Устройство для калибровки измерителейРАзНОСТи пОТЕНциАлОВ B пРОВОдящЕйСРЕдЕ Советский патент 1981 года по МПК G01R35/00 

Описание патента на изобретение SU842664A1

(54) УСТРОЙСТВО/ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ РАЗНОСТИ ПОТЕНЦИАЛОВ В ПРОВОДЯЩЕЙ СРЕДЕ

Похожие патенты SU842664A1

название год авторы номер документа
Устройство для калибровки измерителей электрического поля 1989
  • Богородский Михаил Михайлович
  • Жданов Михаил Семенович
  • Клековкин Владимир Александрович
  • Пидгирняк Ярослав Евстафьевич
  • Сопрунюк Петр Маркианович
SU1670648A1
Устройство для калибровки измерителей напряженности магнитного поля 1990
  • Кунике Владимир Петрович
  • Марков Владимир Глебович
  • Мелехов Валерий Яковлевич
SU1773872A1
Устройство для измерения электропроводности жидкостей 1983
  • Хажуев Владимир Натрибович
  • Неаполитанский Евгений Александрович
SU1133531A1
Датчик электрического поля в проводящей среде 1978
  • Селятицкий Владимир Георгиевич
  • Еремшин Владимир Фролович
  • Стешенко Николай Яковлевич
SU767670A1
Модуляционный преобразователь электрического поля 1977
  • Селятицкий Владимир Георгиевич
  • Сыпко Александр Павлович
SU638903A1
Устройство для определения геометрических параметров орудий рыболовства 1984
  • Портнягин Николай Николаевич
  • Шевчук Михаил Антонович
  • Степанов Герман Николаевич
  • Потапов Владимир Федорович
  • Коваленко Михаил Николаевич
  • Багин Борис Николаевич
SU1273042A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАЗНОСТИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОТЕНЦИАЛОВ ОБЪЕКТОВ С ИОННОЙ ПРОВОДИМОСТЬЮ, СПОСОБ ВОЗДЕЙСТВИЯ НА ЭЛЕКТРОПРОВОДЯЩИЕ ОБЪЕКТЫ И ПРИБОРЫ ДЛЯ ИХ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2003
  • Слюсарев Николай Владимирович
  • Кошель Григорий Леонидович
  • Осипов Владимир Сергеевич
  • Охлобыстин Николай Иванович
RU2314785C2
Устройство для электроразведки 1979
  • Селятицкий Владимир Георгиевич
SU949598A1
Широкополосный измеритель параметров диэлектриков 1983
  • Иванов Борис Александрович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Захаров Павел Томович
  • Ручкин Валерий Иванович
  • Федорина Игорь Алексеевич
  • Папенко Наталья Рафаиловна
  • Покалюхин Николай Алексеевич
SU1109670A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ ИЗМЕРИТЕЛЕЙ НАПРЯЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ПОЛЯ 1982
  • Пронин В.А.
  • Хилов В.П.
  • Тимофеев Е.П.
  • Аржанов С.Н.
SU1132689A1

Иллюстрации к изобретению SU 842 664 A1

Реферат патента 1981 года Устройство для калибровки измерителейРАзНОСТи пОТЕНциАлОВ B пРОВОдящЕйСРЕдЕ

Формула изобретения SU 842 664 A1

Изобретение относится к электрическим измерениям и может быть исполь зовано для калибровки измерителей раЗ ности потенциалов в морской воде, электролитических ваннах и т.д. i . Известны устройства для контроля потенциалов в объеме элекролита, содержащие злектрохимическую ячейку, заполненную проводящей жидкостью, ра бочий злектрод и электрод сравнения tl. Однако ЭТИ- устройства обладают низ кой точностью, поскольку не обеспечив вают точного воспроизведения условий работы измерителя. Известны Также устройства для ка либровки измерителей разности потенциалов в проводящей среде, содержащие помещенные в проводящую среду дв Вещающих и два измерительных электро да калибруемого измерителя разности потенциалов, источник образцового на пряжения, к которому подключены зада ющие злектроды, и измеригельный прибор, к которому подключены измерител ные электроды, и две диэлектрические . ячейки, в одну из которых помещены первый задающий и первый измерительный электрода, а в другую - другой задающий и другой измерительный электроды 21 , Недостатком таких устройств является органиченная точность, поскольку они не позволяют выполнять калибровку .непосредственно в месте испытаний . Цель изобретения - повышение точности устройства. Поставленная цель достигается тем, что в устройство для калибровки измеритеЛей разности потенциалов в проводящей среде, содержащее помещенные в проводящую среду два задающих и два измерительных электрода калибруемого измерителя разности потенциалов в проводящей среде, источник образцового напряжения, к которому подключены задающие электроды, и измерительный прибор, |с которому подключены измерительные электроды, две диэлектрические ячейки, в одну из которых помещены первый задающий и первый измерительный злектроды, а в другую - другой задающий и другой измерительный электродам, в каждую диэлектрическую ячейку введены клапаны,.связанные с исполнительным механизмом, и диэлектрическая перегородка, разделяющая дизлектрическую ячейку на полость рабочую, в которой расположены измер тельные электроды, и задающую, в которой расположены задаюксие электроды причем между задающей полостью и про водящей средой, задающей и рабочей полостями расположены клапаны. На чертеже изображена принципиаль ная схема устройства. Устройство содержит две диэлектри ческие ячейки 1 и 2, два задающих электрода 3 и 4, источник 5 образцового напряжения,рабочие полости 6 и 7, измерительные электроды 6 и 9, из мерительный прибор 10, диэлектрические перегородки 11 и 12, клапаны 1316, задающие полости 17 и 18, исполнительный механизм 19, проводящую ер ДУ 20. Устройство работает следующим обр зом. В режиме измерени 1 исполнительный механизм 19 устанавливает клапаны 13 16 в положение (9U При этом влияние собственного электрического поля задающих электродов или гальванических процессов двойного слоя электрод среда устраняется с помощью клапанов 14 и 15, обеспечивающих разделение внутренних полостей диэлектрических ячеек. Одновременно исполнительный механизм 19 с помощью клапанов 13 и 16 обеспечивает соединение полостей 6 и 7 с окружающей проводящей средой 20, в которой проводятся измерения. При проведении 1измерений, например, в морской среде, измеритель ные электроды 8 и 9 разносятся на некоторую измерительную базу вместе с диэлектрическими ячейками 1 и 2. В режиме калибровки исполнительный механизм 19 устанавливает клапаны 13 - 16 в положение б. При этом устранено влияние внешнего электрического поля, существующего в проводящей среде 20, и поляризационных процессов между задающими электродами 3 и 4 диэлектрических ячеек 1 и 2 при задании ha них калибровочных сигналов от источника 5 образцового напряжения. Это влияние устраняется с помощью клапсшов 13 и 16, обеспечивающих разделение рабочих полостей 6 и 7 диэлектрических ячеек 1 и 2 от внешней проводящей среды 20. Одновременно исполнительный механизм 19 с помощью клапанов 14, и 15 обеспечивает соединению рабочих 6 и 7 и задающих 17 и 18 псотостей диэлектрических ячеек I и 2. Кгшиброванные эначения разнос- ти электрических потенциалов от источника 5 задаются на электроды 3 и 4, сигнал с которых воздействует непосредственно на измерительны электроды 8 и 9. Таким образом, с помощью предлага емого устройства возможно проводить калибровку измерителей непосредственно в проводящей среде, к тому же тип измерительных электродов может быть любым. Формула изобретения Устройство для калибровки измерителей разности потенциалов в проводящей среде, о тличаю-щеес я тем, что, с целью повышения точности, в каждую диэлектрическую ячейку введены клапаны, связанные с исполнительным механизмом, и диэлектрическая, перегородка, разделяющая диэлектрическую ячейку на полость рабочую, в которой расположены измерительные электроды и задаощую, в которой расположены задающие электроды, причем между эагдающей полостью и проводящей средой, задающей полостью и рабочей полостью расположены клапаны. Источники информации, принятые.во внимание при экспертизе 1,Авторское свидетельство СССР 445897, G 01 N 27/52, 1972. 2.Авторское свидетельство СССР по заявке . 1964783,кл.С 01 R 35/00, 1973.

SU 842 664 A1

Авторы

Клековкин Владимир Александрович

Даты

1981-06-30Публикация

1974-04-11Подача