Предметом изобретения является способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков, основанный на явлении интерференции. Известны того же назначения способы измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции, основанные на двукратном отражении от противоположных поверхйостей измеряемого объекта одного из интерферирующих пучков лучей.
В предлагаемом способе измерения плоских концевых мер и диаметров шариков .отраженный пучок лучей идет обратно по прежнему направлению. Благодаря этому один из интерферируюш,их лучей дважды отражается от .противоположных поверх1настей концевой меры, падая по нормалям к этим поверхностям. Это позволяет применить данный метод для измерения диаметров шариков.
Ыа фиг. I и 2 «зображена оптическая схема интерферометра, используемого для осуществления способа, в двух вариантах исполнения.
Q - лампочка накаливания, L - конденсорная линза, М - коллиматор, Ki, Кг, K.Z V. Ki - кубики с полупрозрачной диагональю, NI и
NZ - плоские зеркала с наружным алюминированием, R - измеряемая плитка Йога-неона, Р - стеклянная плоскопараллельная /пластинка, клиновый компенсатор, Т-зрительная трубка.
Кубик /Ci разделяет падающий на него параллельный пучок лучей на два) пучка. Пучок / помеле отражений от диагоналей четырех кубиков падает в зрительную трубку Т.
Пучок // проходит через кубик /Сь отражается от первой по верхности калибра R, после чего последовательно отражается от диагонали кубика /Сь от зеркал NI и N, от диагонали кубика Kz и на вторую поверхность калибра R, отразившись от которой, проходит через кубик /Са и падает в зрительную трубку. Пучки / и // интерферируют между собой. Кубики /Сз и К служат для компенсации толщины стекла, проходимого пучком // в кубиках К и Ki, а также и для соответствующего ослабления пучка /.
В окуляр зрительной трубки видна система прямых интерференционных полос, ширину и наклон которых можно регулировать, например,, поворотами кубика K-t831
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ интерференционного контроля | 1960 |
|
SU144999A1 |
Способ измерения эллиптичности шариков | 1941 |
|
SU63059A1 |
Бесконтактный интерференционный индикатор | 1950 |
|
SU100704A1 |
Способ и прибор для испытания правильности формы поверхности шарика или цилиндра | 1941 |
|
SU61938A1 |
Оптический микрометр | 1954 |
|
SU104421A1 |
ДВУСТОРОННИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕВЫХ МЕР ДЛИНЫ | 2014 |
|
RU2557681C1 |
ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОНЕОДНОРОДНОСТЕЙ ПРОЗРАЧНЫХ СРЕД И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ | 1993 |
|
RU2094759C1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТР МАЙКЕЛЬСОНА С ПОДВИЖНЫМ ОТРАЖАТЕЛЕМ (ЕГО ВАРИАНТЫ) | 1994 |
|
RU2092786C1 |
Устройство для измерения линейных размеров детали | 1982 |
|
SU1163140A1 |
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ | 2012 |
|
RU2518844C1 |
Авторы
Даты
1949-01-01—Публикация
1946-11-25—Подача