Изобретение относится к испытательному оборудованию, предназначенному для испытаний изделий электронной техники, в частности, интегральных микросхем на теплоустойчивость, и обеспечивает возможность измерения статических и динамических параметров испытуемых изделий при заданном температурном режиме, а также по дачу на них испытательных электрических нагрузок. Известно устройство для тепловых испытаний, в которых объекты испытаний размещены в держателях, обеспечивающих электрическую связь выводов изделия с контактами разъемов, расположенных на наружных поверхностях устройства 1. Существенным недостатком такого устройства является значительная длина проводников, соединяющих выводы объекта испытаний с наружными разъемами установки. Наиболее близким по техническому к предлагаемому устройству решению является устройство для тепловых испытаний микросхем, содержащее теплоизолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температуры И нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которых подключены к токосъемникам, связанньм с переходной колодкой измерителя 2 . Недостатком данного устройства является то, что провода, идущие от токосъемников, соединенных с выводами объектов испытаний, к переходной колодке измерителя, увеличивают электрическую емкость и индуктивность при измерении динамических параметров объектов испытаний, понижая достоверность результатов испытаний. Целью изобретения является повышение точности устройства для тетшовых испытаний микросхем. Для этого в устройстве для тепловых испытаний микросхем, содержащем теплоизолирующие корпус и крышку с размещенными в них датчиками температуры и нагревателями, связанными с объектом испытаний, электрические выводы которого подключены к токосъемникам, связанным с переходной колодкой измерителя, токосъемники выполнены в виде расположенной в теплоизолирующей крышке U-образной пружины с двумя упругими контактами, един из которых подключен к переходной колодке измерителя.
