Способ обнаружения дефектов и включенийВ МАТЕРиАлАХ Советский патент 1981 года по МПК G03B41/00 

Описание патента на изобретение SU832522A1

(54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ И ВКЛЮЧЕНИЙ В МАТЕРИАЛАХ

Похожие патенты SU832522A1

название год авторы номер документа
Устройство для высокочастотного фотографирования электрических неоднородностей объектов с гладкой поверхностью 1982
  • Дубина Анатолий Владимирович
  • Домород Нина Евгеньевна
  • Кожаринов Валерий Владимирович
SU1096602A1
Устройство для фотографирования объектов в токах высокой частоты 1980
  • Кожаринов Валерий Владимирович
  • Перепелкин Евгений Николаевич
  • Довгялло Анатолий Григорьевич
  • Чернетченко Ирина Владимировна
  • Любый Владимир Яковлевич
SU900242A1
Способ контроля объектов с рифленой поверхностью в электромагнитном поле высокой напряженности 1990
  • Блашенков Николай Михайлович
  • Жиженко Георгий Александрович
  • Кожаринов Валерий Владимирович
  • Филатов Сергей Иванович
SU1770944A1
Катящаяся разрядно-оптическаяОбКлАдКА 1979
  • Пивоваров Олег Николаевич
  • Романий Станислав Филиппович
  • Запевин Игорь Леонидович
  • Хаит Владимир Львович
SU798680A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ГАЗОРАЗРЯДНОГО СВЕЧЕНИЯ БИОЛОГИЧЕСКОГО ОБЪЕКТА 1991
  • Орлов Владимир Иванович[Ru]
  • Шабаев Владимир Павлович[Ru]
  • Черноситов Александр Владимирович[Ru]
  • Шабаев Валерий Павлович[Kz]
RU2072791C1
ЛАЗЕРНО-ИСКРОВОЙ СПЕКТРОАНАЛИЗАТОР 2000
  • Скрипкин А.М.
RU2163370C1
Способ регистрации дефектов на поверхности объектов 1985
  • Домород Нина Евгеньевна
  • Кожаринов Валерий Владимирович
  • Храповицкий Валерий Павлович
SU1345162A1
Способ исследования пористостиМАТЕРиАлА 1979
  • Забигайло Владимир Ефимович
  • Поляшов Александр Сергеевич
  • Пимоненко Николай Александрович
  • Гончаренко Вячеслав Александрович
SU798679A1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ МЕХАНИЧЕСКИХ ДЕФЕКТОВ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ 2014
  • Ситанов Дмитрий Вячеславович
  • Анжауров Антон Алексеевич
RU2579546C1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ ПРИ ПОМОЩИ ТОКОВ 1968
SU209968A1

Иллюстрации к изобретению SU 832 522 A1

Реферат патента 1981 года Способ обнаружения дефектов и включенийВ МАТЕРиАлАХ

Формула изобретения SU 832 522 A1

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества поверхности . Известны способы получения изобра жений различного рода объектов в высокочастотном, электромагнитном поле, которые основаны на создании выс кочастотного разряда между объектом и электродом, подключенным к генератору высокой частоты. На электрод на ладывается фотопленка, обра1денная эмульсией к объекту. Эти способы позволяют фиксировать на фотопленке структуру и детали объекта невидимые невооруженным глазом, а также глубинную структуру объекта l. Однако такие способы не обеспечивают получения качественных изображе ний на фотоматериале или качественных визуально наблюдаемых- изобра): ений объектов со сложной геометрией поверхности. Наиболее близким к предлагаемому техническим решением является способ обнаружения дефектов и включений в материалах, заключающийся в наложе нии высокочастотного разряда между образцом и прозрачным электродом, и регистрации свечения разряда. При этом промежуток между исследуемым объектом и электродом устанавливают внутри обкладки, плотно прижимаемой к изучаемому участку объекта. Обкладку, накладываемую на изучае1 ый участок объекта, выполняют из двух прозрачных эластично-пластичных диэлектриков, разделенных тонкой текстильной тканью. Один из слоев диэлектрика покрыт прозрачным токопроводящим слоем, через ячейки ткани возникает разряд, двумерное распределение которого зависит от электрического состояния фотографируемого или визуально наблюдаемого объекта 2 . Однако прижатие диэлектрической обкладки к поверхности исследуемого объекта не позволяет получить равномерный контакт с исследуемым объектом, если его поверхность имеет достаточно сложный рельеф и сложную геометрическую форму.Цель изобретения - повышение достоверности исследования для объектов со сложным рельефом поверхности. Поставленная цель достигается тем, что в известном способе обнаружения дефектов и включений в материалах исследований, образец погружают в жидкий диэлектрик, при этом прозрачный электрод устанавливают над свободной поверхностью жидкости.

На- чертеже изображено устройство позволяющее реализовать предлагаемы способ.

Устройство содержит ванну 1 с жидким диэлектриком 2, в которую помещен кoнтpoлиpye ftIй образец 3 так, что жидкий диэлектрик его полностью покрывает, и разрядно-оптическое устройство, состоящее из прозрачного электрода 4, оптического устройства 5 и фотоматериала или считывающего устройства б. Контролируемый образец соединен с выходом высокочастотного генератора 7.

Сущность способа заключается в том, что регистрируется неоднородность в распределении интенсивности свечения разряда в разрядном промежутке между поверхностью жидкого диэлектрика и прозрачным э ле к т родом.

Предлагаемый способ позволяет получать качественные изобретения контролируемых объектов с любой сложной формой и рельефом поверхности, так как достигается равномерность разрядного промежутка, заключенного между поверхностью жидкого диэлектрика и вторым электродом.

Формула изобретения

Способ обнаружения дефектов и включений в материалах, заключающийся в наложении высокочастотного разряда между образцом и прозрачным электродом и регистрации свечения разряда, отличающийс я тем, что, с целью повышения достоверности исследования для объектов со сложным рельефом поверхности, исследуемый образец погружают в жидкий диэлектрик, при этом прозрачный электрод устанавливает над свободной поверхностью диэлектрика.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Кирлиан В.Х. и Кирлан С.Д. В мире чудесных разрядов.

М., Знание, 1966.

2.Авторское свидетельство СССР

№ 209968, кл. G 03 В 41/00, 10.11.6 (прототип).

SU 832 522 A1

Авторы

Пивоваров Олег Николаевич

Гудков Леонид Александрович

Котельников Валерий Александрович

Кочетков Юрий Васильевич

Курсевич Петр Антонович

Балакшин Виктор Николаевич

Даты

1981-05-23Публикация

1979-07-23Подача