Устройство для испытания интегральных схем Советский патент 1980 года по МПК H01L21/66 H05K1/11 

Вверху находится прижимная крьшка 8 с теплоизолированным слоем и аналогичной теплопередающей пластиной. Выводы испытуемой микросхемы 9 находятся в направляющих пазах подвижных планок 10 и 11 на встроенных в них контактах 12. В верхней части платы находятся поворотные крьЕики 13 с пружинными контактами 14 для правой планки и 15 для левой планкИ| число которых соответ ствует количеству вьшодов испытуемых ЙС. Для перемещения левой и правой планок с Направляющими пазами используются пазы 16, 17. Для прижатия поворотных крышек используется защелка 18и уплотнительная резиновая прокладк 19для плотной посадки крышки 8. Сто- порные винты обозначены позицией 20, контактные выводы - 21 и оси - 22. Устройство работает следующим о&разом. Интегральные схемы укладываются Выводами в направляющие пазы подвижных планок 1О и 11 на контакты 12. В зависимости от щирины корпуса расстоя нйе между подвижными планками регулируется путем перемещения их, по напра пазам 16 и 17 и стопорится винтами 20. Затем спускают вниз подвиж ные гребенки 2 с пружинными контактами 3, которЬю выходят из зацепления с контактами 14 и 15 и, повернув крыщки 13 вокруг осей 22, укладывают испытуемые интегральные схемы своими выводами на контактах 12, обеспечивая пер вое контактирование. Крышки 13 закрывают на защелки 18, и пружинные конта ты 14 и 15, вмонтированные в поворотные крышки 13, прижимают выводы испЬгтуемЬк микросхем к контактам 12 подвижных планок 10 и 11. Затем поднимают вверх гребенку 2 и контакты 3, которые своими торцами поджимаются к пружинным, контактам 14 и 15, обеспеч ая этим самым второе контактирование Затем крьЕгка 8 закрывается и выводы от пружинных контактов 3 и выводы 21 от контактов 12 образуют линию для проверки двойного контактирования от каждого вывода испытуемой микросхемы. При закрытии крыщкц 8 она дополнительно пoджимaet поворотнью крьидки 1.3 и их контакты 14 и 15 к выводам йспьггуемых ИС. Далее устройство подключается чербз разъем к внешнему устройству регулирования и поддержания температуры. Электрический испытательный режим на испытуемые микросхемь 33 4 задается через контакт 3 и вывод 21 и, . таким образом, интегральные схемы проверяются на безотказность, долговечность и т.п. При измерении статических или динамических параметров электрический испььтательный режим снимается, а температурный режим остается без изменения. Температура во внутреннем объеме термостатирующего устройства регулируется от .+ 40° до +150°С и более. Это осуществляется за счет нагревателей 4 и датчиков задания температуры 6, контроль температуры осуществляется датчиком 7, медная тепло про водящая пластина 5 служит для выравнивания температуры в полезном объеме термостатирующего устройства. Перед измерением статических пара- метров исследуемых микросхем прове- ринется наличие контакта, после чего измерительная головка контрольно-измерительного прибора устанавливается непосредственно на выводы 21, идущие от выводов первой микросхемы. После ра параметров аналогичная операция по&торяется со всеми последующими микросхемами, находящимися внутри термостатирующего устройства. При измерении динамических параметров свыше 1 мГц . подвижные гребенки 2 после проверки Наличия контакта опускаются вниз, тем самым, исключается дополнительная емкость. Устройство позволяет испытывать все тйпы схем с планарными выводами с щагом 1,25 на теплоустойчивость, надежность, а также при. конструктивных и параметрических испытаниях в условиях повышенных температур и электрических нагрузок, используя при этом только один тип термостатирующего устройства. Формула изобретения Устройство для испьгтания интегральных схем, содержащее корпус с подвижно закрепленными гребенками с размещенными в них пружинными контактами, неподвижное Основание с контактами, планки с направляющими-пазами и прижимную крышку, отличающееся тем, что, с цейью повышения надежности контактирования и расширения функциональных возможностей, оно снабжено поворотными крьйлками с размещенными в 5734833 них пружинными контактами установленными с возможностью взаимодействия с пружинными контактами подвижной гребенки, а планки с направляющими паза- . ми закреплены на основании с возмож- g ностью перемещения. . п № № Источники ин рмации, инятые во внимание при экспертизе 1,Авторское сввдетельство СССР 479274, кл. Н 05 К 7/12, 1974, 2,Авторское сввдетепьство По заявке 2385730, от 19.07.76.