Интерферометр для измерения точных асферических пластин Шмидта Советский патент 1949 года по МПК G01B9/02 G01M11/02 

Предметом изобретения является интерферометр для определения параметров оптических пластин -Шмидта.

Особенностью интерферометра является применение в нем выпуклого зеркала для автоколлимации с той целью, чтобы получить интерференцию между лучами, проходящими дважды через испытуемую пластинку, и лучами, отраженными от плоского- эталонного зеркала.

На чертеже показана схема интерферометра и ход лучей в нем.

Испытуемая пластинка 1 устанавливается в пучке лучей коллиматора 2 с искусственным источником света 3. Лучи света, прошедшие через пластинку 1, падают на вогнутое зеркало 4 и затем на выпуклое зеркало 5, расположенное своим центром в фокусе зеркала 4. Отразившись от зеркала 5, лучи идут обратно и, пройдя вторично через пластинку /, отражаются.от наклонной плоскопараллельной пластинки 6 и направляются в зрительную трубу 7.

Часть лучей из коллиматора 2 плоскопараллельная пластинка 6 направляет непосредственно на эталонное плоское зеркало 8, от которого, отразившись, лучи также попадают в зрительную трубу 7, где интерферируют с лучами, дважды прошедшими через испытуемую пластинку 1. По интерференционной картине в зрительной трубе судят о качестве и параметрах испытуемой пластинки ).

Для уменьшения габаритов устройства испытание пластинки / можно вести по участкам, используя передвижные лромежуточные оптические элементы между коллиматором 2 и плоскопараллельной пластинкой 6 в виде, например, пеитапризм.

В качестве зеркала 4 можно применить вогнутое зеркало той трубы, для которой предназначена испытуемая пластинка.

Предмет изобретения

Интерферометр для измерения точных асферических пластин Шмидта, в котором пластина ставится в оптическую систему, отличающийся применением в схеме выпуклого зеркала для автоколлимации, с целью получения интерференции между лучами, проходящими дважды через пластинку, и лучами, отраженными от эталонного зеркала.

5167