Образец для дилатометрического испытания материалов Советский патент 1950 года по МПК G01N25/16 

Известны дифференциальные дилатометры, служащие для определения коэффициента линейного расширения твердых тел, в которых эталон и цоследующий образец выполнены в виде сравнительно длинных стержней, нагреваемых до определенной температуры. Относительное изменение длины эталона и образца определяют по перемещению зеркальной поверхности, прижимаемой пружинами к эталону и образцу через переходные кварцевые стерж.ни.

Недостатком такого выполнения эталона и исследуемого образца и такого способа соединения их с зеральной поверхностью является искажение результатов измерения из-за возможного вмятия кварцевых переходных стержней в материал эталона и исследуемого образца, а также прогиба как кварцевых стержней, так и эталона и исследуемого образца.

В описываемом ниже изобретении этот недостаток устранен тем, что эталон и исследуемый образец выполнены значительно меньшей высоты и зеркальной поверхностью служат их торцовые поверхности.

На чертеже схематически изобран ен образец для дилатометрического испытания материалов.

Исследуемый образец выполнен в виде пустотелого цилиндра У (высотой 10-15 мм и диаметро.м 10-15 мм); в полость исследуемого образца вставлен эталонный образец 2 (диаметром 3-4 мм). Нагрев образца производят в печи 3 с электрическим обогревом. Для измерения температуры применяют термопару, рабочий конец которой помещается в отверстие 4 исследуемого образца.

Перед испытанием верхние торцы исследуемого и эталонного образцов микрощлифованием доводят до такого состояния, чтобы они лежали

в одной плоскости и образовывали зеркальную поверхность, включенную в измерительную ветвь интерферометра.

Для определения коэффициента линейного расширения собранный образец помещают в печь и нагревают до определенной темцературы; о величине относительного изменения длины образца судят по смещению интерференционных полос, лежащих на торцовых поверхностях эталонного и исследуемого образцов.

Предмет изобретения

Образец для дилатометрического испытания материалов путем сравнения линейного расщирения исследуемого образца с линейным расширением эталонного образца посредством микроинтерферометра, отличающийся тем, что он выполнен в виде пустотелого цилиндра из исследуемого материала и вставленного в полюсть этого цилиндра эталонного образца, верхние торцы которых находятся на одном уровне и образуют зеркальную поверхность, включенную в измерительную ветвь интерферометра.