Структуроскоп Советский патент 1981 года по МПК G01N27/80 

Описание патента на изобретение SU794449A1

1

Изобретение относится к неразрушающему контролю физико-механических характеристик деталей и материалов и может найти применение для контроля твердости деталей из ферромагнитных материалов.

Известно устройство, содержащее по две намагничивающие и измерительные обмотки, два фильтра, соединяемые с измерительными обмотками, фазометр, индикатор, сумматор и умножитель 1.

Недостатком устройства является то, что оно позволяет лишь разбраковывать детали, поскольку контролируемая деталь сравнивается с эталонной.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является структуроскоп, содержащий соединенные последовательно блокинг-генератор с включенным в цепь его обратной связи трансформаторным преобразователем и селективный усилитель, а также индикатор 2.

Однако данный структуроскоп имеет сравнительно низкую точность измерения из-за постоянного дрейфа нуля индикатора, который происходит вследствие нарущения динамического равновесия схемы.

Целью изобретения является повышение чувствительности.

Указанная цель достигается тем, что предлагаемый структуроскоп снабжен включенными между селективным усилителем и индикатором, последовательно соединеинымн выпрямителем, ключом и дифференциальным усилителем, конденсатором, посредством которого вход дифференциального усилителя соединен с общей щиной, и пороговым блоком, включенным

между выходом дифференциального усилителя и входом ключа, а второй вход дифференциального усилителя соединен с выходом выпрямителя.

На чертеже показана блок-схема структуроскопа.

Структуроскоп содержит трансформаторный преобразователь 1, блокннг-генератор 2, в цепь обратной связи которого включен преобразователь 1, последовательно соединенные с блокинг-генератором селективный усилитель 3, выпрямитель 4, ключ 5, дифференциальный усилитель 6, первый вход которого посредством конденсатора 7

соединен с общей шиной, а второй вход подключен к выходу выпрямителя и индикатор 8, а также пороговый блок 9, вход которого подключен к выходу дифференциального усилителя, а выход - ко второму

входу ключа.

Структуроскоп работает следующим образом.

Испытуемая деталь помещается в катушку трансформаторпого преобразователя 1, что вызывает изменение амплитуды гармонических составляющих сигнала, подаваемых через селективный усилитель 3 на вход выпрямителя 4. С выхода выпрямителя сигнал поступает на вход дифференциального усилителя 6 и через открытый ключ 5 на второй вход дифференциального усилителя и конденсатор 7. Так как изменение напряжения происходит достаточно быстро, то рост напряжения на втором входе дифференциального усилителя отстает от роста напряжения на первом входе. Поскольку напряжения на входах оказываются разными, то эта разница усиливается дифференциальным усилителем 6 и поступает на индикатор 8.

Одновременно с выхода дифференциального усилителя сигнал поступает на вход порогового блока 9, сигнал с выхода которого закрывает ключ 5 и, тем самым сохраняется разница напряжений на входах дифференциального усилителя.

При медленном изменении напряжения на выходе выпрямителя 4 сигналы на входах дифференциального усилителя будут равными, и, следовательно, напряжение на его выходе будет равным нулю. Таким образом, осуществляется отстройка от «дрейфа нуля при измерениях.

Формула изобретения

Структуроскоп, содержащий соединенные последовательно блокинг-генератор с включенным в его обратной связи трансформаторным преобразователем и селективный усилитель, а также индикатор, отличающийся тем, что, с целью повыщения чувствительности, он снабжен включенными между селективным усилителем и индикатором, последовательно соединенными выпрямителем, ключом и дифференциальным усилителем, конденсатором, посредством которого вход дифференциального усилителя соединен с общей шиной, и пороговым блоком, включенным между выходом дифференциального усилителя и входом ключа, а второй вход дифференциального усилителя соединен с выходом выпрямителя.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство

СССР № 411367, кл. G 01 N 27/84, 1973.

2.Авторское свидетельство СССР № 492796, кл. G 01 N 27/86, 1974 (прототип).

Похожие патенты SU794449A1

название год авторы номер документа
Структуроскоп 1981
  • Килин Степан Николаевич
  • Карамышев Мурад Арифович
  • Аликин Владимир Иванович
  • Новиков Владимир Федорович
SU991279A2
Устройство для контроля поверхностных слоев ферромагнитных объектов 1985
  • Килин Степан Николаевич
  • Малышев Виктор Иванович
SU1234765A2
Структуроскоп 1985
  • Килин Степан Николаевич
SU1272213A1
Способ контроля поверхностного слоя деталей из ферромагнитных материалов и устройство для его осуществления 1981
  • Килин Степан Николаевич
  • Карамышев Мурад Арифович
SU989453A1
Структуроскоп 1974
  • Килин Степан Николаевич
  • Карамышев Мурад Арифович
SU492796A1
Степенной преобразователь 1988
  • Калько Ростислав Александрович
  • Бурдыкин Сергей Васильевич
  • Заливако Евгений Казимирович
SU1711199A1
ВИХРЕТОКОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП 1995
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Арбузов Виктор Олегович
  • Рогачев Виктор Игоревич
  • Дидин Геннадий Анатольевич
RU2085932C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭРЦИТИВНОЙ СИЛЫ МАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ 2001
  • Безлюдько Геннадий Яковлевич
  • Волохов Сергей Алексеевич
  • Косовский Д.И.
  • Мужицкий В.Ф.
  • Соболь Николай Валентинович
  • Сухотин Евгений Григорьевич
RU2186381C1
Устройство для контроля поверхностных слоев ферромагнитных объектов 1980
  • Килин Степан Николаевич
  • Коннов Валерий Николаевич
  • Карамышев Мурад Арифович
  • Горлицына Тамара Васильевна
  • Аликин Владимир Александрович
SU896534A1
Структуроскоп 1976
  • Килин Степан Николаевич
  • Карамышев Мурат Арифович
SU574667A2

Иллюстрации к изобретению SU 794 449 A1

Реферат патента 1981 года Структуроскоп

Формула изобретения SU 794 449 A1

SU 794 449 A1

Авторы

Килин Степан Николаевич

Краснов Андрей Викторович

Карамышев Мурад Арифович

Даты

1981-01-07Публикация

1979-02-14Подача