Способ определения деформаций дви-жущЕгОСя лЕНТОчНОгО НОСиТЕля Советский патент 1981 года по МПК G01B7/16 

(54)СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ДВИЖУЩЕГОСЯ ЛЕНТОЧНОГО НОСИТЕЛЯ 38 перпендикулярно жестко закрепленному/ контрэлектроду 2 и движущегося по нему неподвижному носителю 3, на котором записан контрольшлй сигнал в виде двух линий 4 и прямой полосы 5, параллельной линиям А, генераторов пилообразного тока, соединенный с ЭЛТ 1, катод которой подключен к выходу источника 7 подсвета луча, резистор 8, заземляющий контрэлектрод 2, усилитель 9, селектор 10 импульсов, соединенный с усилителем 9, преобразователь 11 временного интервала в код, связанный с выходом селектора 10, бло 12 умножения, блок 13 вычиташ5Я, преобразователь 14 временного интервала код и триггер 15. Способ определения деформащш дви жущегося ленточного носителя осуществляется следукщим образом. Контрольный сигнал записывает на неподвижный носитель 3 в виде лини 4, расположенных на расстоянии Ъ. и прямой полосы 5 шириной (30 . При протягивании носителя луч ЭЛТ 1 сканирует по ширине движущегося неподвижного носителя 3. Движение луча обеспечивают подачей на ЭЛТ пилообразного тока от генератора 6 и высокого напряжения с выхода источника 7 подсвета луча на ЭЛТ 1, При перемещении луча по экрану потенциал электродов экрана достигает напряже. ния пробоя воздушного зазора мезеду экраном ЭЛТ 1 и веподвижиьм носителем 3. Следствием пробоя является не подвижный носитель 3 заряда, величин которого прямо пропорционально зависит от разности потенциалов между электродами и участкаьш неподвижного носителя 3, Перенесенный заряд стека в виде тока по цепи неподвижный носи тель 3, контрэлектрод 2, резистор 8. Ток, протекающий через резистор 8, создает на нем падение напряжения, уровень которого определяется величиной перенесенного заряда, Ири пере сечении лучом участков неподвижного носителя 3, имеющих достаточный поте циал j на них переносится вследствие пробоя заряд, величина которого от-личается от количества заряда, переносимого на незаряженные участки неПодвийсного носителя 3. На резисторе 8 формируются три импульса, два из которых короткие, длительность третьего, более широког импульса, обозначают через . В процессе движения неподвижного носителя 3 он подвергается поперечной деформации, поэтому нанесенные линии находятся на расстоянии t , отличном от Ъо Два коротких импульса, формируемые на резисторе 8,разнесены друг от друга на время tT равное вре. мени сканирования лучом расстояния b в со скоростью у, . Однако, ввиду того, что при движении носитель 3 подвержен также поперечным колебаниям, то временное рассогласование следования этих двух импульсов Iотлично от (/. Формируемые на резисторе 8 за один шаг сканирования лучом ЭЛТ 1 три импульса, усиленные в усилителе , поступают на вход селектора 10.С первого выхода последнего два коротких импульса последовательно поступают на счетный вход триггера 15, формируя на его выходе импульс, .длительность которого равна tfj.Со второго выхода селектора 10 на вход преобразователя 11 временного интервала в код поступает импульсг, формируемый в моменты сканирования луча ЭЛТ 1 по щирине прямой полосы 5, имеющий длительноеtb Ufl Величина последней отлична от величины длительности totg импульса, формируемого при сканировании луча ЭЛТ 1 по неподвижному носителю, т. е. когда отсутствуют поперечные колебания носителя. Ввиду упругих свойств диэлектрических носителей и малой ширины прямой полосы 5,последняя в процессе движения практически не деформируется. Поэтому деформация на величину длительности Tj( влияния не оказывает. Деформацию Д носителя 3 определяют по формуле . (О где V - скорость сканирования луча ЭЛТ 1. Однако эта формула не учитывает поперечные колеб ания неподвижного носителя 3. Величину поперечных колебаний неподвижного носителя 3 характеризует разность длительностей импульсовQ-S-V Поскольку |v существенно больше скорости поперечных колебаний носителя Ууц , допускают, что за один шаг сканирования носитель перемещается по линейному закону. Поэтому закон поперечных колебаний, полученный на расстоянии а, распрйстранин на расЬтояние Ь/ . Л-ГГ -Л-Сдо. Для устранения погрешностей измерени деформации из-за поперечных колебани носителя к формуле О)добавляют член VvAtfe с обратным знаком ( ) Формула С) определяет деформацда носителя. Если век торы скор остей V И совпадают, то относительная скорость перемещения луча ЭЛТ 1 по н сителю 3 меньше Уд а следовательно, длительность импульса t-Q больше чем tri в соответствии с принятым ус ао ловием, что закон изменения поперечных клебаний за один шаг сканировани луча ЭЛГ I линейный, длительность импульса tjj больше П поэтому из нее необходимо вычесть временной интервал, величина которого определяется выражением (з). Если векторы 7(у и V нащ)авлены противоположно, то длительность меньше Меньше С будет и величина Ь В этом.; случае выражение (3)отрицательно,т.е в формуле (4 Нтот член суммируется с разностыо tjj-t j ,компенсируя отрицательную разность. Формула (,4) принимает вид D-VcC d-I O,) (5) Преобразователи П и 14 временног .интервала в код преобразуют в код 66 длительности импульсо13 tj м соответственно. Блок 12 у14ножекия умножает значение кода длительности tjj- на величину ij/ol .. Блок I 3 вычитания вьздает разность Cjji - Ь/а tci по которой определяют деформации движущегося ленточного носителя. ТаКИМ образом при воспроизведении сигнала измеряют длительности импульсов при сканировании поп«ерек носителя езду двумя линиями и по ширине поло ы, по которым определяют деформации. Предлагаемый способ по сравнению с известными обладает высокой надежностью, точностью и быстродействием. Формула изобретения Способ определения деформаций движущегося ленточного носителя, за-клочающийся в , что на неподвижный носитель записывают контрольный сигнал в виде двух прямых линий, приводят носитель в движение, воспроизвоДят контрольный сигнал, по которому .определяют деформации,о т л и ч а ющ и и с я тем, что, с целью снижения трудоемкости определения деформаций, мезвду двумя линиями контрольного сигнала дополнительно записывают прямую пСшосу, а при воспроизг ведении сигнала измеряют длительности импульсов при сканировании поперек носителя мевду двумя линиями и по ширине полосы, по которым определяют деформации. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Авторское Свидетельство СССР по заявке № 2652420, кл. 01 В 7/16, 1978. 2.Авторское свидетельство СССР по заявке № 2403012, кл. G 01 В 7/16, |976 (прототип)., л