения.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
2t
ф
t
«
St
1st
фиг.1
нн
TOgf Л
