1
I Изобретение относится к измерительной технике и может использо-. ваться для определения напряжений и деформаций в изделиях из диэлектрических материалов.
Известен способ определения механических Напряжений, заключанлцийся в том, что облучают поверхность материалов монохроматическим, линейнополяризованным, модулированным излучением, измеряют интенсивность отраженного излучения с плоскостью поляризации, перпендикулярной поляризации падгиощего излучения, и определяют по измеренной интенсивности величину механических напряжений 1
Недостатком этого способа является влияние на точность измерения качества поверхности материала..
Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ определения механических напряжений в изделиях из диэлектрических материалов, заключающийся в том, что поверхность материала облучают монохроматическим, линейно-поляризованным, модулированным электромагнитным излучением, измеряют интенсивность зеркально отраженного излучения и интенсивность диффузно
рассеянного излучения и по отношению интенсивностей определяют механические напряжения 2 .
Основным недостатком этого способа является низкая точность измерений, вызванная регистрацией интенсивностей по раздым направлениям.
Цель изобретения - повышение точности измерений.
0
Поставленная цель достигается тем, что измеряют интенсивность компоненты отраженного излучения в плоскости поляризации падающего излучения.
5
На чертеже представлена схема реализации способа.
Способ осуществляется следующим образом.
Пучок 1 монохроматического излуг0чения от лазера 2 поляризуется поляризатором 3, проходит через модулятор 4 и освещает поверхность 5 изделия из диэлектрического материала. Отраженное излучение проходит через 5 анализатор 6, который вращается на оси 7, перпендикулярной пучку, регистрируется фотоприемником 8 и измеряется осци.ллографом 9. Таким образом, фотоприемник 8 регистрирует 0 интенсивность компоненты отраженного излучения в плоскости поляризации падакицего излучения При повороте анализатора б вокруг оси 7 параллел но пучку (показано пунктиром) фотоприемник 8 регистрирует интенсивность зеркально отраженного излучения, которая измеряется осциллогра;фом 9. Механические напряжения опре деляются как отношение интенсивност И змерен ных осциллографом 9.. Изобретение позволяет повысить точность определения механических напряжений в изделиях из диэлектрических материалов, так как интенсив ности определяются по одному направ лению. Формула изобретения Способ определения механических напряжений в изделиях из диэлектрических материалов, заключающийся в том, что поверхность материала облуч:ают монохроматическим, линейнополяризованным, модулированным, электромагнитным излучением, измеряют интенсивность зеркально отраженного излучения и интенсивность диффузно рассеянного излучения и по о.тношению интенсивностей определяют механические напряжения, о т л и чающийся тем, что, с целью повышения точности, измеряют интенсивность компоненты отраженного излучения в плоскости поляризации падающего излучения. Источни ки и нф ормации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство СССР №216351, кл. G 01 В 15/06, 1967. 2.Авторское свидетельство СССР №638843, кл. G 01 В 11/16, 1977 (прототип)., о
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения напряжений в изделиях из диэлектрических материалов | 1980 |
|
SU932223A1 |
ВОЛОКОННО-ОПТИЧЕСКОЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО (ВАРИАНТЫ) | 2009 |
|
RU2429498C2 |
Способ эллипсометрических измерений | 1983 |
|
SU1288558A1 |
Эллипсометр | 1988 |
|
SU1695145A1 |
Миниатюрный оптический микрофон с резонатором на модах шепчущей галереи | 2021 |
|
RU2771592C1 |
Устройство для измерения параметров линейной поляризации светового пучка | 1987 |
|
SU1441209A1 |
Дистанционный способ обнаружения и оценки толщины пленок нефтепродуктов на морской поверхности | 1984 |
|
SU1224680A1 |
Устройство для измерения контура сечения прозрачных оптических элементов | 1985 |
|
SU1265472A1 |
Способ измерения шероховатости поверхности изделия и устройство для его осуществления | 1990 |
|
SU1781537A1 |
Способ измерения толщины тонких пленок на подложках | 1977 |
|
SU684299A1 |
Авторы
Даты
1981-01-30—Публикация
1979-04-26—Подача