Изобретение относится к методам нераэрушающего контроля и может быть использовано в различных отраслях Мсиииностроения для обнаружения дефек тов в изделиях из ферромагнитных материалов . Ближайшим по технической сущности к изобретению является способ магнитной дефектоскопии, заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают жидкостную магниточувствительную линзу и по рас пределению ферромагнитной жидкости в поляризованном луче света судят о наличии -дефекта 1. Недостатком способа является то, что контролируемая поверхность изделия должна быть строго горизонтальна, .это усложняет процесс контро ля, не позволяет контролировать наклонные поверхности изделия. Цель изобретения - упрощение процесса контроля и повышение достоверности контроля. Цель достигается тем, что по пред лагаемому способу используют .линзу в виде двух плоскопараллельных пластин, по крайней мере одна из которых является оптически прозрачной, с раз мещенной между пластинами ферромагнитной жидкостью, а луч света направляют на линзу параллельно контролируемой поверхности изделия. Поляризованный луч пропускают через линзу в прямом и обратном направлениях, а линзу и изделие одновременно поворачивают относительно плоскости поляризации луча. На фиг. 1 и 2 приведены соответственно первый и второй варианты схем для осуществления способа. На поверхности контролируемого изделия 1 размещают магниточувствительную линзу в виде двух плоскопараллельных пластин 2 и 3, между ними размещена ферромагнитная жидкость 4, которая может уде1рживаться за счет сил молекулярного сцепления. Луч света от источника 5 света поляризуется поляризатором 6. Прошениии линзу луч попадает на анализатор 7 и фотоприемник 8. Способ осуществляется следующим образом. Луч света от источника 5 пропускают через поляризатор б паргшлельно контролируемой поверхности 9 изделия 1, пластины 2 и 3 линзы и заключенную между ними ферромагнитную жидкость 4. Прошедший линзу
луч попадает на анализатор 7, который в отсутствии линзы устанавливается на гашение света. Луч проектируется на установленный за анализатором 7 фотоприемник 8,
При размещении линзы на контро1пируемой поверхности поле рассеяния дефекта изменит поляризацию луча, изменится его интенсивность и положение изоклин.
Для более надежной индикации дефекта линзу и изделие одновременно поворачивают относительно луча света а также поворачивают линзу относително изделия, обеспечивая контрастное изображение
По положению изоклин судят о наличии дефекта, его величине и расположении . .
Для случая контроля изделия сложной конфигурации пластина 3 (фиг.2) выполнена в виде зеркала. Луч света, пройдя поляризатор 6, падает на полупрозрачную пластину 10.
Отразившись частично от пластины 10, луч попадает на жидкостную магниточувствительную линзу и, отразившись от ее зеркала, вновь проходит полупрозрачную пластину 10, попадает на анализатор 7 и фотоприемник 8,
Предлагаемый способ позволяет значительно упростить процесс контроля, не снижая его точности и надежности .
Формула изобретения
1,Способ магнитной дефектоскопии заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают жидкостную магниточувствительну линзу и по распределению ферромагнитной жидкости в поляризованном луче света судят о наличии дефекта,отличающийся тем, что,
с целью упрощения процесса контроля, используют линзу в виде двух плоскопараллельных пластин, по крайней мере одна из которых является оптически прозрачной, с размещенной между пластинами ферромагнитной жидкостью, а луч света направляют на линзу параллельно контролируемой поверхности изделия.
2,Способ по П.1, отлича ющ и и с я тем, что, с целью повышения достоверности контроля, поляризованный луч пропускают через линзу в прямом и обратном направлениях.
3,Способ по пп.1и2, отличающи.йся тем, что линзу и изделие одновременно поворачивают относительно плоскости поляризации луча.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Авторское свидетельство СССР 393665, кл. G 01 N 27/82, 1971 (прототип).
