Способ управления работойРЕНТгЕНОВСКОгО АппАРАТА Советский патент 1981 года по МПК A61B6/02 

(54) СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ РАБОТОЙ РЕНТГЕНОВСКОГО

АППАРАТА

1

Изобретение относится к рентгенотехнике и может применяться при настройке рейтгенодиагностических аппаратов и при их под регулировке входе эксплуатации./

Известно, что величина слоя половинного поглощения зависит от эффективней длины волны рентгеновского излучения и через нее связана с величиной анодного напряжения на рентгеновской трубке 1.

Наиболее близким техническим решением является способ управления работой рентгеновского излучателя, заключающийся в том, что излучение пропускают через эталон заданной толщины, регистрируют интенсивность прошедшего через эталон излучения, которое является мерой величины эффективного анодного напряжения, сравнивают интенсивность с заданной величиной и регулируют анодное напряжение на излучателе до совпадения величин 2.

Данный способ реализуют при ионизационной регистрации прошедщего через,эталон излучения, что позволяет осуществлять оперативный контроль за параметрами излучателя.

Фактически известный способ сводится к измерению кратности ослабления излучения слоем известного материала известной толщины и сравнению этой величинИОслабления этим слоем излучения с заданной эффективной длиной волны, т.е. соответствующего некоторому эффективному значению анодного напряжения. Поскольку табличной величиной ослабления для различных материалов является слой половинного ослабления, то и в известном способе предпочтительно работать с эталонами, соответствующими по толщине слоям половинного ослабления, хотя это не является существенной характеристикой известного способа.

Недостатком известного технического рещения является то, что для его реализации в рентгеновский аппарат необходимо вводить специальный контур регулирования, который отсутствует в больщрм количестве эксплуатируемых рентгеновских аппаратов. Тем не менее, задача настройки и подрегулировки таких аппаратов весьма актуаль на с точки зрения получения оптимальных условий для снимков, поскольку эффективная величина анодного напряжения имеет тенденцию к временному дрейфу, что обусловлено, например, изменением фильтрующих свойств среды, находящейся между рентгеновской трубкой и исследуемым объектом (масло, окно излучателя), а также и изменение параметров питающего устройства.

Цель изобретения упрощение средств реализации способа за счет использования фотографического метода регистрации излучения.

Поставленная цель достигается тем, что в способе управления работой рентгеновского аппарата, основанном на измерении толщины слой ПОЛОВИННОГО ослабления, определении по измеренной величине значения эффективного анодного напряжения, сравнении этого анодного напряжения с заданной вели.чиной и регулировании анодного напряжения на излучателе до совпадения сравниваемых величин, предварительно производят измерение толщин слоя половинного ослабления при всех уставках анодного напряжения на излучателе, по измеренным величинам определяют эффективные значения анодного напряжения для каждой уставки и их отклонения от номинальных значений уставки, по которым определяют величины регулирующего воздействия на анодное напряжение для каждой уставки, причем при каждом последующем цикле работы излучателя определяют указанным образом величину отклонения эффективного анодного напряжения от номинального для одной выбранной уставки, а величину регулирующего воздействия для любой другой уставки определяют какСд Uy , гдел1/г измеренное перед каждым циклом работы отклонение эффективного анодного напряжения от номинального для ь -ой уставки, tUi то жр отклонение для той же уставки при предварительном определении величин регулирующего воздействия и - отклонение эффективного анодного напряжения от номинального для j-ой уставки при предварительном определении величин регулирующего воздействия.

При этом, определение слоя полдвинного ослабления производят путем двукратного экспонирования рентгеновской пленки, часть которой накрыта измерительным клином, причем во время одной экспозиции остальная часть пленки экранирована от излучения, а во время другой экспонируегся, и параметры экспозиций выбирают идентичными.

Способ реализуется следующим образом.

Для каждой из основных уставок анодного напряжения определяют слой половинного поглощения какого-либо материала. Предпочтительно алюминия. На каждой уставке для этого производят двукратное экспонирование рентгеновской пленки, частично накрытой измерительным клином, причем во время одной экспозиции остальная часть плёнки экранирована от излучения, например, с помощью свинцовой пластины, а во время другой - открыта. Время экспозиций равное. После обработки фотопленки тот участок ее, который находится под клином и имеет равное почернение с открыто экспонированным во время одной из экспозиций участком пленки, и указывает на ту толщину клина, которая соответствует толщине слоя половинного поглощения для данной уставки анодного напряжения на рентгеновской трубке.

По измеренным толщинам слбя половинного поглощения для каждой уставки определяют эффективное значение анодного напряжения, которое и будет определять качество излучения, с комощью которого получают снимки пациентов. Как правило, эффективное значение анодного напряжения отличается от номинального напряжения, задаваемого уставкой, поскольку качество излучения, выходящего из излучателя в целом отлично от качества излучения, выходя-щего непосредственно с анода рентгеновской трубки. При этом, величины отклонений для каждого аппарата будут носить индивидуальный характер, поскольку они определяются и конструктивными особенностями и условиями предыдущей эксплуатации аппара та. Таким образом, для каждого аппарата составляют таблицу отклонений следующего вида:

П олученные величины отклонений л Uvn сами по себе определяют величины регулирующих воздействий, которые необходимо произвести на каждой уставке аппарата, поскольку диапазон напряжений, оптимальных для получения снимков хорощего качества, перекрывает ощибку данного метода. Для промежуточных величин уставок, величину регулирующего воздействи получают путем интерполяции.

При последующей эксплуатации рентгеновского аппарата достаточно произвести измерение отклонения от номинального значения уставки только для одной выбранной i-ой уставки анодного напряжения. Дело в том, что то ИЛИ;иное изменение в аппарате, приводящее к из1уенению отклонения от уставки, действует при всех уставках примерно пропорциональным образом, в результате чего отклонение для j-ой уставки может бь1ть определяют как (А Ц/лОгд) ., где Aui измеренное значение отклонения для i-ой устав;ки, и лЩч - измеренные значения отклонений для i-ой и j-ой уставок при предварительном определении величин регулирующего воздействия.

Через длительный период работы аппара-:

5 та или после ремонта и переналадки весь цикл измерений можно повторить.

В результате использования предлагаемого способа появляется возможность для.

любого аппарата подобрать характеристические для него величины регулирования анодного напряжения для каждой уставки, что приведет к повышению качества снимков.

Для широкого использования способа необходимо составление таблиц. определения эффективного анодного напряжения по толщинам слоя половинного поглощения.

Достоинством предлагаемого способа являются его простота и доступность при работе с персоналом средней квалификации.

Предлагаемый способ может осуществляться частично в ходе получения пробных снимков.

Формула изобретения

и их отклонения от номинальных значений

уставки, по которым определяют величины регулирующего воздействия на анодное напряжение для каждой уставки, .причем при каждом последующем цикле работы излучателя определяют указанным образом величину отклонения эффективного анодного напряжения от номинального для одной выбранной уставки, а величину регулирующего воздействия для любой другой уставки

определяют как ( AUi/AUta ) dU rAeUiизмеренное перед каждым циклом работы отклонение эффективного анодного напряже ния о номинального для i-ой устаакн, то же отклонение для той же уставки при предварительном определении величин регулирующего воздействия и- л-UjH - отклонение эффективного анодного напряжения от номинального для J-ой уставки при предварительном определении величин регулирующего воздействия.

часть пленки экранирована от излучения, а во время другой экспонируется, и парамет.ры экспозиций выбирают идентичными.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Шмелев В. К. Рентгеновские аппараты. М., «Энергия, IQZ3, с. 23-31.

2. Патент США № 2503075, кл. 250-103. опублик. 1950. (прототип).