Устройство для контроля параметров линейных интегральных микросхем Советский патент 1979 года по МПК G01R31/28 

Изобретение относится к области электронной техники и может быть при менено при контроле параметров усили ,телей в интегральном исполнении при их серийном производстве и испытаниях. Известно устройство 1 для контроля параметров линейных интегральных микросхем (ИМС) - коэффициента усиления и входного сопротивления, с держащее генератор, источник наг1ряжения, измерители напряжения. Недостатком устройства является низкая производительность из-за необходЫмос ти запсминания промежуточных результатов измерений.. Известно устройство 2 для контроля- параметров линейных интегральных микросхем, содержащее генератор испытательного сигнала, усилители, резисторы. Это устройство позволяет измерять только один параметр - коэффициент усиления. Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройст ва. Поставленная цель достигается тем что в устройство введены конденсатор и резисторный делитель, а усилители выполнены в виде операционных. Один вход первого усилителя подключен к генератору, а другой- через кои-- : денсатор ко входу испытуемой микросхемы. Выход первого усилителя через резисторйый делитель соединен с одним входс 1 второго усилителя, .второй вход которого через резистор соеда1нен с генератором. На чертеже приведена электрическая схема устройства. Устройство для контроляпараметров линейных ИМС содержит генератор 1 испытательного еигнала (например, генератор синусоидального напряжения), .операционные усилители 2, .3, конденсатор 4, резистор 5, резисторы 6-9, образующие резисторный делитель. Устройство работает следующим образом. При измерении коэффициента усиления ИМС и входного сопротивления выходной сигнал генератора 1 синусоидального напряжения поступает одновременно на неинвертирующий вход операционного усилителя 2 и через резистор 8 на вход операционного усилителя 3, соединенного выходом с резистором 9..Операционный усилитель 2 устанавливает на инвертирующем входе на