Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем Советский патент 1980 года по МПК G01R31/28 

Описание патента на изобретение SU777604A1

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для контроля параметров усилителей в интетральном исполнении при их серийном производстве и испытаниях. По основному авт. св. № 661439 известно устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем, содержащее первый и второй операционные усилители, генератор испытующего сигнала, два резисторных делителя напряжения, резистор, конденсатор, причем один вход первого операционного усилителя подключен к генератору, другой через конденсатор - к входу испытуемой микросхемы, выход первого усилителя через резисторный делитель соединен с одним входом второго усилителя, другой вход которого через резистор-с генератором 1. Это устройство единовременно формирует тестовые измерительные схемы для измерения коэффициента усиления и входного сопротивления и повышает быстродействие при контроле параметров микросхем. Величины входного сопротивления испытуемой микросхемы определяются по формулеГ) г, fvx - А -,- 77 где t/Bx - напряжение генератора; вы12 - напряжение на выходе второго операционного усилителя; 5-сопротивление резистора обратной связи первого операционного усилителя. Недостатком известного устройства является дополнительная погрещность измерения, связанная с температурой и временной нестабильностью выходного напряжения генератора испытующего сигнала, неудобством вычисления величины входного сопротивления при величине входного сигнала, некратного 10. Цель изобретения - повышение точности измерения входного сопротивления линейных интегральных микросхем. Поставленная цель достигается тем, что Б устройство введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя подключен к выходу второго операционного усилителя, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного напряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока - к объединенным управляющим

.-

: входам первого и второго регулируемых усилителей, вход второго регулируемого усилителя через масштабный зснлитель подключен к выходу геиератора исиытующего сигнала, а выход - к входу второго детектора эффективного наиряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника оиорного напряжения. На чертеже дана структурная схема предлагаемого устройства. Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем содержит геператор испытующего сигнала 1, операционные усилители 2 и 3, конденсатор 4, резисторы 5-9, первый регулируемый усилитель 10, первый детектор эффективного напряжения 11, схему сравнения 12, источник опорного напряжения 13, усилитель постоянного тока 14, второй регулируемый усилитель 15, масштабный усилитель 16 и второй детектор эффективного напряжения 17. Вход первого регулируемого усилителя 10 подключен к выходу второго опера циопного усилителя 3, а выход через первый детектор эффективного напряжения 11, схему сравпения 12 и усилитель постоянного тока 14 - к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых усилителей. Вход второго регулируемого усилителя 15 через масштабный усилитель 16 подключеи к выходу генератора испытующего сигнала 1, а выход - к входу второго детектора эффективного напряжения 17, причем второй вход схемы сравнения 12 соединен с выходом источника опорного напряжения 13. Устройство работает следуюпХ11м образом. При измерении параметров микросхем, например коэффициента усиления и входного сопротивления, выходной сигнал с генератора испытующего сигнала одновременно поступает на неипвертирующий вход операционного усилителя 2 и через резистор 8 на вход операционного усилителя 3. На инвертирующем входе операционного усилителя 2 действует напряжение, равное по величине напряжению генератора испытующего сигнала 1. При этом через конденсатор 4 протекает переменный ток, определяемый величиной входного сопротивления испытуемой микросхемы, и на выходе операционного усилителя 2 действует сигнал (п Г т; 1 / где - величина сопротивления резистора 5; jRx - величина входного сопротивления микросхемы. С выхода операционного усилителя 2 выходной сигнал поступает на делитель на резисторах 6 и 7, подключенный к инвертирующему входу операционного усилителя 3.

777604 Последний осуществляет алгебраическое сложение сигналов, т. с. выходное иапряжепие равно As ,, А зь,х. вх f 1 + Ьвх - величина выходного напряжения генератора; , 8 и 9 - сопротивление резисторов 5, 8 и 9. Выбрав , получим Выходной сигнал с операциопного усилителя 3 поступает на вход первого регулируемого усилителя 10 и равен IVnxio .увыхг L/BxA5 :r Далее выходной сигнал усилителя 10 детектируется первым детектором эффективного напряжения 11, сравнивается схемой сравнения 12 с величиной выходного напряжения источника опорного напряжения 13, полученный сигнал рассогласования усиливается усилителем постоянного тока 14 и подается на управляющий вход регулируемого усилителя 10. Величина выходного напряжения последнего равна величине напряжения источника опорного напряжения 13. Коэффициент усиления регулируемого усилителя равен 1 вых,„ выха д - где f/on - выходное напряжение источника опорного напряжения, KM - коэффициент передачи детектора эффективного напряжения И. На вход второго регулируемого усилителя 15 с генератора 1 поступает выходной сигнал, величина которого масштабируется усилителем 16 и равна -вXls 1-вх м где Км - коэффициент передачи масштабного усилителя 16. Выходное напряжение усилителя 15 измеряется вторым детектором эффективного напряжения 17. Коэффициент усиления регулируемого усилителя 15 следующий: г гт If BЫXl5 Д2 А16 - Л If LBXAM где /Сд2 - коэффициент передачи детектора эффективного напряжения 17. Так как регулируемые усилители 10 и 15 идентичны и согласованы по своим параметрам, то коэффициент /Сю и К усиле-ния усилителей равны при подаче на их входы управляющего напряжения одинакового уровня: KIU и on Кя 1 t/BbiXi 5 Клг i/BX-/ 5/-«XUB -KM .,. Кл,; так как , const, ТО /, /С.вых„ . Предлагаемое устройство повышает точность измерения входного сопротивления интегральных микросхем за счет исключения дополнительной погрешности, определяемой временной и температурной нестабильностью величины выходного напряжения генератора испытующих сигналов и единовременно измеряет коэффициент усиления микросхем. Формула изобретения Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем по авт. св. № 661439, отличаюш,ееся тем, что, с целью повышения точности измерения вход - Lа

J

V

77f604 ного сопротивления линейных интегральных микросхем, в него введены первый и второй детекторы эффективного напряжения, источник опорного напряжения, схема сравнения, усилитель постоянного тока, масштабный усилитель, первый и второй регулируемые усилители, при этом вход первого регулируемого усилителя подключен к выходу второго операционного усилителя, а выход через последовательно соединенные первый детектор эффективного нанряжения, схему сравнения и усилитель постоянного тока - к объединенным управляющим входам первого и второго регулируемых уснлитей, вход второго регулируемого усилителя через масштабный усилитель подключен к выходу генератора испытующего сигнала, а его выход - к входу второго детектора эффективного напряжения, второй вход схемы сравнения соединен с выходом источника опорного напряжения. Источники информации, принятые во внимание нри экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 661439, кл. G 01R 31/26, 1977 (нрототин).

Похожие патенты SU777604A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 1978
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Чернышев Юрий Николаевич
SU777603A1
Устройство для измерения коэффициента гармоник усилителей мощности 1978
  • Дубовис Владимир Моисеевич
SU879493A2
Устройство для контроля параметров линейных интегральных схем 1981
  • Самарцев Юрий Николаевич
SU1030748A1
ШИРОКОДИАПАЗОННЫЙ СТАБИЛИЗАТОР 2010
  • Орлов Сергей Иванович
RU2420852C1
Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем 1977
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Антонов Юрий Иванович
  • Чернышев Юрий Николаевич
SU661439A1
Устройство для измерения коэффициента гармоник 1976
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Антонов Юрий Иванович
  • Бать Сергей Давыдович
  • Чернышов Юрий Николаевич
SU789851A1
Устройство для измерения коэффициента гармоник усилителей мощности 1978
  • Дубовис Владимир Моисеевич
  • Антонов Юрий Иванович
  • Чернышов Юрий Николаевич
SU746320A1
Устройство для измерения коэффициента усиления операционных усилителей 1986
  • Аветисян Артур Вартанович
SU1359763A1
Устройство для измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на ЭДС смещения нуля операционных усилителей 1990
  • Аветисян Артур Вартанович
SU1803890A1
ИЗМЕРИТЕЛЬ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ 2001
  • Новицкий С.П.
  • Матасов А.Г.
  • Печников А.Л.
  • Филатов А.В.
RU2204839C2

Иллюстрации к изобретению SU 777 604 A1

Реферат патента 1980 года Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем

Формула изобретения SU 777 604 A1

SU 777 604 A1

Авторы

Дубовис Владимир Моисеевич

Чернышев Юрий Николаевич

Даты

1980-11-07Публикация

1978-12-28Подача