Способ обнаружения дефектов и включенийВ МАТЕРиАлАХ Советский патент 1981 года по МПК G03B41/00 

(54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ И ВКЛЮЧЕНИЙ В МАТЕРИАЛАХ

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества поверхности . Известны способы получения изобра жений различного рода объектов в высокочастотном, электромагнитном поле, которые основаны на создании выс кочастотного разряда между объектом и электродом, подключенным к генератору высокой частоты. На электрод на ладывается фотопленка, обра1денная эмульсией к объекту. Эти способы позволяют фиксировать на фотопленке структуру и детали объекта невидимые невооруженным глазом, а также глубинную структуру объекта l. Однако такие способы не обеспечивают получения качественных изображе ний на фотоматериале или качественных визуально наблюдаемых- изобра): ений объектов со сложной геометрией поверхности. Наиболее близким к предлагаемому техническим решением является способ обнаружения дефектов и включений в материалах, заключающийся в наложе нии высокочастотного разряда между образцом и прозрачным электродом, и регистрации свечения разряда. При этом промежуток между исследуемым объектом и электродом устанавливают внутри обкладки, плотно прижимаемой к изучаемому участку объекта. Обкладку, накладываемую на изучае1 ый участок объекта, выполняют из двух прозрачных эластично-пластичных диэлектриков, разделенных тонкой текстильной тканью. Один из слоев диэлектрика покрыт прозрачным токопроводящим слоем, через ячейки ткани возникает разряд, двумерное распределение которого зависит от электрического состояния фотографируемого или визуально наблюдаемого объекта 2 . Однако прижатие диэлектрической обкладки к поверхности исследуемого объекта не позволяет получить равномерный контакт с исследуемым объектом, если его поверхность имеет достаточно сложный рельеф и сложную геометрическую форму.Цель изобретения - повышение достоверности исследования для объектов со сложным рельефом поверхности. Поставленная цель достигается тем, что в известном способе обнаружения дефектов и включений в материалах исследований, образец погружают в жидкий диэлектрик, при этом прозрачный электрод устанавливают над свободной поверхностью жидкости.

На- чертеже изображено устройство позволяющее реализовать предлагаемы способ.

Устройство содержит ванну 1 с жидким диэлектриком 2, в которую помещен кoнтpoлиpye ftIй образец 3 так, что жидкий диэлектрик его полностью покрывает, и разрядно-оптическое устройство, состоящее из прозрачного электрода 4, оптического устройства 5 и фотоматериала или считывающего устройства б. Контролируемый образец соединен с выходом высокочастотного генератора 7.

Сущность способа заключается в том, что регистрируется неоднородность в распределении интенсивности свечения разряда в разрядном промежутке между поверхностью жидкого диэлектрика и прозрачным э ле к т родом.

Предлагаемый способ позволяет получать качественные изобретения контролируемых объектов с любой сложной формой и рельефом поверхности, так как достигается равномерность разрядного промежутка, заключенного между поверхностью жидкого диэлектрика и вторым электродом.

Формула изобретения

Способ обнаружения дефектов и включений в материалах, заключающийся в наложении высокочастотного разряда между образцом и прозрачным электродом и регистрации свечения разряда, отличающийс я тем, что, с целью повышения достоверности исследования для объектов со сложным рельефом поверхности, исследуемый образец погружают в жидкий диэлектрик, при этом прозрачный электрод устанавливает над свободной поверхностью диэлектрика.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

М., Знание, 1966.

№ 209968, кл. G 03 В 41/00, 10.11.6 (прототип).