Оптический измеритель технологи-чЕСКиХ ВЕличиН Советский патент 1981 года по МПК G01B11/02 

1

Изобретение относится к контроль .1о-измерительной технике, в частности к измерениям технологических припусков твердых тел с помощью оптических приборовi

Известен оптический микрометр, который может быть использован и для иэмерёшя технологических величин, едяержг|1чйй объектив, окуляр/ оптический ёа&меп-г для смещения лучей, вы11С н4ййк1й в виде зеркал.а,ось поворота KOfaiJiOPO еосфавляет оетрай угол с й©рмадааю ;кеР€) поверхности . . Чвдв ет9Т0к данного уетройсфва зак-. 1йёч эётйя -в тем, что оно не ойесгдечиВ) иёйй едственвые замера-техаологйчвеки5с припусков поверхностей, накл нвнйих к базовой поверхности детали.

Наиболее близким к предлагаемому является оптический измеритель техйологических величин, содержащий последоват.ельно расположенные окуляр, оборачивающую систему и две параллельные оптические измерительные -.системы, каждая из которых включает оборачивающий узел, объектив и перископический блок 2.

Недостаток измерителя состоит в тбм, что он не позволяет непосредстЧ венно измерить технологический припуск наклонных относительно базы поверхностей детали.

Цель изобретения - измерение величины технологического припуска наклонных относительно базы поверхностей детали.

Поставленная цель достигается тем, что измеритель снабжен двумя расположенными между оборачивающим узлом и объективом в каждой кз оптических измерительных систем с возможностью

поворота относительно оси этой системьа, шкалами- с делениями в виде

параллельных ртрихов по всей площади,

и установленной между оборачивающей eиcтeмc й и оптическими, измерительными системами составной призмой с внутренними полупрозрачными :зеркаль-Н.ЫМИ покрытиями.

На фиг. 1 изображена оптическая схема измерителя технологических величин; на фиг. 2 - шкалы с измеряе мой деталью; на фиг. 3 - деталь с технологическими припусками.

Измеритель содержит (фит. 1) последовательно расположенные Окуляр 1, -Оборачивающую систему 2, составную призму 3 е внутренними полупрозрач.ными зеркальными покрытиями, две

параллельные оптические измерительные системы, каждая из которых вклю чает оборачивающий узел 4, шкалу 5 делениями в виде параллельных .штрих о&ъектив 6, перископический блок, служащий для излома оптической оси состоящий из склеенной кубпризмы 7 и прямоугольной призмы 8,с крышей, защитное стекло 9, объектив 10, кон денсор 11 и лампу. 12 подсветки. Кс1ждая.. измерительная шкала 5 сна жена делениями (фиг; 2), выполненны в виде параллельных штрихов 13 по всей площади шкалы и совмещаемых с изображением детали 14, и выставлен ных на ней концевых мер.15 или шабл на, как показано на фиг. 2. Деталь 14 (фиг. 3) имеет размер А с горизонтальными составляющими технологических припусков Д и AJ наклонных относительно базы поверхностей 16 и 17, расположенных соотвественно под углами с и (р относ тельно базовой поверхности 18. Опре деляемыми наклонными технологически припусками являются соответственно личины X.J и Х2, а размер заготовки 1Оптический измеритель технологи ческих величин работает следующим о разом. Числовой размер А детали .по базо поверхности 18 выражается равенство А А4 - { Д.Т + Дг ), где А., - размер заготовки , Ь,и Д2 горизонтальные составляющие Технологических припусков Х наклонных относительно ба зы поверхностей. В свою очередь Х д,. sin(f,, Х, Д,. Sintj 2f где Cf и ( углы наклона поверхностей 16 и 17 относительно базовой поверхности 18. . Для обработки детали в размер А необходимо определить Х и Kg. Для этого на базовой порерхности измеряемой детали с помощью концевых мёр 15 выставляется размер А. Затем каждый измерительный канал настраивается на соответствующую Сторону детали так, чтобы какой-либо из штрихов 13 проходил строго через точку О - пересечение в изображении поверхности .концевых мер 15 и базовой поверхности 18, при этом штрихи 13 поворотом измерительной шк лы устанавливаются параллельно наклонной относительно базы обрабатываемой поверхности детали. Количество штрихов, находящихся между штрихом, проходящим через точку О, и штрихом, проходящим по наклонной относительно базы поверхности, составляет величину Х или Х. Изображение в измерителе переда-, ется по оптической схеме через .защитное стекло 9, объектив 10, перископический блок, который обесп ечивает регулирование расстояния между его элементами, объектив 6, измерительную шкалу 5, с помощью которой проводятся измерения, оборачиванйдий узел 4 и объединяется с помощью составной призмы 3 в общую систему, содержащую оборачивающую систему 2 и окуляр 1. Призма 3 обеспечивает расположение изображения соответственно истинному расположению детали, что -: весьма Вс1жно при неравенстве наклонных технологических припусков X и 2-, Предлагаемое устройство обеспечивает высокопроизводительный и достаточно точный замер, наклонного технологического припуска на обработку деталей типа трапеций и различного . вида многоугольников. Формула изобретения Оптический измеритель технологических величин, содержащий последовательно расположенный окуЛяр, оборачивающую систему и две паргшлельные оптические измерительные системы, каждая из которых включает обрра:чивающий узел, Ъбъёктив и перископический блок, отличающийся тем, что, с целью измерения величины технологического припуска наклонных относительно базы поверхностей детали, он снабжен двумя расположенными между оборачивающим узлом и о.бъективом в каждой из оптических измерительных систем с возможностью поворота относительно оси система, шкалами с делениями в виде параллельных штрихов по всей площади,-и установленной между оборачиваницей системой и оптическими .измерительными системами составной призмой с внутренними полупрозрачными зеркальными покрытиями. . Источники информации, щ)инятые во внимание при экспертизе 1.Авторское свидетельство ССС 407186, кл. G 01 В 11/02, 1972. 2.Авторское свиде5.ельство СССР по заявке 2627429/28, кл. G 01 В 11/16, 1978 (прототип).