Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов Советский патент 1979 года по МПК G01R33/00 

Описание патента на изобретение SU646281A1

(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕМНЫХ ЭКРАНОВ H(t) Нз Характер распространения поля Н (t) вне экрана можно понять, если считать, что для этого слу чая экран является магнитной антенной, ось диаграммы направленности которой совпадает с осью экрана {см. черт.) ..Прове денные нами измерения полей наведенных т ков Hgf-t) вне экранов с различными геомет рическими размерами показали, что для определения коэффициента экранирования экр на в импульсном магнитном поле достаточ-г но измерять поле наведенных токов И 2 (-t) . В этом случае коэффициент зк. /wax / ранирования равен , N - / . -.i /m-in HjCt)/ /mdx H {t)/H /тшНзС)/-амплитуды зарегистрированного сигнала при временах, соответствующих максимуму (iniotx и минимуК1у ( i miH ) функции Rgt-t) . Точность определения коэффициента экранирования объемных экранов предлагаемым устройством повышается и становитсяравной точности измерения указанного коэффициента известным уст ройством, когда длительность внешнего воздействия не превышает величиш г TH -проводим сек-, где d - радиус и R и Металла экрана, OL - коэффициент фо толщина экрана, мы экрана, С - скорость света. Величина Т,, ГТ.является показ . телем экспоненты импульсной характеристики экрана в зависимости от его параметров. Достаточно просто можно показать, ® индуктивност экрана, а R - его сопротивление. Как уже было сказано, эффект экран рования у немагнитных экранов состоит в том, что под действием внеинего маг нитного поля Н {Ч;} в экране наводятся токи, создающие поле наведенных токов НгЮ -В первый момент времени, существует Н(4) , поле наведенных токов HjCt) в полости эк рана направлено настречу внешнему. Затем, после того как поле И. (-t) закончило свое действие, поле наведенных токов меняет направлени так как энергия, накопленная в индуктивности экрана, релаксирует с характерным временем Т . Величина п ля наведенных токов Но (i) соответствующая временам существования Н Ct) , была бы равна Н (t) с братным -знаком, осли бы отсутствоали омические потери в млте|1иале экана, а также если пол1гчина Т бглла ы много больи1е времени супюствовоия ) Различие в величинах казанных полей во временном интервале Н (i) за счет омических потерь весьма ало, так как омическое сопротивление крана также весьма Ьало. А различие тих же полей в этом же временном инервале за счет T Lможно свести о минимума выбором длительности H,(t). Таким образом, для более точного определения коэ4)фициента экранирования о виду поля наведенных токов HjCb) треуется разделить во времени информаию о внешнем поле H(i) и информацию об импульсной характеристике экрана. Это достигается тем, что коэфициенты экранирования экранов опрееляют в импульсном однополярном магнитном поле длительностью, не превышаюЮ секВне экрана поле наведешштх токов Hg(t) меняет свое направление, поскольку в данном случае экран можно рассматривать как магнитный диполь. Это дает возможность, измерив Н (t) вне экрана, определять коэффициенты экранирования как разъемных, так и неразъемных заполненных экранов. При этом для их определения достаточно сделать одно измерение вместо двух, что естественно, упрЬшает процесс измерений и резко снижает требования ккалибровке измер 1телей, так как вместо проведения абсолютных измерений, как делалось ранее, проводятся относительные. Поскольку длительность внешнего воздействия т задается равной ot-c ТО информация о внешнем воздействии и об импульсной характеристике экрана и, следовательно. разделена в Этом случае коэффициент экранирова /lnOIXH2( ния обьемног-0 экрана естьК /min HgC-t)/ Таким образом, процесс определения коэ4|с1)ициента экранирования является следующим: в импульсное однородное П ,,vт- -Y поле Н. (t)длительностью I-- л г rt- сопда1пюе в концентраторе поля, вносят вначале датчик 4 магнитного поля, который ориентируют так, что ось пго

диаграммы гшпоаг лониости перповдикулярна вектору Й (,-t) . Этоусловие легко контролируется, так как в этом случае на экране осциллографа 5 сигнал отсутствует. Затем в концентратор поля 1 вносят экран 2 так, как это показано на че5ггеже, и после регистрации сигнала, взяв отношение амплитуд при t ШОЧ и t mill , получают значение коэффициента экранирования.

Формула изобретения

1. Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов, содержащее концентратор внешнего магнитного поля с расположенными внутри его объема экраном и датчиком магнитного поля, о т л и ч а ю ш е с я тем, что, с целью повышения чувствительности, датчик мпгнитногп ПОЛЯ рас1узлг1Ж 11 гчю экрана.

2. Устройство по п. 1, о т я и ч 0ю ш е е с я тем, что датчик магшггнога поля выполнен в вид мочпой антенны из двух KOfrrypoB, пключениьк встречно на общую нагрузку, при этом геометрические размеры рамочной антенны выбраны не менее размеров экрана, а контуры рамочной aiiTeHHfjf расположены симметрично относительно сх;и, перпендикулярной вектору напряженности внешнего магнитного поля и делящей экран на две равные части.

Источники информации, принятые во

внимание при экспертизе

1. Коленский Л. Л. и др. Экранирующие свойства металлической оболочки но отнощению к импульснок-гу магнитному полю. Измерительная техника, 1971, № 6.

,(()

/1

)

-ff

Похожие патенты SU646281A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения магнит-НыХ пАРАМЕТРОВ Об'ЕМНыХ эКРАНОВ 1979
  • Васильев Виктор Владимирович
SU809010A1
Устройство для измерения характеристик магнитных полей 1977
  • Васильев Виктор Владимирович
  • Медведев Юрий Александрович
  • Степанов Борис Михайлович
SU785800A1
Устройство для измерения электромагнитных параметров объемных экранов 1983
  • Яремчук Анатолий Антонович
  • Тарабан Николай Евгеньевич
  • Мелехов Сергей Сергеевич
  • Бобков Юрий Владимирович
SU1228150A1
ВЫСОКОСКОРОСТНОЙ ИНИЦИАТОР С ЕМКОСТНЫМ ДАТЧИКОМ ЦЕЛИ 2014
  • Шаврин Андрей Георгиевич
  • Удовиченко Владимир Николаевич
  • Антипов Сергей Иванович
  • Шанина Лариса Викторовна
  • Прудкой Николай Александрович
  • Коршаков Алексей Николаевич
  • Зорькин Александр Николаевич
RU2572856C1
Устройство для измерения электромагнитных параметров объемных экранов 1987
  • Яремчук Анатолий Антонович
  • Тарабан Николай Евгеньевич
  • Бобков Юрий Владимирович
  • Малов Юрий Петрович
SU1583981A1
СИСТЕМА ИНДУКТИВНОГО СЧИТЫВАНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ СИГНАЛОВ ОТ ТЕЛА 2018
  • Петерс, Ваутер Герман
  • Клейнен, Марк
  • Додеман, Герардус Йоханнес Николас
  • Беземер, Рик
  • Лейссен, Якобус Йозефус
  • Гросфельд, Ронни Хубертус Йоханнес
RU2795044C2
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНОЙ И ЗАРЯДОВОЙ СОСТАВЛЯЮЩИХ СИГНАЛА ПРИ ИЗМЕРЕНИЯХ МАГНИТНОЙ КОМПОНЕНТЫ ВНУТРЕННЕГО ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИМПУЛЬСА 2012
  • Пашкович Игорь Константинович
  • Потапенко Андрей Иванович
  • Фесик Евгений Александрович
RU2495439C1
ЭКРАНИРОВАННАЯ МАГНИТНАЯ РАМОЧНАЯ АНТЕННА 2010
  • Орлов Александр Борисович
  • Зарубин Вячеслав Владимирович
  • Крылов Алексей Николаевич
  • Бацула Александр Пантелеевич
  • Волков Константин Михайлович
  • Вуколов Алексей Эрнестович
RU2433513C1
УСТРОЙСТВО АВТОНОМНОЙ РЕГИСТРАЦИИ ИМПУЛЬСНОГО МАГНИТНОГО ПОЛЯ 2013
  • Гончаров Василий Павлович
  • Молочков Виктор Федорович
  • Филатов Михаил Михайлович
RU2533347C1
Сверхпроводящий гравиметр 1985
  • Менде Ф.Ф.
  • Чаркин В.А.
  • Иванов А.И.
  • Пишиц А.Е.
  • Адамович П.Л.
  • Рыбалка Н.Ф.
  • Костромицкий М.И.
  • Тюкова В.И.
SU1289336A1

Иллюстрации к изобретению SU 646 281 A1

Реферат патента 1979 года Устройство для измерения магнитных параметров объемных экранов

Формула изобретения SU 646 281 A1

SU 646 281 A1

Авторы

Васильев Виктор Владимирович

Медведев Юрий Александрович

Степанов Борис Михайлович

Даты

1979-02-05Публикация

1977-04-19Подача