(54) КОЛОННА ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Магнитная электронная линза | 1981 |
|
SU995153A1 |
Система питания магнитной линзы электронного микроскопа | 1985 |
|
SU1243047A1 |
Магнитная линза электронного микроскопа | 1980 |
|
SU924774A1 |
Устройство для стабилизации тока магнитной электронной линзы | 1981 |
|
SU1003198A1 |
Устройство стабилизации тока в электромагнитной линзе | 1981 |
|
SU966789A1 |
Устройство управления током магнитной линзы электронного микроскопа | 1982 |
|
SU1050009A1 |
ИНДУКТОРНЫЙ ГЕНЕРАТОР С СОВМЕЩЕННЫМИ ОБМОТКАМИ ВОЗБУЖДЕНИЯ И СТАТОРА | 2017 |
|
RU2658636C1 |
Высоковольтный стабилизатор напряженияпОСТОяННОгО TOKA | 1979 |
|
SU824169A1 |
Способ получения проволоки и устройство для его осуществления | 1980 |
|
SU874258A1 |
Электронно-оптическая система микрозондового устройства | 1981 |
|
SU997135A1 |
Изобретение относится к электронно-оптическому приборостроению и может быть использовано при конструировании колонн электронных микроскопов.
Известны колонны электронных микроскопов, содержащие несколько линз, Например два конденсора, объектив- ную,промежуточную и две проекционные линзы. Каждая линза обеспечивает заданную функциональным н.азначением магнитодвижущею СМ.ЛУ , ;вследствие чего размеры и конструкции окон под обмотки во всех линзах различны и не согласованы, а .для питания kaждoй линзы применяется индивидуальный источник 1 .
Однако известное устройство имеет сложную конструкцию и недостаточно стабильно , что обусловлено применением источников питания с различной стабильностью.
Наиболее близким к изобретению техническим решением является колонна электронного микроскопа,содержащая магнитные линзы, каждая из которых -состоит из магнитопровода с размещенной в его окне секционированной обмоткой возбуждения. Обмотки возбуждения каждой линзы состоят из связанных между собой секций (модулей) и питаются от одинаковых стабилизаторов тока. В данном устройстве достигаются расширение диапазона регулировки обмотки линз и снижение нестабильности токов линз Г2.
Однако это известное устройство также сложное, что обусловлено раз0личием конструкций электронных линз и их несогласованностью, оно имеет недостаточно высокую стабильность, что обусловлено невысокой ста- бильностью источников питания мощ5ных магнитных линз.
Целью изобретения является повышение стабильности работы устройства и его упрощение.
Дая этого .обмотки возбуждения
0 магнитных линз выполнены из расположенных концентрично в один или несколько слоев кольцевых обмоток-модулей одинаковой высоты, толщина модуля и диаметр среднего витка кото5рых связаны соотношением а о| причем внутренний диаметр окна равен внутреннему диаметру одного из модулей, внешний диаметр окна равен внешнему диаметру того же или боль0
шего модуля, а высота окна равна сумме высот модулей и промежутка, между их верхними и нижними слоями.
Размеры всех линз и модулей взаимно увязываются таким образом, чтобы обмотку любой линзы можно было набрать из нескольких типовых модулей. Число набираемых модулей зависит от магнитодвижущей силы линзы и будет наибольшим для объективной линзы и наименьшим для длиннофокусного конденсора, а типоразмеры модулей зависят от диаметра керна и наружного диаметра линзы
На фиг.1 приведена схема конструции устройства; на фиг.2 - сечение слоя обмотки, набранного из модулей
Колонна электронного микроскопа (см.фиг.1) состоит из нескольких магнитных линз - первого короткофокусного конденсора 1,. . второго длинофокусного конденсора 2, объектиной линзы 3, промежуточной линзы 4, дифракционной линзы 5 и проекционно линзы 6.Каждая из вышеназванных лин включает в себя магнитопровод 7 с размещенными в его окне обмотками возбуждения, состоящими из модулей 8-10.
Обмотки возбуждения всех линз набраны, например, из модулей трех типоразмеров: модуль 8 - с толщиной а и диаметром среднего витка di/ модуль 9 - с толщиной а и диаметром среднего витка da/ модуль 10 - с толщиной QS и диаметром среднего витка с/з Модули в обмотках расположены концентрично в один или несколько слоев.
Модули разных типоразмеров, выполненные в соответствии с формулой о d const , обладают одинаковыми значениями мощности, сопротивления и потребляемого тока, не связаны между собой в устройстве и запитываются каждый от одинаковых источников питания.
Таким образом, упрощение устройства достигается за счет конструктивного согласования различных i магнитных линз путем набора их обмоток из типовых с возможностью простой их замены: в процессе эксплуатации и питания модулей отдельными одинаковыми источниками тока с пониженной мощностью. Повышение стабильности работы устройства достигается высокой стабильностью источников тока низкой мощности и снижением среднестатистической нестабильности системы модулей .
Описанное устройство обладает следующими дополнительными преимуществами.
Упрощенная и более точная регулировка тока возбуждения обмотки, так как в группе источников, питающих обмотку, достаточно иметь один
0 регулируемый источник, а остальные - нерегулируемые. Простота изменения оптических характеристик линз колонны электронного микроскопа путем отключения части модулей или
с переводом их из согласованного включения к встречному. Возможность быстрого обнаружения неисправного источника питания модуля любой линзы путем поочередного подключения их к промежуточной линзе и последующего
0 наблюдения на экране электронного
микроскопа каустики в режиме микродифракции .
Формула изобретения
Колонна электронного микроскопа, содержащая магнитные линзы, каждая из которых состоит из магнитопрово0 да с размещенной в его окне секционированной обмоткой возбуждения, отличающаяся тем, что, с целью повышения стабильности работы устройства и его упрощения,
5 обмотки возбуждения магнитных линз выполнены из расположенных концентрично в один или несколько слоев кольцевых обмоток-модулей одинаковой высоты, толщина модуля и диаметр среднего витка которых связаны соотношением const, причем внутренний диаметр окна равен внутреннему диаметру одного из модулей, внешний диаметр окна равен внешнему
е диаметру того же или большего модуля, а высота окна равна сумме высот модулей и промежутка между их верхними и нижними слоями.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
5 сер.физич.,т.ХХШ, 1959, № 4, с. 450-453.
Авторы
Даты
1979-09-05—Публикация
1976-12-03—Подача