Ионизационная камера для измерения активности радиоактивных источников Советский патент 1984 года по МПК H01J47/02 

Описание патента на изобретение SU673076A1

Изобретение относится к области радиометрии и может быть и;0поль ЭгО1Ва Йля абсолютных измерений актйвйо ти или мощности внешнего йзл;уЧёния (если не известна схема распада) ра диоактивных источников гакша-кванто Известна ионизационная щелевая к мера, «збстоящая из двух конц1§й1рйче кй расйбложеШых электродов оцель между которыми елузкит йбнизаци онным объемом. Источник помещен в центре внутреннего пара. Чувствительность А/Ки этой камеры опреде ляется формуло 4 . .MO .njV(i -oije 1 - ток камеры, А; А - активйрсть источника, Ки; П - числогамма-квантов с энер гйейпт/) да на один распад; (U,y - линейный коэффициент истин , ного псзглседения энергии гамма-иэлучения, 1/сМ; ( - линейный коэффициент ослаб ления, 1/см; IT, - доля энергии втЬрйчных ; эйёктройвй, за:гра 1Ша ёШ:я на ионизацию; ..-,:.. „;;-. , ; . толщина стенки внутреннего электрода, см; di - ширина йониэа:цноннрй ще, ли, см; .-...:;..л;-:..Г:;-:...;.,. .-. f - отрО111ение линейных тормож7 - НЕЙС способностей материа-, ла электродов и газа; 4U - энергия ионообразования,В. рсновньш.нёйосТаткрм этойкамеры являётся большая погрешность измерения, склаДЁйвающаяся из погрешностей , 0 «ojJia 2%, cAjj л 1,5%, , 2% По технической и физическойсущности наиболее близкий предлагаемому изобретений яйЛйётся квантомётр дад измерения :а1 тивнойтй 1 аййсш№йв1НЫХ источников, представляющий собой набор чередующихся сферических, ёЫсоковольтных и собирающих электродов Т дгттсщшощих всю энергию излучения, разделенных ионизационньЬ 1И щёлями; причем щель расположёна на ;глубине U/2 ( +1) материала и имеет толщину, пропорциональную а , где Ц - суммарная толщина электродов; fj,- абсцисса формул численного ин- ёГрИрованйя; : вес 1с-ой ординаты. .основным недостатком опасаннсэго устройства является 1евысЪкая точ-. йость измерейия активйостй ёГеточников, излучениекоторых сострит из квантов в ширрком диапазоне энергий поскольку, чтобы обеспечить йаксй--. Maiibrioe поглощение жестких компонент излучения квай РМёТ1Ёг;1тчзт ии| из матёрйалов с большим ат6мным номером 2 и толстыми пластинами, в этом случае вей энергия мягкИх коМПРнентпоглоцаецся в 1-2 первых пластинах, чтР приводит к болышрй ошибки в замене интеграла суммой в выражении (2) для кёантов малых энергий. Цель изобретения - увеличение . трчнрсти измерения и расширение диапазона энергий измеряемых гамма-из лyчeния. . Указанная цель дости гается тем, что Внутренние электроды выполнены из материала, имеющего меньший коэфФицием.т ослабления, чем материал . йнешних/электродов, а Переходной электрод имеет толщину брльше макёимальнргб .пррбёга вторичных электродрв., ;. ,;;;; ; . ..-- . На п ёдставлено предлагаемое устройство, сечение. . По оси сечения изображены высоковольтные электрода 1/ собирающие электроды 2, ионизационные щели 3, переходной электрод 4 и источник 5 излучения. Устройство являетсямногоа елевой сферической ионизационной камерой, на все н четцые электроды подается высокоенапряжение, все четные собирающие йлёКтроды из одного материала элект| иЧес5ки соединены между с6брй. Из1 6ряйТсЯ суммарные ионизационнйе трки со всех щелей каждого из материалов. Описанное устройство работает следующим образом.. Согласно Принципу Брегга-Грея удельная объемная моцнрсть Р Вт/м излучения, поглощенная в веществе йогЗютителя связана с удельной объемной ионизацией ЬуА/м в газовой поЯР&тй соотношением . fw i , ЕслЬ исГс дайк помещен в центр сферической полости в поглртитеяе из двух материалов, так что выбором размеров поглотителя обеспечено практически пблйОе ЙРТЯ Р14ение всего излучения источника, тогда мощность внешнего излучения источника определяется выражениемVli2Jrii j 1- Лт061бйУх V,V2 0 О о о+Ц+Чг/г /т iy Sin9d6c3 olr .V4 .0 о где V и U- - объем и толщийа поглотителя из материала с ; кЬэффициентом поглсяце-. - . / ния V2 и L, объем и толщина погло из материала с коэффициент поглоще.) .: ... - .„..™. , i. : - ..-: - -л TO - радиус внутренней п лости; - сферическая координ (Г 7. li-v sin6cI0d4 i( Поскольку , .- -W V А/м - ток из сферической щели ед ничкой толишны радиуса 4 , то по чим , , ; . : VU,tl,2 fj iHdr- f2J iH Д,Л2 Известны формулы приближенцог численного интёг жрования функци на отрезке от 1 до +2, например Гауссаг. - I h ; , |г(,л(,) , .(4): , -I -v , . где а - веса; 1с абсциссыг п - число узлов в формуле тегрирования, Интегратол J и j в (3) свс ся к (4) заменой переменных ( ( . - -1 . соответственно: /VU., /, и.,..|.(9 (.l -o/ r-j ц 4{-J-lflc l oli t( :Za.ifi Vi-i ) Имеем для PI следовательно, P.,.((V))) Из выражения (5) следу1ет, что если в каждом из материалов lk-ая щель расположена на глубине i./2 ( где . U - тЬлщйна рассматриваемого териала и имеет при этом ширину то на (5) имеем о CiV-(l 2.2 (Щ 1, f- И ш- J M-feS ) . е - сумма токов всех щелей первого материа- Ш 3,i;: - то же, второго. . 1 Ч Переходной высоковольтный электрод выполняется ив обоих материалов как.единый высоковольтный электрод, приче1у1 толщина каждого из материалов должна быть больше пробега вторичных электродов в этом материале, Чтобы в щелях не нарушалйсб условия Применимости теория Брига-Грея. Параметр д может быть разным для обоих материалов и выбирается из конструктивных соображений. Зазоры не должны быть менее 1 мм чтобы неточность изготовл(эния не вносила оишбки в величину измеряемого тока, но и не более 10 мм, чтобы выполнялись УСЛОВИЯ применимости теории Брига-гГрея. Активность .источника по измеренным токам J и Jj квантОМетра вычисляется по формуле. .(fAjVfah / л л тл . . 2лЙ-3,7.10 )j . Для примера, оценим возможность измерения активности изотопа, измеряющего две линии: 80 кэВ и 0,7 МэВ. (,41 1/см и 0,623. 1/см в Си и |U.1,65 1/сМ и 0,327 1/см в Ti) соответствующие самой мягкой и самой жесткой компонентам излучения йода-131. . Из условий ТОЧНОСТИ изготовления в зйесткости конструкции минимально возможная толщина первого медного электрода равна примерно t. 2 мм. После прохождения такой толщины от энергии магкой компоненты остается доля, примерно равная , 0,7 Q 28. Такое, сильное ослабдение до первого зазора не может обеспечить хорошей точности. Даже если вся то.пщина меди L 6,0 см, определенная из условия поглсадения 98% энергии жесткой компоненты разбита на 30 электродов по 2 мм толщиной (изготовление акой системы представляет очень большие трудности и приближенное интегрирование кривой осуществляется по формуле парабол Симпсона, то сяшибка измерения энергии мягкой компоненты составляет и 47%. Устройство, выполнёйное из одного титана, должно иметь слой поглотителя толщиной 120 мм. Это приводит к, тому, что наружный диаметр последнего электрода (с учетом радиуса .около 20-30 мм полости для ис точника и величины зазоров) равен примерно 400 мм. Изготовление таких электродов вёСьма затруднительно. устройство должно измерять и активность радия, то при том же допустимом уровне утечек жесткой компоненты 2%, наружный диаМетр эдёктродов увеличивается до 600 мм. : В качестве примера прёдшагается комбинированное устройство йэ 30 мм титана и 50 мм меди, имеющее по 4 ,/ ионизационных щёл{1 в каждой йэ материалов и обеспечивающее поглощение 98% энергий жесткой компоненты. По, скольку лля формулы rayceia чиелбй узлов fi 4 г1о, 10,861, а соответствующие веса ,652 и 0,348, имеем следукяцие тодицины элект родой, начиная от центра, мм; 2,09; 7,82; 10,20; 7,82; 2,09 (в титане); 3,48; 13,02; 13,02; 3,48 (в меди) ВШтйчййй йониз.аййЬнн&х эаз6 ргрв3( мм) составляют 3,48; 6,52, 6,52, 3,48 (в Титане); 2,48, 6,52, 6,52, 3,48 (в меди). Для такого устройства и распреде-i лени я мощности Р (х), поглощенной в слое единичной толщины, имеющего воид:, ... ... ,- . . : / . при , ( при ,. ошибка, за счет замены интеграла по толщине электродов суммой не превышает 0,5% во всем Диапазоне энер- , гий от 0,08 до 0,7 MSB. Таким образом, если в прбтотипе при толщине поглотителя, обеспечивамхцей поглоцение 98% энергии жесткой компоненты 3 счет ошибки приб- : и ённо1:О й нтегойг ования. оегистРйруется только половина энергии мягкой компоненты,в предлагаемом устрой,стве для всего диапазона энергий схийбка. ЕГё1 йс рацйи не более . 0,Ь%.

Похожие патенты SU673076A1

название год авторы номер документа
Ионизационная камера для измерения активности радиоактивных источников 1977
  • Костылева Ю.Г.
  • Мысев И.П.
  • Юрьев А.В.
SU671596A1
Устройство для измерения активности радиоактивных источников 1974
  • Костылева Ю.Г.
  • Мысев И.П.
  • Пушкарев А.В.
SU497938A1
Устройство для градуировки радиометров 1981
  • Шермаков А.Е.
  • Пушкин В.В.
SU1015763A1
Нейтронная ионизационная камера деления 1981
  • Чирихин А.Н.
  • Поликарпов В.И.
  • Никифоров Б.Н.
  • Аксенов В.А.
SU1005594A1
Блок детектирования для измерения бета- и гамма-излучения 1980
  • Арсаев М.И.
  • Лебедева М.Ф.
SU837212A1
Способ регистрации нейтронов и устройство для его осуществления 2017
  • Коржик Михаил Васильевич
  • Федоров Андрей Анатольевич
  • Мечинский Виталий Александрович
  • Досовицкий Алексей Ефимович
  • Досовицкий Георгий Алексеевич
RU2663683C1
Способ определения чувствительности вакуумных ионизационных камер 1988
  • Малышев Е.К.
  • Чукляев С.В.
SU1517574A1
СПОСОБ ИОНИЗАЦИИ АНАЛИЗИРУЕМЫХ ВЕЩЕСТВ В ИОНИЗАЦИОННОЙ КАМЕРЕ АНАЛИЗАТОРА СОСТАВА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Деринг Х-Р
RU2208874C2
Ионизационный способ определения чувствительности в процессе изготовления вакуумных камер с радиоактивным изотопом 1988
  • Малышев Е.К.
  • Чукляев С.В.
  • Починко А.П.
SU1531679A1
Способ регистрации резонансного гамма-излучения 1983
  • Родионов Б.У.
  • Чепель В.Ю.
SU1111588A1

Реферат патента 1984 года Ионизационная камера для измерения активности радиоактивных источников

Формула изобретения SU 673 076 A1

SU 673 076 A1

Авторы

Костылева Ю.Г.

Мысев И.П.

Юрьев А.В.

Даты

1984-02-07Публикация

1977-07-05Подача