3 мени, что также снижает точность измерения. Цель изобретения - повьпнение точности измерения интенсивности и поглощенной дозы излучения путем устранения вносимых пластиной искажений. Поставленная цель достигается тем, что производят накопление заряда на поверхности ;аиэлектрической пластины, помещаемой вблизи разрядного электрод изменяют расстояние между областью накопления заряда и разрядным электро дом до возникновения разряда между ними, измеряют время накопления заряд и число разрядов за период облучения, по KOTOpbnvi судят о регистрируемом излучении. Электрический пробой приводит к поя лению импульса электромагнитных коле баний и вспыип е света, которые регист рируются детектором. Время от начала облучешга до пробоя вакуул ного промежутка при данной геометрии держателя образца ояредепяет 1штенс1йзность ионизирующего излучешш. Следовательно, частота следования вспышек света пропорциональна штенсивности, а число вспышек света - поглощенной дозе .излу чения. Интенсивность падающего потока излучения пропорциональна скопившемус на образце заряду. Следовательно., ин тенсивность излучения можно опредехлит по времени накопления заряда на пове ности диэлектрического образца до возншшовения разряда. Величина пробиззног напряжения известна для конкретной ге метрии разрядного промежутка. Поглощеш1ая диэлектрггческим материалом доза и интенсивность излучения могут быть представлены следу1ои)ж образом. im - масса облученной части образца;Е - энергия пучка излучения; U пробивное напряжение HOIX5 промежутка; 30 - длина разрядного промежутка; С| - заряд oблyчaJЮЩeй частицы (для заряженных частиц); о - электрическая постоянгная; - относительная диэлектрическая проинцаемость; J -- плотность тока пучка излучения;S - площадь облучаемой части образца; время накопления заряда; коэффициент размножения, показывающий сколько заряженных частиц образуется на поверхности Д1 электрического образца при соударешш с ним одной заряженной частицы, одного кванта И.ГШ частицы нейтрального излучегшя. 1 изображена схема, с помоНа фяг. щью которой реализуется способ. Ус тройство содержит место 1 накопления заряда; держатель 2 образца; разрядный электрод 3, детектор 4 разряда; на фиг. 2 а,б изображены графически: а)экспериментальная зависимость плотности тока изл чения от времени накопления заряда и б)экспериментальная зaвиc DvIocть поглоще1Шой дозы излучения от числа пробоев промежутка соответственно. Исполь-зование предлагаемого способа монитор фования пучка заряженных частиц или Л -излучения при облучении диэлектрических образцов обеспечивает по сравнению с :суи1ествующр1ми способе--, ми следующие преимущества : а)укиверса шность детектирования по виду излуче -шя; б)бесконтактный способ измере:шя интенсивности; в)позволяет при облучении диэлектр1гческих образцов, использовать их непосредственно в качестве монитора дозы; г)непрерывность изменения интенсивности излучения во время облучегшя образца, что 11овысит точность измерения интенсивности и поглощенной дозы излучения. П р .и м е р 1. Проводится определение зштенсиБНости и пог.г ощешюй дозы излл чега-ш пучка птютонов Е - 1,0 МэВ на образце КС . Да.1гные по результатами условиям эксперт-лента приведены в табл.. Зависимости В ( U ) пУ { t ) приведены на фиг.2 и в табл.2.
Таблица 1
5-10 0,5-10
0,106 0,166о,227
Сек.
и МП/мин.
565
J-10 а/м
Д МэВ/кг
0,565 0,362 Пример 2. Проводится повторное испытание способа мониторирования для пучка протонов от ЭСГ-2,5. Условия испытания совпадают 6 прйведеш ымн в примере 1 испытанием. Пучок протонов с энергией 1МэВ направляют на диэлект ческую пластину из КС 6 . Площадь облученной части образца КС составляет S - 2 , масса лт 1 г. Изменяя расстояние между разрядным электродом и областью накопления заряда, до биваются возникновения разряда на расстоянии 5 мм (.вакуум в камере (При дальнейшем уменьшении расстояния частота разрящов растет и при расстоянии 1г - 2 мм искровой разряд перехо дит в дуговой. Поэтому, выбор частоты разряда нужно производить, руководству практическими соображениями, исходя из расстояния между электродами разрядгника). Разряд фиксируют, с помощью ФЗ а также визуально. Было проведено измерение времени накопления заряда и число зарядов за период облучения для различных по интенсивности пучков протонов. Используя соотношения (1) и (2) определ5пот интенсивность пучка протонов и поглощенную диэлектрическим образцом дозу. Результаты повторных испытаний совпадают с результатами, при-ведетшыми в примере 1 (табл. 1,2,фиг. В ходе повторных испытаний дополнительно установлено, что добиться и фшс1 10
Табпица2
0,286
210
264
362
О,21О
0,264 1,6-10 S.SSld l 2-10 сировать разряд можно и по поверхности диэлектрика, передвигая разрядный электрод по поверхности. Однако пробивное напряже1ше при этом зависит от состояния поверхности диэлектрика и должно определяться экспериментальным путем. Формула изобретения Способ регистрации ионизирующих иэлучений, основанный на иалерении заряда, образующего под действием излучения на поверхности облучаемой пластины, отличающийся тем, что, с целью повышений точности измерений путем устранения вносимых пластиной искажений, производят накопление заряда на поверхности диэлектрической пластины, помещаемой вблизи разрезного электрода, изменяют расстояние между областью накопления заряда и разрядным электродом до возникновения разряща между ними, время накопления заряда и разрядов за период облучения, по которым судят о регистрируетлом излучении. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Вальт А. К. Электростатические ускорители заряженных частиц. Госатомиздат, 1963, с. 281, 2.Авторское свидетельство СССР № 388236, кл. 4 О1 Т 1/28, 1971. 3.Патент США № 3780304, кл. 25О-336, опублик. 1973 (прототип).
Г
и
6) а
et
OS
о
OJ
яг
Of
uwJ
У}
. В ffj At}
too
WO
400
