Устройство для контроля отклонений положений объектов от прямолинейности Советский патент 1980 года по МПК G01C1/00 G01C5/00 

Описание патента на изобретение SU742708A1

I

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в инженерной геодезии и машиностроении для высокоточного контроля нрямолинейности взаимных положений объектов и плоскостности поверхностей.

Известно устройство цля контроля прямолинейности поверхности, в котором рав неточность измерений достигается введением в электронный блок обработки сиг налов фотоэлектрического преобразователя специального филtл pa fl . Постоянная времени и коэффициент передачи этого фил1угра находятся в функциональной зависимости от расстояния между источником излучения и фотоэлектрическим преобразователем. При увеличении этого расстояния отношение мощности оптического сигнала, соответствующего минимальному смешению объекта, к мощности источника уменьшается. Сигнал, подаваемый с преобразователя дальности на фильтр, увеличивает его коэффициент передачи с увеличением дальности и таким образом вырашшвает чувствительность преобразователя смещений объектов относительно референтного направления.

Недостатками этого устройства является сложность консгфукцни, обусловленная введением преобразователя дальности (дальномера) и возможность появления погрешностиизм фений смещений, связанных с нестабильностью работы этого преобразователя и фильтра.

10

Известно устройство для контроля отЕлонений положений объектов от прямоли- аейности, сод жащее источник света (ге,лий-неоновый лазер), коллимирующее устtsройство в виде телескопической системы, фотоэлектрический анализатор, поперечныхсмещений, установленный .на контролируемом объекте, электрические блоки обработк ки сигналов, регистратор и сканатор 2 .

20

Недостатком этого устройства является неравномерность измерений вдоль трао сы в связи с остаточной расходимостью пучка. Цепь изобретения - повышение точности измерения смешений объектов. Указанная цель достигается тем, что устройство выравнивания чувствительнос вьтолнено в виде углового сканатора, ус тановленного на направляюишх для колеб тельного движения, между коллимируюыщ объективом и его задней фокальной плос костыо на расстоянии от нее бс - диаметр светового пучка на вь ранном энергетическом уровне в фокальной плоскости . объектива; - заднее фокусное расстояние объектива; D - диаметр светового пучка на вы ходе коллимирующего объектив При использовании в качестве исто ьника лазерного излучения с диаметром н выходе d/ и расходимостью Чд сколлим рованнето тепесксншческой системой с фо кусным расстоянием окуляра ioK На чертеже показана функциональная схема устройства. Устройство состоит из источника излу чения 1 (лазера или теплового источника), окуляра (конденсора) 2, зеркала 3, установленного под углом, и оптичес кой оси на направляющей для колебатель ного д жения, оторая пересекается с оптической осью,коллнмирующего объектива 4, фотоэлектрического анализатфа смещений (фотоэлектрической марки) со стоящего из ножевого анализатора 5 и фотоприемника 6, вибратора 7, например электромеханического, и электронHbix блоков о% абот1Ш оптического сигнала: усилителя-формирователя 8, порогового устройства 9 и фазометра 10. Устройство работает следуюпшм образом. Фокусированное окуляром 2 излучение источника 1 отражается от зеркала 3 и коллнмируется объективом 4. При работе электромеханического виб ратора 7 установленное на нем зеркало колеблется, вследствие чего налученне на выходе объектива сканируется. В зависимости от положения зеркала 3 относительно фокальной плоскости объектива излучение на выходе объекти.ва может колебаться параллельно своему начальному положению (в случае совпадения оси колебаний с фокальной плоскостью), сканироваться по углу (при расположении зеркала вблизи объектава) или сканироваться одновременно по углу и смещению. При расстоянии оси колебаний зеркала от фокальной плоскости объектива излучение на выходе колеблется так, что образующие конуса расходимости излучения сходятся в точке О независимо от величины амплитуды раскачки зеркала {при величинах амплитуд углов раскачки до ). При совпадении оси сканирования излучения, которая является базовым направлением, со срезом ножевого анализатора фотоэлектрической марки фазы сигналов, снимаемых с вибратора 7 и фотоприемника б, совпадают. Причем энергия оптических сигналов, принимаемых фотоприемником 6, в этом случае не зависит от расстояния от объектива 4. Несовпадение центра сканирования с центром фотоэлектрической марки вызывает появлени% разности фаз электрических сигналов, которая регистрируется фазометром 10. На измеряемых объектах может быть одно1аременно установлено несколько фотоэлектрических анализаторов. В этом случае излучение посылается на них с помощью светоделительных пластин, установленных под к референтному направлению. Формула изобретения Устройство для контроля отклонений .положений объектов от прямолинейности, содержащее последовательно расположенные источник света, коллимирующее устройство, состоящее из окуляра и объек тива, фотоэлектрический анализатор смещений, установленный на измеряемом объекте, электрические блоки обработки сигнала, регистратор и сканатор, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений, сканатс установлен на оптической оси между объективом и его фокальной плоскостью.

на расстоянии от фокальной плоскости, определяемом по формуле

а,диаметр светового пучка на

определенном энергетическом

уровне в фокальной плоскости

объектива;

заднее фокусное расстояние

06

объектива;

ID - диаметр светового пучка на выходе коллимирующего объектива.

, Источгтаки информации, гфннятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свицетельство СССР № 438867, кя. Q 01 В 11/30, 26.04.72.

2.Применение газовых лазеров в ге одеэ1и. Серия 1, Электроника CQ4. Вьт. 1 U). М.. 1972, с. 63-64 (прототип).

Похожие патенты SU742708A1

название год авторы номер документа
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ РАСПОЛОЖЕНИЯ ОБЪЕКТОВ И ИХ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ФОРМ 2007
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Авхадеев Владимир Гашигуллович
  • Поставнин Борис Николаевич
  • Савостин Петр Иванович
  • Чугреев Игорь Григорьевич
  • Попиченко Владимир Александрович
RU2366895C2
ОПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФОРМИРОВАНИЯ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ В ВИДЕ КВАЗИПАРАЛЛЕЛЬНОГО ПУЧКА 2007
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Авхадеев Владимир Гашигуллович
  • Поставнин Борис Николаевич
  • Свешникова Инна Сергеевна
  • Драковская Надежда Леонидовна
RU2393516C2
ЛАЗЕРНЫЙ ДАЛЬНОМЕР 2010
  • Вильнер Валерий Григорьевич
  • Волобуев Владимир Георгиевич
  • Казаков Александр Аполлонович
  • Подставкин Сергей Александрович
  • Рябокуль Артем Сергеевич
RU2439492C1
Лазерный нивелир 1989
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Герасимов Игорь Михайлович
  • Крылов Анатолий Николаевич
  • Осипов Виктор Константинович
  • Савостин Петр Иванович
SU1779925A1
Устройство для задания опорной световой плоскости 1987
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Арефьев Александр Александрович
  • Тарасов Виктор Васильевич
  • Илюхин Александр Николаевич
SU1508094A1
Устройство для контроля прямолинейности рельсовых путей 1988
  • Пышкин Валерий Николаевич
  • Михальченко Владимир Иванович
SU1576616A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ КОЛЛИМАТОРНЫЙ ПРИЦЕЛ 2005
  • Одиноков Сергей Борисович
  • Бидеев Геннадий Александрович
  • Вареных Николай Михайлович
  • Дубынин Сергей Евгеньевич
  • Лушников Дмитрий Сергеевич
  • Полкунов Виктор Андреевич
  • Ширанков Александр Федорович
RU2327942C2
Устройство для контроля отклонений объекта от опорного направления 1982
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Арефьев Александр Александрович
  • Тарасов Виктор Васильевич
SU1068704A1
ЛАЗЕРНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТДЕЛЬНЫХ УЧАСТКОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ОБЪЕКТОВ ОТ РЕФЕРЕНТНОГО НАПРАВЛЕНИЯ 2007
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Авхадеев Владимир Гашигуллович
  • Поставнин Борис Николаевич
  • Савостин Петр Иванович
  • Чугреев Игорь Григорьевич
  • Власенко Егор Павлович
  • Степанов Валентин Валентинович
  • Можаров Григорий Афанасьевич
RU2359224C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК СВЕТОРАССЕЯНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ 2007
  • Алабовский Андрей Владимирович
RU2329475C1

Иллюстрации к изобретению SU 742 708 A1

Реферат патента 1980 года Устройство для контроля отклонений положений объектов от прямолинейности

Формула изобретения SU 742 708 A1

SU 742 708 A1

Авторы

Плотников Василий Сергеевич

Жилкин Александр Михайлович

Остапченко Евгений Петрович

Илюхин Валерий Аркадьевич

Даты

1980-06-25Публикация

1977-09-15Подача