Устройство для определения статическихХАРАКТЕРиСТиК МАгНиТНыХ МАТЕРиАлОВ Советский патент 1981 года по МПК G01R33/12 

Описание патента на изобретение SU819766A1

(54) УСТРОЙСТВО ДНЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТАТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МАГНИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Похожие патенты SU819766A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок 1982
  • Ходосов Евгений Федорович
  • Коновалов Александр Федорович
  • Зиновук Анатолий Васильевич
  • Манянин Геннадий Николаевич
  • Лаптиенко Аркадий Яковлевич
  • Глущенко Анатолий Андреевич
SU1078371A1
Устройство для контроля параметров тонких магнитных пленок 1984
  • Глущенко Анатолий Андреевич
  • Курочкин Вадим Иванович
  • Лаптиенко Аркадий Яковлевич
  • Ходосов Евгений Федорович
SU1291909A1
Радиоспектрометр 1985
  • Алимбек Бари Бариевич
  • Горбунова Елена Анатольевна
SU1283635A1
Способ определения структуры,величины и неоднородности внутреннего магнитного поля магнитоупорядоченных кристаллов и устройство для его осуществления 1983
  • Зарембо Лев Константинович
  • Карпачев Сергей Николаевич
SU1272205A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ АНТЕННЫ 1995
  • Николаев В.И.(Ru)
  • Сошников Э.Н.(Ru)
  • Хирьянов А.Т.(Ru)
RU2139549C1
Устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок 1980
  • Глущенко Анатолий Андреевич
  • Курочкин Вадим Иванович
  • Лаптиенко Аркадий Яковлевич
  • Ходосов Евгений Федорович
SU868661A1
Магнитометр 1988
  • Бурым Юлиан Андреевич
  • Иванов Виктор Алексеевич
  • Слипец Евгений Васильевич
  • Шапошников Александр Николаевич
SU1580298A1
СВЧ-ГОЛОВКА СКАНИРУЮЩЕГО СПЕКТРОМЕТРА ФЕРРОМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА 2019
  • Беляев Борис Афанасьевич
  • Боев Никита Михайлович
  • Изотов Андрей Викторович
  • Скоморохов Георгий Витальевич
  • Подшивалов Иван Валерьевич
RU2715082C1
Устройство для исследования эффекта баркгаузена 1975
  • Казаков Николай Степанович
  • Чернокоз Александр Яковлевич
  • Шингарев Александр Тимофеевич
SU557335A1
ЧУВСТВИТЕЛЬНЫЙ ЭЛЕМЕНТ СКАНИРУЮЩЕГО СПЕКТРОМЕТРА ФЕРРОМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА С ЧАСТОТНОЙ ПОДСТРОЙКОЙ 2019
  • Беляев Борис Афанасьевич
  • Боев Никита Михайлович
  • Изотов Андрей Викторович
  • Скоморохов Георгий Витальевич
  • Подшивалов Иван Валерьевич
RU2707421C1

Реферат патента 1981 года Устройство для определения статическихХАРАКТЕРиСТиК МАгНиТНыХ МАТЕРиАлОВ

Формула изобретения SU 819 766 A1

1

Изобретение относится к области проектирования и изготовления запоминающих устройств (ЗУ) на цилиндрических магнитных доменах (ЦМД), а более конкретно к аппаратуре контроля статистических характеристик тонких магнитных пленок (ТМП) в технологическом процессе изготовления ЗУ на ЦМД.

Известны устройства япя измерения статических характеристик ТМП с использованием магнитооптической техники l Такие устройства содержат осветитель, поляризатор и анализатор, систему электромагнитов для создания магнитных полей (парешлельного и перпендикулярного плоскости образца), фотоусилитель, двухкоординатный самописец, устройство для крепления образца.

Модулированный поляризованный све проходит через образец и синхронно детектируется на частоте модуляции. Получаемый сигнаш пропорционален поперечной восприимчивости пленки.

Для ТМП, используя теоретические .риближения, определяют намагниченность насыщения - 4 М и константу олнгзосиой к и aFm3OTpoiiHi.

Недостаток известных устройств заключается в небольшом диапазоне измерений.

Известно устройство для определения количества магнитного материала в образце, основанное на индуктивночастотном методе, состоящее из опорного высокостабилизированного генератора синусоидальных колебаний,, изме0рительного генератора, имеющего выносную индуктивность, смесителя частот, фильтра низкой частоты, преобразователя частота-напряжение и стрелочного индикатора f2. Поме5щение в соленоид образца в качестве сердечника приводит к сдвигу частоты измерительного генератора, пропорционсшьному количеству магнитного материёша в образце.

0

Устройство, откалиброванное по известно процентному содержанию махнитных материалов или их смесей пригодно для исследования образцов с неизвестным процентным содер5жанием известного магнитного наполнителя. Данное устройство позволяет определить количество магнитного, материала в непрозрачных изотропных массивных образцах, однако оно

0 не может быть применено для исследоваия статических характеристик магнитых материалов, в частности для конроля тонких магнитных пленок по основным техническим характеристикам. С целью расширения диапазона изepяe fiJIx параметров в устройство ля определения статических харакеристик магнитных материалов, содержащее катушку индуктивности, .измерительный генератор, опорный генератор , подключенные к выходам упомянутых генераторов последовательно соеиненные смеситель, фильтр низкой частоты, преобразователь чаетота-на пряжение , а также блок управления, введены электромагнит, блок управле™ ния частотой из1.шрительного генера-г тора, последовательно соелиненныв дифференцнрукадий блок и самописец, коммутатор, выходом подключенный ко второму входу самописца, блок nporpcuviмного управления величиной магнитного поля, блок управления направлением магнитного поля и частотомер, вход которого подключен ко входу преобразователя частот а- напряжен не, выход которого соединен с первым входом блока управления частот измерительного генератора, входом дифференцирующего блока и третьим входом самописца, первый вход коммутатора соединен с выходом блока управления величиной магнитного поля, второй вход - с первым выходом блока управления, третий вход - с первым выходом блока управления направлением магнитного поля, вход которого соединен со вторым выходом блока управления, а второй выход - с электромагнитом, третий выход блока управления соединен со вторым входом блока управления частотой измерительного генератораJ четвертый выход соединен со входом блока управления величиной магнитного поля, второй . выход которого связан с электромагнитом.

На фиг. 1 изображена структурная схема устройства для определения поля анизотропии в ТМП; на фиг. 2 гистерезисная зависимость &0 от на фиг. 3 - схематическая гистерезисная зависимость А / преобразованная в постоянный сигнал от Hti .

Устройст во для определения статических параметров в ТМП содержит электромагнит 1 для создания управляемого магнитного поля с ТМП 2 в качестве сердечника, катушку индуктивности 3, измерительный генератор 4, опорный генератор 5, блок 6 упра1вления величиной магнитного поля, блок 7 управления направлением магнитного поля, блок 8 управления частотой измерительного генератора, смеситель 9, блок управления 10 фильтр низкой частоты 11,преобразователь частота-напряжение 12,

дифференциругаций блок 13, самописец 14, коммутатор 15 и частотомер 16.

Устройство работает следующим образомо

Перед крнт, ТМП частота измери„ тельного г йЭратора 4 с помощью бло, ка 8 и частотомера 16, устанавливается равной частоте опорного генератора 5. При установке ТМП на выносную индуктивность контура измерительного генератора 4 частота контура изменяется на величину Д1) , т. е. внесение ТМП равносильно введению в контур сердечника.

Катушка индуктивности 3 с ТМП 2 в качестве сердечника, помещенная в 5 магнитное поле электромагнита 1,

определяет частоту генератора 4, которая смесителем 9 сравнивается с частотой генератора 5, и разность частот через фильтр низкой частоты © 11, подается на преобразователь 12, а с него на вход Y двухкоординатного самописца 14, вход X которого связан с выходом коммутатора 15. На вход X самописца 14 с блоков б 5 .или 7 через коммутатор 15 подается электрический сигнал, пропорциональный величине или азимутальному углу поворота магнитного поля относительно ТМП. Блок управления 10 управляет работой устройства, Дефференцирующий блок 13 фиксирует экстемумы и точки перегиба в регистрируемом сигнале. Частота .генератора 4 зависит от величины, перпендикулярной дифференциальной магнитной восприимчивости ( Н - слабое переменное магнитное поле, перпендикулярное плоскости ТМУП) , которая, в свою очередь, является функцией от величины и направления внетинего магнитного поля X, (it) . Изменение

И по заданному закону приводит к j изменению Х , что влечет за собой изменение индуктивности катушки индуктивности 3с ТМП 2 и, как следствие, изменение частоты измерительного генератора 4,

Последовательно имеем

ди-й1), J

АН - изменение внешнего магнитгденого поля по величине или направлению;

- изменение намагниченности образца, вызванное изменением внешнего магнитного поля ;

- изменение дифференциальной магнитной восприимчивости ТМП ,в зависимости от ;

Д1. - изменение индуктивности измерительного генератоР

iV - изменение резонансной частоты изме1рительного генератора 4;

ди - изменение напряжения, преобразованное в (1ОСТОЯННЫЙ сигнал.

Таким образом, изменяя величину и направление вне1янего магнитного поля и фиксируя изменение, частоты измерительного генератора 4 получают информацию о магнитных характеристиках ТИП, поскольку, начиная с некоторых значений магнитных полей (в зависимости от направления эти поля отличаются по величине), дальнейшее изменение частоты не происходит, так как ТИП перемагничивается и переходит в полностью намагниченное состоя,ние. Величины этих полей фиксируютсяЬи используются для определения статических параметров ТИП.

Намагниченность насыщения 4 JTMg определяют, помещая ТИП в изменяющееся по величине внешнее магнитное поле Н , перпендикулярное плоскости ТИП. Из зависимости Д1)(Н,), преобразованной в постоянный сигнал преобразователем 12, определяют величины магнитных полей Н и Н, , использующихся для нахождения 4 Jfl.

Формула для нахождения 4 FMg , полученная теоретически и подтвержденная экспериментально, имеет вид

H4H; jrM5.r.

На фиг. 2 схематически показана гистерезисная зависимость ли от Н и указаны поля HJ, и н, , использующиеся для нахождения AJTMg и определяемы дифференцирующим блоком 13.

При определении константы одноосной анизотропии К необходимо преварительное исследование распределения анизотропии в плосзсости ТМП для нахождения оптимального направления перемагничивания и исключения влияния вкладов других видов анизотропии (кубической орторомбической, связанной с отклонением оси легкого намагничивания от нормали в плоскости ТМП и т. д.). Для Э.ТОГО внешнее постоянное по величине магнитное поле, параллельное плоскости ТМП Ни создаваелюе электромагнитном 1, при помощи блока 7 вращают в плоскости пленк на и фиксируют при помощи самописца 14 изменение частоты генератора 4 в зависимости от азимутального угла поворота магнитного поля вокруг ТМП.

При помощи дифференциального блока 13 на графике распределения анизотропии в плоскости ТМП определяют положение минимашьного изменения частоты генератора 4.

При вращении при помощи блока 7 электромагнита 1 внешнее магнитное пjie н,, устанавливается вдоль направления минимального изменения л i)v,v(vi f

.выбранного в результате вращения поля. При помощи блока 6 управле,ния полем величина Н,, изменяется от О до Н , при котором прекращается изменение частоты генератора 4.

Зависимость дд(Н„) фиксируется при помощи самописца 14. Сигнал на самописец для фиксирования н вырабатывается дифференциальным блоком 13.

Константа анизотропии ц, определяется по формуле

(H.f V()/s

Из графика (Н,1)легко определяется поле Н , используемое для определения Кц.

Использование предлагаемого устройства для определения поля анизотропии ТМП позво яет осуществить контроль непрозрачных образцов и образцов с

0 размерами доменов менее 1 мкм для

контроля которых практически невозможно использовать магнитооптические устройства ,

25

Формула изобретения

Устройство для определения статических характеристик магнитных материалов, содержащее катушкуиндуктив0ности, измерительный генератор, опорный генератор , подключенные к выходам упомянутых генераторов последовательно соединенный смеситель, фильтр низкой частоты и преобразователь час5тота-напряжение, а также блок управления, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона из. меряемых параметров, в него введены электромагнит, блок управления частотой измерительного генератора, последовательно соединенные дифференцирующий блок и самописец. Коммутатор, выходом подключенный ко второму входу самописца, блок программного упf равления величиной магнитного поля, блок управления направлением магнитного поля и частотомер, вход которого подключен ко входу преобразователя частота-капвложение, выход которого

соединен с первым входом блока управ50

ления частотой измерительного генератора, входом дифференцирующего блока и третьим входом самописца, первый вход коммутатора соединен с выходом блока управления величиной

55 магнитного поля, второй вход - с первым выходом блока управления, третий вход - с первым выходом блока управления направлением магнитного поля, вход которого соединен со вторым выхоJ0 дом блока управления, а второй выход с электромагнитом, третий выход блока управления соединен со вторым входом блока управления частотой измерительного генератора, четвертый вы(ход соединен со входом блока управ

SU 819 766 A1

Авторы

Афонин Александр Михайлович

Барьяхтар Федор Григорьевич

Бесклубенко Валентин Анатольевич

Вайсман Феликс Леонидович

Горобец Юрий Иванович

Ильчишин Олег Васильевич

Киселев Валерий Николаевич

Даты

1981-04-07Публикация

1979-05-04Подача