Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности изделий Советский патент 1980 года по МПК G01B21/30 

(54) ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ Изобретение относится к контролю качества поверхности изделий и може быть использовано, например, для выявления дефектов поверхностей плоских или цилиндрических деталей. Известно устройство для контроля качества поверхности детали, содержащее оптико-механическую систему, фотоприемники, линии задер.жки, блок сравнения и блок разбраковки l . Недостатки устройства - зависимость выходных сигналов от параметров фотоприемников, значительная сло ность выполнения линий задержки с большими постоянными времени. Наиболее близким по технической сущности к данному изобретению является фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности из делий, содержащее оптико-механическу осветительную систему, последовательно соединенные фотоприемник, бло формирования сигнала, измерительный блок и блок разбраковки 2 . Недостатки устройства - чувствительность и надежность работы зависят от изменения освещенности изделия, параметров фотоприемника и скорости вращения изделия. Для изделий с различной отражательной способностью необходима перенастройка устройства/ что обусловлено спецификой выполнения измерительного блока в L виде амплитудно-временного селектора импульсов фотоприемника. Цель изобретения.- повышение надежности контроля. Поставленная цель достигается тем, что устройство снабжено блоком управления, подключенным к измерительн./му блоку, а измерительный блок выполнен в виде реверсивного счетчика. На чертеже изображена блок-схема устройства. Устройство содержит оптико-механическую осветительную систему 1, обеспечивакхдую осмотр поверхности контролируемого изделия 2, фотоприемник 3, блок 4 формирования сигнала, измерительный блок, представляющий собой реверсивный счетчик 5, блок б разбраковки,блок 7 управления. Устройство работает следующим образом. Световой луч от оптико-механической осветительной системы 1, последовательно освещагадей каждую точку поверхности изделия 2, отражается от нее и поступает на фотоприемник 3 , импульсы с выхода фотоприемника 3 преобразуются в блоке 4 формирования сигнала. .Сигнал с выхода блока 4 формирования сигнала поступает на вход реверсивного счетчика 5, Блок б разбраковки по состоянию реверсивного счетчика 5 вырабатывает соответствук ие сигналы на разбраковку изделий. Контроль качества поверхности изде-лия осуществляется циклами измерений. Каждый цикл состоит из двух тактов. При первом такте реверсивный счетчик 5 работает в режиме сложения, а во втором - в режиме вычитания. Такты работы задаются блоком 7 управления. Если после двух тактов работы реверсивный счетчик 5 находится в исходном состоянии, то это означает, , что фотоприемник опрашивает соседние участки поверхности с одинаковым коэффициентом отражения. Если после двух тактов измерения состояние реверсивного счетчика 5 отличается от исходного, то это означает, что фотоприемник опрашивает соседние участки поверхности с- различными коэффициентами отражения. В зависимости от величины коэффициента отражения блрк б разбраковки вырабатывает сигнал на отбраковку изделия.

Для повышения производительности контроля в устройство можно допол-. нительно ввести N воспринимающих элементов,и соответственно,- N реверсивных счетчиков.

Формула изобретения

Фотоэлектрическое устройство для контроля качества поверхности издeли содержащее оптико-механическую осветительную систему, последовательно соединенные фотоприемник, блок формирования сигнала, измерительный блок и блок разбраковки, отличающееся тем, что, с целью 5 повышения надежности контроля,оно

снабжено блоком управления, подклю- ченным к измерительному блоку, а измерительный блок выполнен в виде реверсивного счетчика.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Патент Швейцарии № 575592, кл. Q 01 В 11/30, 1976.

2.Авторское свидетельство СССР № 386241, кл. G 01 В 19/32, 1973 (прототип.