Способ определения коэрцитивной силы тонких магнитных пленок Советский патент 1980 года по МПК G01R33/12 

р)ют ма-гнйтНую структуру итлснкн магпитшым полем, уМеньшают его ло нуля, прикладывают к Пленке вдол, осп орне1гга:Ц11и стр}1ктуры постоянное ма.гннтпое поле, .уаеличивают е,го и определяют величпп} коэрцитивной сплы по ЗНачеппю этого поля, соответствующем} мсмент ска чкообраз.HQpo пзмепеппя дпфракпнп, ма|Гп;1тную .структуру (пленкп орионтИруют переменным магпптным полем, после выключения этого поля :п,рПКладьгвают постоялное маГнцггное тюле параллельпо плоскости 1плеп1ки iB па пра|влеи11и, пер 11еид111куля:рпом к оси орпепта|Ции структ ры, .Bc.iiinninofi

, Не,,

где Н„ - 1поле старта при ориентаипи

структ ры постояппЫМ полем: Н -лоле. пе-рлепдикулярное первоначальной осп арпента.ПИи структуры:

Н -лоле старта при ориентации структуры нюремеНПым полем, а (величину 1коэрцити1виой силы определяют по скачкообразном} изменению азимутального тла дифракции.

Суниюсть изобретенпя заключается и следующем.

На магнитную пленку наносят магнитЧ1ЫЙ коллоид с герметируюЩИм лoкpытиe r, освещают ее коллиМИроваппЫМ пучке .м , ориентируют магнитную стр}1ктуру пленки переменным ма пнцт1ным поле.м, уменьшают его до нуля- Прнкладьпвают к 1плен;ке лостояпное магнитное поле параллельно (ПЛОСКОСТИ плевки IB направлении, перпендикулярном iK первоначальной оси ориентацииструктуры,величиной

Н(.т HI Her Не снИМая этого поля, ир-икладывают к пленке, вдоль осп aiep-ao.начальной ориента ции стр} К:Г}1ры, иостояНное магнитное поле, }1величи1вают его и определяют велагчину коэрцнти1вной силы по значэнию этого поля, соот:вет.ст1вующем} моменту скачкообразного изменения азимутального угла дифра1КЦ1ии.

На чертеже изображена с.хема }стройстеа, Реализующего данный способ.

Устройст1во содержит .кат}щки /, создающ:ие постоянное магнитное лоле, i 3iMeрительный прибор 2, переключатель 3, источник 4 питания, реостат 5, катушки 6, создаюшие переменное матнитное поле, измерительный лрибор 7, источник 8 литания, реостат 9, катуш1ки 10, создаюп ие

шостоянное магнитное иоле, магпитн -ю пленку 11, подложку /2, Матнитный коллоид 13, (прозрачное (покрытие 14, осветитель 15, регистратор 16.

5 Сра(внительный анализ известны.х опоеобов определения коэрцитивной с))лы топкп.х магпитны.х шленок с дапныл показывает, что точность из.мереиий при примеиеim i изобретенля возрастает за счет ска чко0 ооразного изменения азим}тального угла дифракции на 30-43°, даже для низкокоэрцитивных плено:к, т. е. изменение по; ожеция дифра1КЦионно:го максим} ма в десяпки раз больше, чем в из(вестио-м сио5 сабе.

Ф iOip м } л а и 3 о :б р е т е }{ и я

Способ определения коэрцит1юной силы 0 тонки.х .магнитны.х илено«, заключающийся в том, что на ма гнитн}-ю плепку паносят .маг111ггный коллоид с герметизир}1ощи. (ггакрытием, освещают ее (колли мированны.м п}141ком света, ориентируют магнитную структуру пленки ..магнитным лоле.м, -меньн1ают его до пуля, пршкладывают к плен(ке вдоль оси ориеитации стр}-ктуры постоянное (.магнитное .поле, }велич1Ивают его и определяют величину коэри)1тл.виой 0 силы по зна чению этого толя, соот-ветСтвующем|у мо.мент} окачкообраз-ного изменения угла дифракции, о т л и-ч а ю щ i и с я те.м, что, с целью повышения точности измерений, .магнитную стружтурл пленки 5 ориентируют .пере.1енны.м .маг.нитньгм тюле.м, после -вьгключения этого (поля прикладывают постоянное .малнитное поле параллельно плоскости пленки s направлении, перпендикулярном IK оси ориентации структуры, 1вел.11чиной Н| .где HCT -поле ста.рта дри -ориентации

стр}1ктуры 1ПОСТОЯ.Н.НЫМ полем: Н -поле, пер(пенди11сулярное nepsoTiaчальной оси ориента.ции структуры;HCT -(поле старта при ориентации

I/

ст1р}жтуры переменным полем, а вел-Ичину коэрцитивной силы определяют по скачкообразному

изменению азимутального утла дифракции.

Исто.ч.ник информации, принятые во вни.мание лри экспертизе:

5 1. Нраттон М. Тонкие ферромагнитные пленки. Л., «Судостроение, 1967, с. 80.

2- Авторакое .свидетельство СССР Л 363057, кл. G 01 R 33/12, 28.06.71.