Оптическая система Советский патент 1981 года по МПК G02B5/28 

Настоящее изобретение относится к оптическому приборостроению и может найти применение в самых различньс: приборах (спектрофотометрах, телескопах микроскопах, квантовых генераторах и т.д.). Известны зеркала, в которых для обе печения высокого :коэффициенга;Г отражения в широкой спектральной области используются непрозрачные пленки алюминия, расположенные на подложках l Недостатком таких зеркал является невысокий коэффициент отражения (8692%) в интервале длин волн 4ОО-85Онм При использовании нескольких зеркал такрго типа происходят большие потери све та. Известны также зеркала, содержащие подложку с расположенным на ней ннтёрференционным покрытием, состоящим из слоя алюминия и четного числа чередующихся слоев с меньшим и большим показателем преломления, причем к металлу прилегает слой с меньшим показателем; оптические толщины всех, за исключением слоя прилегающего к металлу, равны меж.Ду собой, оптическая толщина слоя, прилегающего к металлу, составляет О,6-О,8 от оптической толщины любого другого слоя 2J. Однако данные зеркала имеют недостаточную ширину зоны выссжого отрежения. Цель изобретения - псюьпиение коэффициента отражения в интервале длин волн 40О-85О нм и повышение выссжой терми ческой и механической прочности. Указанная цель достигается тем, что оптические толщины первых двух диэлектрических слоев каждого зеркала с меньшим и большим показателями преломления, считая от подложки, относятся как 1:О,78, опти.ческие толщины остальных слоев с меньшим и с большим показа телями преломления, выполненные нз смеси окислов квобия и лантана с конаентра- цией последнего 1О-5О% относятся как 1:2, количество слоев в первом зеркале выбрано равным четырем, а количество

слоев в каждом последующем зеркале увеличено на дба по сравнению с предыдущим.

На фиг. 1 изображена конструкц ш оптической системы; на фиг. 2 - конструкция i -го зеркала.

Система содержит рг сположенные последовательно зеркала (не указаны). Каждое зеркало состоит из подложки 1, не -. прозрачного слоя 2 алюминия, чередующихся диэлектрических слоев 3,4,5... (4+2tti). Слои с меньшим показатем преломления заштрихованы. Оптическая толщина первого диэлектрического слоя, прилегающего к алюминию, равна .117 нм, второго - 150 нм. Оптические толщины остальных слоев с меньшим показателем преломления равны 150 нм, с большим 300 нм. Допуск на оптические толщины слоев + 15%. В качестве материала для слоев с меньшим показателем преломления может применяться фтористый магний, криолит, двуокись кремния и т.п. Слои с большим показателем преломления выполнены из смеси окислов ниобия и лантана с концентрацией .последнего 1О-5О% Формула изобретения

Оптическая система, содержащая Jn по. следовательно расположенных зеркал, каждое из которых выполнено в виде подложфиг. 1

ки с расположенным на ней интерференционным покрытием, состоящим из слоя алюминия и четного числа чередующихся слоев с меньшим и большим показателем преломления, О1тличающаяся тем, что, с целью повышения коэффициента отражения в интервале длин волн 4ОО-850 нм и повышения термической и механической прочности, оптические толщины первых двух диэлектрических слоев каждого зеркала с меньшим и большим Показателями преломления, считая от подложки, относятся как 1:0,78, оптические толщины остальных слоев с меньшим и с большим показателем преломления, выполненные из смеси окислов ниобия и лантана с концентрацией последнего 1О-50% относятся как 1:2, количество слоев в первом зеркале выбрано равным четьфем, а количество слоев в каждом последующем зеркале увеличено на два по сравнению с предыдущим.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Хасс Г. и др. Физика тонких пленок, т. 2, М., Мкр, 1967, с. 290.

2.G.D. Optical of America. 45, p. 945, 1955 (прототип).

/57

/

/

//////////л