Фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических размеров объектов Советский патент 1980 года по МПК G01B11/02 

Описание патента на изобретение SU785644A1

Изобретение относится к контрольн измерительной технике и может быть использовано,в частности, в фотоэлек трических устройствах бесконтактного измерения геометрических размеров объектов (диаметров, взаимного положения проволок, нитей, волокон, линейных размеров деталей при различной обработке и т.д.). Наиболее близким по технической сущности к изобретению является фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических размеров объектов, содер ащее последовательно установленные источник света, светоделитель, делящий световой луч на два пучка, сканатор, выполненный в виде вращающейся четырехгранной призмн, два фотоприемника и электронный бло обработки сигналов с них. В одном и световых пучков за призмой установлена решетка, фокусирующая линза, за которой расположен один из фотоприемников. В другом световом пучке перед фотоприемником располагают из меряемый объект . Недостатком этого устройства является зависимость погрешности изме ний от нестабильности распределения энергии в сечении светового пучка, точности изготовления сканиру101чей призмы и степени идентичности параметров двух фотоприемников, что не дает возможности получить высокую точность измерениП. Кроме, того, конструкция устройства сложна. Целью изобретения является повышение точности измерений и упрощение конструкции-устройства. Поставленная цель достигается тем, что сканатор выполнен в виде зеркала, закрепленного на вибраторе, а устройство снабжено расположенной между сканатором и фотоприемником в плоскости, перпендикулярной осям сканирования световых пучков, щелевой диафрагмой в виде подвижных в этой плоскости шторок, приводами и преобразователями смещений, соединенными со шторками и со сканатором, и регистратором, соединенным с преобразователями смещений. На фиг. 1 изображена принципиальная схема фотоэлектрического устройства для измерения геометрических размеров объектов; на фиг. 2 - расположение объекта относительно щелевой диафрагмы. Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 света. светоделитель 2, делящий световой луч на два пучка, сканатор в виде зеркала 3, закрепленного на внбрато ре 4, например, электромеханическом, щелевую диафрагму в виде подвижных в плоскости, перпендикулярной осям сканирования световых пучков,шторок и 6,два фотоприемника 7 и 8,электрон ный блок обработки сигналов/включающий узкополосные усилители 9 и 10,пр воды 11 и 12 и преобразователи 13 и смещений, соединенные со шторками 5 и 6 и со сканатором, регистратор 15, соединенный с преобразователями: 13 и 14 смещений. Устройство работает следующим образом. Излучение от источника 1 света разделяется светоделителем 2 на два параллельных пучка, которые направляются на колеблющееся зеркало 3, за крепленное на вибраторе 4, ocyLiecTвляющемпространственное сканировани обоих пучков относительно щелевой диафрагмы с некоторой частотой IQ . Причем расстояние между осями сканирования пучков равно некоторой фикси рованной величине А (фиг. 2). В плос кость диафрагмы, перпендикулярную осям сканирования световых пучков, произвольно помещают измеряемый объе б, например , имеющий круглое сечение, диаметр которого D необходимо измерить. При этом совокупность щелевой диафрагмы и измеряемого объекта 1б необходимо рассматривать как две щели, образованные соответственно подвижными шторками 5 или 6 щелевой диафрагмы и образующими боковой поверхности измеряемого объекта 16. Пpoмoдyл poвaнныe таким образом световые пучки преобразуются на фотопри емниках 7 и 8 в электрические сигналы,поступающие соответственно.в узкополосные усилители 9 и 10, настрое ные на частоту сканирования q)g . Сиг налы с частотой сканирования ер поступают с выходов усилителей на выходы приводов 11 и 12, одновременно подключенных к электрическому выходу сканатора. Приводы 11 и 12 осуществляют необходимое перемещение шт рок 5 и б щелевой диафрагмы, при это с преобразователей 13 и 14 смещений, механически связанных со шторками 5 и б, снимаются электрические сигналы подтупающие в регистратор 15, выполненный, например, в виде сумматора. В основе измерений лежит принцип совмещения осей сканирования свето вых пучков с центрами указанных выше щелей. При совмещении оси сканирования с центрами щелей световой поток модулируется с удвоенной частотой, т.е. 21д. При несовпадении в сигнале не выходе одного из фотоприемников 7или 8 будет присутствовать гармоническая составляющая с частотой, равной част те сканирования , которая будет выделена в узкополосном усилителе 9 Или 10, причем ее амплитуда пропорциональна величине смещения, а фаза направлению смещения. В примере, как показано на фиг.2, положение осей сканирования относительно шторок 5 и б диафрагмы известно и определяется величинами X и У, а положение измеряемого объекта - величинами а и в , которые определяются в процессе измерения,В общем случае и , поэтому с выходов УЗКОПОЛОСНЫХ усилителей 9 и 10 соответственно на приводы И и 12 поступят сигналы, пропорциональные величинам (Х-в) и (У-а). В результате отработки имеющегося рассогласования между центрами щелей и осями сканирования пучков приводы 11 и 12 перемещают шторки 5 и б диафрагмы до момента, когда и , т.е. до момента совпадения осей сканирования пучков с .центрами щелей. При этом с выходов фотоприемников снимаотся сигналы с удвоенной частотой , поэтому на выходах узкополосных усилителей 9 и 10 сигнал будет отсутствовать. 3 процессе отработки с преобразователей 13 и 14 смещения снима-отся сигналы, пропорциональные величине перемещения шторок 5 и б, которые поступают в регистратор 15, где осуществляется их обработка. При этом измеряемый параметр D определяют как D Ala-t-b) Л - расстояние между осями сканирования световых пучков; а и в - расстояние от осей сканирования пучков до образующих поверхностей измеряемого объекта 16. Изобретение позволяет повысить точность измерений за счет обеспечения стабильности положения сканирования и частоты колебаний зеркала 3, закрепленного на вибраторе 4, и высокой чувствительностью процесса совмещения оси сканирования с центрами щелей, лежащего в основе измерений. Формула изобретения Фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических размеров объектов, содержащее последовательно установленные источник света, светоделитель, делящий световой луч на два пучка, сканатор, два фотоприемника и электронный блок обработки сигналов с них, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений и упрощения конструкции устройства, сканатор выполнен в виде 1зеркала, закрепленного на вибраторе, а устройство снабжено расгюложенной между сканатором и фото

Похожие патенты SU785644A1

название год авторы номер документа
Двухкоординатный фотоэлектрический микроскоп 1980
  • Привер Леонид Симхович
  • Потапов Александр Алексеевич
  • Егорычев Александр Николаевич
SU894353A1
Устройство для бесконтактного измерения скорости движения протяженного объекта 1982
  • Мухитдинов Мухсинжон
  • Бернштейн Аркадий Сергеевич
  • Ибрагимов Хайретдин Хуснутдинович
SU1007005A1
Устройство для контроля отклонений положений объектов от прямолинейности 1977
  • Плотников Василий Сергеевич
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Остапченко Евгений Петрович
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
SU742708A1
Автоколлимационное фотоэлектрическое устройство 1980
  • Фрадкин Валерий Леонидович
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Ильюхин Валерий Аркадьевич
  • Мовшев Анатолий Кириллович
SU968614A1
Автоколлимационное устройство для бесконтактного контроля профиля полированных поверхностей 1986
  • Панков Эрнст Дмитриевич
  • Шишлов Евгений Анатольевич
  • Рюхин Владимир Васильевич
  • Антонов Эдуард Александрович
SU1320660A1
Фотоэлектрический автоколлиматор 1987
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Илюхин Александр Николаевич
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Фальцман Анатолий Владимирович
SU1420361A1
УСТРОЙСТВО НЕПРЕРЫВНОГО КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕСТИГРАННОГО ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОГО СТЕРЖНЯ ВО ВРЕМЯ ВЫТЯЖКИ 1992
  • Арефьев А.А.
  • Фотиев Ю.А.
  • Борзов А.Г.
RU2020410C1
Устройство для определения положения фокальной плоскости объектива 1984
  • Санников Петр Алексеевич
  • Кунавин Виктор Васильевич
SU1154573A2
Устройство для контроля отклонений объекта от опорного направления 1982
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Арефьев Александр Александрович
  • Тарасов Виктор Васильевич
SU1068704A1
Установка для контроля размеров элементов фотошаблонов 1981
  • Чехович Евгений Казимирович
SU968605A1

Иллюстрации к изобретению SU 785 644 A1

Реферат патента 1980 года Фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических размеров объектов

Формула изобретения SU 785 644 A1

SU 785 644 A1

Авторы

Жилкин Александр Михайлович

Степанян Роман Карапетович

Илюхин Валерий Аркадьевич

Крюков Валентин Иванович

Арефьев Александр Александрович

Даты

1980-12-07Публикация

1978-07-26Подача