Устройство для измерения характеристик магнитных полей Советский патент 1980 года по МПК G01R29/08 

Описание патента на изобретение SU785800A1

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК

1

Изобретение относится к измерительной технике.

Известно устройство для измерения характеристик магнитных полей в объемных экранах, содержащее концентратор магнитного поля в виде соединенных с генератором импульсного тока двух соосных колец Гельмгольца, между которыми размещены исследуемый объемный экран и встречно включенные измерительная и компенсационная катушки, псшключенные к входу регистратора U-l.

Однако известное устройство имеет низкую чувствительность при измерении характеристик магнитных полей в неразъемных заполненных экранах.

цель изобретения - повьвиеиие чувствительности при измерении характеристик магнитных- полей в неразъемных заполненных экранах.

Для этого в устройстве для измерения характеристик магнитных полей в объемных экранах, содержащем концентратор магнитного поля в виде соединенных с генератором импульсного тока двух соосных колец Гельмгольца, между которыми разметены исследуемый объемный экран .и встречно включенные измерительная и компенсацион-. МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ

,ная катушки, подключенные к входу регистратора, исследуемый объемныП экран размещен внутри полости измерительной катушки, ось которой установлена параллельно оси колец Гельмгольца, при этом плоскость сечения компенсационной катушки развернута относительно плоскости сечения измерительной катушки на угол od г (

oL-arccos

соответственно площадь

и W где; S. сечения и число витков измерительной катушки;

15 соответственно площгщь

«кисечения и число витков компенсационной катушки;

S - площадь сечения иссле20дуемого объемного экрана.

На чертеже приведена структурная схема устройства.

Устройство для измерения характе25ристик магнитных полей в объемных экранах содержит концентратор, магнитного поля в виде соединенных с генератором; импульсного тока двух сооснык колец 2 Гeльмгoльцa между ко30

вторыми размещены исследуемый объемный экран 3 и встречно включенные измерительная и компенсационная катушки 4 и 5 подключенные к входу регистратора б, причем исследуемый объемный экран 3 размещен внутри полости измерительной катушки 4, ось которой установлена Парешлельно Оси колец 2 Гельмгольца, при этом плоскость сечения компенсационной катушки 5 развернута относительно плоскости сечения измерительной катушки 4 на угол

d, равный. с лт

(Зц-Ьэ ц

cL-av-ccos ..

где; S. и W - соответственно площгщь сечения и.число витков измерительной катушки 4 S и Wj -, соответственно площадь сечения и число витков компенсационной катушки 5 ;

S - площадь сечения исследуемого объемного экрана 3 о

Устройство работает следукяцим образом.

В концентраторе магнитного поля в виде колец 1 Гельмгольца создается однородное магнитное поле И(t)и помещается в него исследуемый объемный экран 3,

Измерения магнитного поля )B полости исследуемого объемного экрана 3 производятся измерительной и компенсационной катушками 4 и 5, включенными встречно и расположенными одна под другой на таком расстоянии, чтобы поле наведенных токов, источником которых является исследуемый объемный экран 3 (как магнитный диполь), не влияло на компенсационную катушку 5.

Измерительная катушка 4 измеряет с различной эффективностью две величины: магнитное поле Я(4), сосредоточенное внутри исследуемого объемного экрана 3, с эффективностью, прогГорциональной S Wj,, и внешнее магнитное поле H.(t)c эффективностью, пропорциональной (5ц-5д}Ы, .Для компенсации сигнала от внешнегоfполя H(t) и предназначена компенсационная катушка с параметрами Sj, иц. Величина угла оС поворота компенсационной катушки 5 определяется из равенства

(Sv,-Sg VW,--S.Wn-co3,A.

Устройство по сравнению с прототи- пом имеет более высокую чувствительность при измерении характеристик магнитных полей в неразъемных заполненных экранах.

Формула изобретения

o Устройство для измерения характеристик магнитных полей в объемных экранах, содержащее концентратор магнитного поля в виде соединенных с генератором импульсного тока двух соОсных колец Гельмгольца, между которыми размещены исследуемый объемный экран и встречно включенные измерительная и компенсационная катушки, подключенные к входу регистратора,

п отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности при измерении характеристик магнитньк полей в неразъемных заполненных экранах, исследуемый объемный экран размещен внутри полости измерительной катушки, ось которой установлена параллельно оси колец Гельмгольца, при этом плоскость сечения компенсационной катушки развернута относительно плоскости сечения измерительной катушки на угол oL/ равный - (ц-5а)ОЦм

oi -агссо5 K-WK

где; S.. и Wy - соответственно плоW

щадь сечения и число витков измерительной катушки;

5. и Wj. - соответственно площадь сечения и число витков компенсационной катушки;

S - площадь сечения исследуемого объемного экрана.

Источники информации, 5 принятые во внимание при экспертизе .

1. Коленский Л.Л. и др. Экранирующие свойства металлической оболочки по отношению к импульсному магнитному полю. - Измерительная техни0 ка, 1971, 6 (прототип).

Похожие патенты SU785800A1

название год авторы номер документа
Устройство регистрации петель гистерезиса тонких магнитных пленок 2020
  • Беляев Борис Афанасьевич
  • Клешнина Софья Андреевна
  • Боев Никита Михайлович
  • Изотов Андрей Викторович
  • Горчаковский Александр Антонович
  • Шабанов Дмитрий Александрович
RU2737677C1
Феррометр для тонких магнитных пленок 2022
  • Клешнина Софья Андреевна
  • Подшивалов Иван Валерьевич
  • Боев Никита Михайлович
  • Горчаковский Александр Антонович
  • Соловьев Платон Николаевич
  • Изотов Андрей Викторович
  • Бурмитских Антон Владимирович
  • Крёков Сергей Дмитриевич
  • Грушевский Евгений Олегович
  • Негодеева Ирина Александровна
RU2795378C1
Петлескоп для исследования тонких магнитных пленок 2020
  • Беляев Борис Афанасьевич
  • Клешнина Софья Андреевна
  • Боев Никита Михайлович
  • Изотов Андрей Викторович
  • Горчаковский Александр Антонович
  • Шабанов Дмитрий Александрович
RU2737030C1
Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов 1977
  • Васильев Виктор Владимирович
  • Медведев Юрий Александрович
  • Степанов Борис Михайлович
SU646281A1
УСТАНОВКА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КОЛЕЦ ГЕЛЬМГОЛЬЦА 2011
  • Ковнацкий Валерий Константинович
  • Давыденко Ольга Григорьевна
  • Меркулова София Павловна
RU2491650C1
Устройство для измерения магнит-НыХ пАРАМЕТРОВ Об'ЕМНыХ эКРАНОВ 1979
  • Васильев Виктор Владимирович
SU809010A1
Локальный широкополосный спектрометр ферромагнитного резонанса 2022
  • Бурмитских Антон Владимирович
  • Беляев Борис Афанасьевич
  • Боев Никита Михайлович
  • Изотов Андрей Викторович
RU2784818C1
ВИБРАЦИОННЫЙ МАГНИТОМЕТР 2004
  • Гудошников Сергей Александрович
  • Козлов Александр Николаевич
  • Скомаровский Владимир Станиславович
RU2279689C2
ФЕРРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК 2020
  • Беляев Борис Афанасьевич
  • Клешнина Софья Андреевна
  • Боев Никита Михайлович
  • Изотов Андрей Викторович
RU2743340C1
Устройство для исследования технического состояния колонны труб в скважине 1988
  • Шлеин Алексей Тимофеевич
  • Попов Леонид Павлович
  • Терещенко Юрий Павлович
  • Возмитель Вячеслав Михайлович
  • Островский Виктор Ильич
  • Склянский Евгений Семенович
SU1518493A1

Иллюстрации к изобретению SU 785 800 A1

Реферат патента 1980 года Устройство для измерения характеристик магнитных полей

Формула изобретения SU 785 800 A1

SU 785 800 A1

Авторы

Васильев Виктор Владимирович

Медведев Юрий Александрович

Степанов Борис Михайлович

Даты

1980-12-07Публикация

1977-05-23Подача