Способ отстройки дефектоскопа отВлияНия МЕшАющЕгО фАКТОРА Советский патент 1981 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU832444A1

(54) СПОСОБ ОТСТРОЙКИ ДЕФЕКТОСКОПА ОТ ВЛИЯНИЯ МЕШАЮЩЕГО ФАКТОРА

Похожие патенты SU832444A1

название год авторы номер документа
ВИХРЕТОКОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ ИЗДЕЛИЙ 1995
  • Булгаков В.Ф.
  • Гольдштейн А.Е.
  • Калганов С.А.
RU2090882C1
Способ вихретоковой дефектометрии 1979
  • Волков Борис Иванович
  • Горидько Вячеслав Викторович
SU875272A1
Вихретоковый дефектоскоп 1983
  • Клюев Владимир Владимирович
  • Малов Вячеслав Михайлович
  • Лялякин Валентин Павлович
  • Покровский Алексей Дмитриевич
  • Калинин Юрий Степанович
  • Федосенко Юрий Кириллович
  • Хвостов Александр Илларионович
SU1103141A1
Электромагнитный способ измерения электрической проводимости немагнитных материалов и устройство для его осуществления 1980
  • Клюев Владимир Владимирович
  • Косовский Давид Израилевич
  • Шкарлет Юрий Михайлович
  • Мужицкий Владимир Федорович
  • Лапшин Валерий Сергеевич
  • Никитин Анатолий Иванович
SU998937A1
СПОСОБ КОНТРОЛЯ СВОЙСТВ ОБЪЕКТА ИЗ ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ 2012
  • Покровский Алексей Дмитриевич
  • Хвостов Андрей Александрович
RU2487344C2
ВИХРЕТОКОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП 1995
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Арбузов Виктор Олегович
  • Рогачев Виктор Игоревич
  • Дидин Геннадий Анатольевич
RU2085932C1
Устройство для вихретокового контроля материалов и изделий 1986
  • Дмитриев Юрий Степанович
  • Буров Виктор Николаевич
SU1363052A1
Способ вихретоковой дефектоскопии 1978
  • Покровский Алексей Дмитриевич
  • Хвостов Александр Илларионович
SU785732A1
Устройство для неразрушающего вихретокового контроля 1978
  • Аринчин Сергей Александрович
  • Кузнецов Виктор Борисович
  • Рогачев Виктор Игоревич
  • Трахтенберг Лев Исаакович
  • Шкатов Петр Николаевич
SU789731A1
Имитатор сигналов для проверки и калибровки электромагнитных дефектоскопов 1980
  • Анохов Вадим Леонидович
  • Федосенко Юрий Кириллович
  • Черняев Валерий Сергеевич
  • Скоробогатько Евгений Сергеевич
SU920508A1

Реферат патента 1981 года Способ отстройки дефектоскопа отВлияНия МЕшАющЕгО фАКТОРА

Формула изобретения SU 832 444 A1

Изобретение относится к средствам и методам неразрущающего контроля и может найти применение при дефектоскопии металлических изделий вихретоковым дефектоскопом на наличие и измерение глубины поверхностных несплошностей, например трещин, при одновременной возможности отстройки от влияния мешающего фактора, например зазора. Известен способ согласно которому для более надежной отстройки от мещающих факторов, например изменения проводимости и магнитной проницаемости, два преобразователя возбуждают переменным током одинаковой частоты, снимают сигналы с преобразователей и поочередно через коммутатор подают на вычитающую схему. По разностному сигналу судят об измеряемом параметре . Недостатком известного устройства является неточность измерения в связи с дис кретностью коммутации сигналов. Известен также способ дефектоскопии изделий, заключающийся в том, что в зоне контроля дефектоскопа помещают дополнительную катушку, при помощи ЭДС которой автоматически регулируют чувствительность дефектоскопа, воздействуя ею на управляющие цепи усилителя 2. Однако вследствие нелинейной зависимости влияния мещающих факторов, например зазора, на выходное напряжение катушки, повышение точности имеет ограниченный зарактер. Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является способ отстройки дефектоскопа от влияния мешающего фактора, заключающийся в том, что сигнал вихретокового преобразователя суммируют с добавочным напряжением той же частоты, амплитуду и фазу которого меняют в зависимости от величины мешающего фактора, выделяют в соответствующих каналах дефектоскопа активную и реактивную составляющие суммарного напряжения и по реактивной составляющей судят о величине измеряемого параметра 3. Недостатком известного способа является невысокая точность измерения в процессе контроля изделия, так как регулировку добавочного напряжения производят в дискретные моменты времени ручным способом. Цель изобретения - повышение точности измерения. Указанная цель достигается тем, что предварительно определяют закономерность изменения составляющих суммарного напряжения от величины мешающего фактора, вводят эту закономерность в качестве опорного напряжения в канал выделения активной и в канал выделения реактивной составляющих суммарного напряжения, сравнивают текущие значения составляющих суммарного напряжения со значениями опорных напряжений этих каналов, выходными напряжениями которых изменяют амплитуду и фазу добавочного напряжения. На чертеже приведена блок-схема устройства, реализующего предлагаемый способ. Устройство содержит источник 1 переменного тока, фазовращатель 2, преобразователь 3, сумматор 4, формирователь 5 суммарного напряжения, канал 6 измерения амплитуды (активной составляющей суммарного сигнала), канал 7 измерения фазы (реактивной составляющей суммарного сигнала), формирователь 8 регулирующего сигнала канала 6, формирователь 9 регулирующего сигнала канала 7, блок 10 регулировки амплитуды добавочного напряжения, блок 11 регулировки фазы добавочного напряже10ния и индикатор 12. Источник 1 соединен с преобразователем 3, который соединен с одним входом сумматора 4, и с последовательно соединенными фазовращателем 2, блоком 10 и блоком 11, соединенным с другим входом сумматора 4. Через последнюю цепь на другой вход сумматора поступает добавочное напряжение. Выход сумматора 4 соединен с фор мирователем 5, выходы которого соединены с каналом 6, на выходе которого включен формирователь 8, соединенный выходом с управляющим входом блока 10. Параллельно входам канала 6 включены входы канала 7, на выходе которого включен формирователь 9, соединенный выходом с управляющим входом блока П. Выход формирователя 5, определяющий величину мещающего фактора, например зазора, подключен к управляющим входам формирователей и 9. Lj „«.ГГТ™™ 7 ™ ника 1 через фазовращатель 2 предварительной установки фазы, блоки 10 и 11 на другой вход сумматора 4, на первый вход которого поступает сигнал от преобразователя 3, который питает источник 1. Суммарный сигнал с сумматора 4 поступает на формирователь 5, где формируются три сигнала: сигнал X, пропорциональный активной составляющей суммарного напряжения, сигнал У - пропорциональный реактивной составляющей суммарного напряжения, сигнал Z - пропорциональный величине зазора преобразователь-изделие. Сигналы X и У с формирователя 5 поступают на формирователи 8 и 9 каналов 6 и 7, где формируются сигналы, пропорциональные, соответственно амплитуде А и arctg-y- суммарного напряжения. Сигнал, пропорциональный амплитуде, из канала 6 и сигнал Z, пропорциональный величине зазора, с формирователя 5 поступают на формирователь 8. Аналогично, сигнал Z с формирователя 5 и сигнал из канала 7 поступают на формирователь 9. В формирователях 8 и 9 вырабатывается эталонное напряжение, амплитуда и фаза которого меняются в зависимости от сигнала Z с формирователя 5, т.е. в зависимости от величины зазора преобразователь - изделие по определенному, напередзаданному закону. В формирователях 8 и 9 осуществляется сравнение амплитуд и фаз суммарного и эталонного напряжений и на основе разностей сравниваемых величин производится формирование управляющих сигналов, которые с выходов формирователей 8 и 9 поступают, соответственно, на блок 10 и блок 11 регулировки амплитуды и фазы добавочного напряжения. Индикатор 12 подключается к выходу канала 7. При установке преобразователя 3 на контролируемый объект формирователь 5 вырабатывает сигнал Z, пропорциональный величине зазора преобразователь-изделие, а формирователи 8 и 9 формируют сигналы управления, обеспечивающие установку определенной амплитуды и фазы добавочного напряжения и, тем самым, заданный режим настройки. Изменение величины зазора в процессе контроля (сканирования) приводит к изменению режима настройки и необходимости его корректировки, что осуществляется путем непрерывного сравнения параметров суммарного напряжения с эталонным напряжением, формированием управляющих сигналов в формирователях 8 и 9 и изменением амплитуды и фазы добавочного напряжения в блоках 10 и II так, что количественная связь между глубиной трещины и фазой суммарного напряжения остается неизменной. Закономерность изменения параметров эталонного напряжения в зависимости от величины зазора определяется при предварительных исследованиях и закладывается в формиро« « 8 « 9. Корректировка режима настt-t- t-f ройки осуществляется только при изменении величины зазора. Изменение величины зазора преобразователем и изделием в пределах О-2мм практически не сказывается на точности при определении глубины трещин в ферромагнитном материале в диапазоне О-15мм. Формула изобретения Способ отстройки дефектоскопа от влияния мешающего фактора, заключающийся в том, что сигнал вихретокового преобразователя суммируют с добавочным напряжением той же частоты, амплитуду и фазу которого меняют в зависимости от величины мешающего фактора, выделяют в соответствующих каналах дефектоскопа активную и реактивную составляющие суммарного напряжения и по реактивной составляющей судят о величине измеряемого параметра, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения предварительно определяют закономерность изменения составляющих суммарного напряжения от величины мешающего фактора, вводят эту закономерность в качестве опорного напряжения в канал выделения активной и в канал выделения реактивной составляющих суммарного напряжения, сравнивают текущие значения составляющих суммарного напряжения со значениями опорных напряжений этих каналов, выходными напряжениями которых изменяют амплитуду и фазу добавочного напряжения. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР № 196416, кл. G 01 В 7/06, 1966. 2. Авторское свидетельство СССР № 337711, кл. G 01 N 27/86, 1969. 3. «Дефектоскопия, 1976, № 3, с. 51-55 (прототип).

SU 832 444 A1

Авторы

Волков Борис Иванович

Даты

1981-05-23Публикация

1977-04-12Подача