Способ определения собственнойфильТРАции РЕНТгЕНОВСКОгО излучАТЕля Советский патент 1981 года по МПК H05G1/26 

(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОБСТВЕННОЙ ФИЛЬТРАЦИИ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относится к рентгенотехнике а более конкретно к методам измерения параметров рентгеновских излучателей. Известен способ определения степени фильтрации рентгеновского излучения различными материалами, заключающийся в том, что производят измерение ослабления излучения фильтрами различной толщины и приводят измеренные величины, к какомулибо эквиваленту, например алюминиевЬму 1. Однако при изготовлении и эксплуатации рентгеновских аппаратов возникает не- обходимость определения собственной фильтрации рентгеновского излучателя, поскольку от его величины зависит радиационный выход и спектральный состав излучения. Наиболее близким техническим рещением к предлагаемому является способ определения собственной фильтрации рентгеновского излучателя, заключающийся в том, что определяют толщину фильтра, поглощение излучения которым эквивалентно ослаблению выходящего из фокуса излучения элементами излучателя (стекло трубки, изоляционное масло, выходное окно), причем способ реализуют с помощью набора эталонных элементов, т.е. косвенным образом 2. Однако такой метод хара ктеризуется невысокой точностью из-за отклонения реальных толщин и состава поглощающих элементов излучателя от эталонных, а также сложностью реализации, возникающей в результате необходимости размещения эталонных элементов в объеме излучателя (трубки). Цель изобретения - повыщение точности и упрощение средств реализации способа. Поставленная цель достигается тем, что в способе определения собственной фильтрации рентгеновского излучателя, заключающемся в том, что определяют толщину фильтра, поглощение излучения которым эквивалентно ослаблению выходящего из фокуса излучения элементами излучателя, производят измерение поглощения излучения набором фильтров различной толщины при, по крайней мере, двух значениях анрдного напряжения, по измеренным величинам строят графики зависимости степенного показателя функции интенсивность излучения - анодное напряжение от толщины фильтров для каждого значения анодного напряжения и по