Способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции Советский патент 1949 года по МПК G01B11/08 

Описание патента на изобретение SU78518A1

Предметом изобретения является способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков, основанный на явлении интерференции. Известны того же назначения способы измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции, основанные на двукратном отражении от противоположных поверхйостей измеряемого объекта одного из интерферирующих пучков лучей.

В предлагаемом способе измерения плоских концевых мер и диаметров шариков .отраженный пучок лучей идет обратно по прежнему направлению. Благодаря этому один из интерферируюш,их лучей дважды отражается от .противоположных поверх1настей концевой меры, падая по нормалям к этим поверхностям. Это позволяет применить данный метод для измерения диаметров шариков.

Ыа фиг. I и 2 «зображена оптическая схема интерферометра, используемого для осуществления способа, в двух вариантах исполнения.

Q - лампочка накаливания, L - конденсорная линза, М - коллиматор, Ki, Кг, K.Z V. Ki - кубики с полупрозрачной диагональю, NI и

NZ - плоские зеркала с наружным алюминированием, R - измеряемая плитка Йога-неона, Р - стеклянная плоскопараллельная /пластинка, клиновый компенсатор, Т-зрительная трубка.

Кубик /Ci разделяет падающий на него параллельный пучок лучей на два) пучка. Пучок / помеле отражений от диагоналей четырех кубиков падает в зрительную трубку Т.

Пучок // проходит через кубик /Сь отражается от первой по верхности калибра R, после чего последовательно отражается от диагонали кубика /Сь от зеркал NI и N, от диагонали кубика Kz и на вторую поверхность калибра R, отразившись от которой, проходит через кубик /Са и падает в зрительную трубку. Пучки / и // интерферируют между собой. Кубики /Сз и К служат для компенсации толщины стекла, проходимого пучком // в кубиках К и Ki, а также и для соответствующего ослабления пучка /.

В окуляр зрительной трубки видна система прямых интерференционных полос, ширину и наклон которых можно регулировать, например,, поворотами кубика K-t831

Похожие патенты SU78518A1

название год авторы номер документа
Способ интерференционного контроля 1960
  • Коломийцев Ю.В.
SU144999A1
Способ измерения эллиптичности шариков 1941
  • Коломийцев Ю.В.
SU63059A1
Бесконтактный интерференционный индикатор 1950
  • Каразин И.В.
  • Коломийцов Ю.В.
SU100704A1
Способ и прибор для испытания правильности формы поверхности шарика или цилиндра 1941
  • Коломийцев Ю.В.
SU61938A1
Оптический микрометр 1954
  • Байбазаров А.А.
  • Коломийцев Ю.В.
SU104421A1
ДВУСТОРОННИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕВЫХ МЕР ДЛИНЫ 2014
  • Орлов Вячеслав Васильевич
RU2557681C1
ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОНЕОДНОРОДНОСТЕЙ ПРОЗРАЧНЫХ СРЕД И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 1993
  • Мещеряков Н.А.
  • Подъяпольский Ю.В.
RU2094759C1
ИНТЕРФЕРОМЕТР МАЙКЕЛЬСОНА С ПОДВИЖНЫМ ОТРАЖАТЕЛЕМ (ЕГО ВАРИАНТЫ) 1994
  • Мушкаев Виктор Васильевич
RU2092786C1
Устройство для измерения линейных размеров детали 1982
  • Крицын Анатолий Иванович
SU1163140A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1

Иллюстрации к изобретению SU 78 518 A1

Реферат патента 1949 года Способ измерения плоских концевых мер и диаметров шариков методом интерференции

Формула изобретения SU 78 518 A1

SU 78 518 A1

Авторы

Коломийцев Ю.В.

Даты

1949-01-01Публикация

1946-11-25Подача