Способ магнитной дефектоскопии Советский патент 1985 года по МПК G01N27/84 

t

Изобретение относится к неразрушающим методам дефектоскопии, а именно магнитным методам, и может быть использовано для контроля магистр.альных трубопроводов на наличи дефектов поверхйости в различных отраслях машиностроения.

Цель изобретения - повышение надежности способа и упрощение процесса контроля. .

На чертеже представлено устройство для осуществления способа.

Устройство содержит магниточувствительную линзу в виде Плоскопараллельной стеклянной пластины 1 с зеркальным неферромагнитным покрытием 2 и прозрачным ферромагнитным обладающим магнитооптическими свойствами покрытием 3. Над линзой размещают поляризатор 4, формирующий плоскополяризованный луч 5 света.

Магниточувствительная линза размещается над поверхностью контролируемого изделия 6.

Способ осуществляется следующим образом.

Луч 5 света от искусственного или естественного источника пропускают через поляризатор 4 перпендикулярно исследуемой поверхности изделия 6, оптически прозрачное ферромагнитное покрытие 3 и стеклянную пластину 1.

Пройдя через поляризатор 4, луч света поляризуется и попадает на

93566 .

ферромагнитное покрытие З. Оно вращает плоскость поляризации луча на угол 9 , пропорциональный толщине J ферромагнитного покрытия 5 3, величине Н напряженности магнитного поля перпендикулярного плоскости линзы

9 -с -2- Н„, где С - коэ(1 фициент, зависящий от

О свойства ферромагнетика.

Пройдя через стеклянную пластину 1, поляризованный луч с измененным на б углом поляризации отражается без изменения угла поляризации от

15 зеркального покрытия 2 и вторично проходит через стеклянную пластину 1 и магнитооптическое ферромагнитное покрытие 3. В качестве магнитооптической пленки могут быть использованы соединения типа железоиттриевых гранатов, обладающих ярко вьфаженным эффектом Фарадея.

При прохождении отраженного луча через ферромагнитное покрытие 3

25 происходит поворот его угла поляризации в ту же сторону и на тот же угол в .

Таким образом, угол поляризации луча при его вхождении в поляризатор 4 будет 2 9 . Поляризатор 4 в этом случае будет вьшолнять роль анализатора и наблюдатель увниит картину распределения поля яркости в соответствии с распределением поля рассеяния дефектов в изделии 6.

СПОСОБ МАГНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ, заключающийся в том, что на поверхности намагниченного изделия размещают магниточувствительную линзу, направляют луч света на линзу через поляризатор и по распределению яркости поляризованного света определяют наличие дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности и упрощения процесса контроля, ис- пользуют магниточувствительную линзу в виде стеклянной пластины, покрытой с одной стороны оптически прозрачной обладающей магнитооптическими свойствами ферромагнитной пленкой,а с другой стороны - отра- жающим свет зеркальным немагнитным составом, размещают линзу параллельно поверхности контролируемого изделия , направляют луч света на линзу перпендикулярно контролируе мой поверхности, а распределение (Л яркости поляризованного света на пластине в зависимости от магнитного поля рассеяния наблюдают со стороны источника света.