Способ измерения нейтронных спектров Советский патент 1982 года по МПК G01T3/00 

Описание патента на изобретение SU843571A1

8

рассеяния нейтронов, измеренного при малых углах .

Предлагаемый способ заключается в следующем.

В пучок нейтронов помещают образец с больщим атомным номером Z, измеряют спектр рассеянных нейтронов под двумя разными углами Oi и вг, где , а . Искомый спектр получают вычитанием спектров, померенных на угле 62, из спектров померенных па тле вь

Предлагаемый способ связан с использованием щвингеровского рассеяния нейтронов на углы 1° + 5°. Характерной особенностью этого типа рассеяния является быстрый рост сечения рассеяния нейтронов с уменьщением угла рассеяния Э. Этот рост выражается формулой

шЛе) ctg,

где 7 - константа, пропорциональная заряду ядра Z.

Например, для рассеивателя - образца и при угле рассеяния 3°ашв(в) 0,25 б/ср, а при угле 0,4° Стщв (©) 14,80 б/ср. Чисто ядерные компоненты сечения рассеяния при столь малом различии углов рассеяния оказываются практически одинаковыми. Поэтому, если измерить спектры нейтронов при двух углах рассеяния (например, при 61 ° и нри 02 5°) и взять разность этих спектров, то число нейтронов в каждой энергетической группе разностного спектра будет пропорционально числу нейтронов в той же группе прямого спектра реактора и сечению щвингеровского рассеяния.

Более того, процедура нахождения спектра отличается тем, что сечение щвингеровского рассеяния не зависит от энергии нейтрона. Благодаря этому разностный спектр нейтронов просто совпадает по форме со

спектром нейтронов исследуемого источника. Все другие компоненты сечения рассеяния, в том числе и неупругого, уничтожаются при вычитании. Применение описанного

метода измерения спектра нейтронов возможно при достаточно хорощей коллимации пучка нейтронов, но при больщой мощности исследуе.мого источника это не вызывает затруднений в смысле потери интенсивности регистрируемого потока нейтронов.

Формула изобретения

Способ измерения нейтронных спектров, источников, состоящий в измерении спектров нейтронов, рассеянных образцом с большим атомным номером Z, помещенным в прямой пучок нейтронов источника, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности измерения спектров за счет устранения поправок на неупругое и многократное рассеяние в образце, измеряют спектр рассеянных на образце нейтронов при угле рассеяния нейтронов в диапазоне , при котором сечение щвингеровского рассеяния велико, и спектр рассеянных нейтронов на образце при угле рассеяния нейтронов в диапазоне 5°, а искомый спектр нейтронов источника определяют путем вычитания спектра рассеяния, измеренного при больщих углах , из спектра рассеяния нейтронов, измеренного при малых углах 1°: .

Источпики информации,

принятые во внимание при экспертизе

1.Трыков Л. А. Однокристальный сцинтилляционный спектро.метр. М. Автомиздат, 1971, с. 85.

2.Трыков Л. А. Однокристальный сцинтилляционный спектрометр. М. Автомиздат, 1971, с. 95 (прототип).

Похожие патенты SU843571A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРНО-ДИНАМИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ВЕЩЕСТВА 2006
  • Лебедев Василий Тимофеевич
RU2327975C1
Устройство для определения кристаллографических направлений монокристаллов 1983
  • Адищев Юрий Николаевич
  • Потылицын Александр Петрович
  • Хакбердиев Ибрагим
SU1176457A1
СПОСОБ КАЛИБРОВКИ КРИОГЕННОГО ДЕТЕКТОРА ЧАСТИЦ НА ОСНОВЕ ЖИДКОГО АРГОНА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕАЛИЗАЦИИ СПОСОБА 2013
  • Полосаткин Сергей Викторович
  • Гришняев Евгений Сергеевич
RU2531550C1
АНАЛИЗ ЭНЕРГИЙ ПРИ ОБРАТНОМ РАССЕЯНИИ ДЛЯ КЛАССИФИКАЦИИ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВАНИИ ПОЗИЦИОННОЙ НЕКОММУТАТИВНОСТИ 2012
  • Ротшильд Питер
  • Чжан Мин
RU2550319C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРЫ МНОГОАТОМНОЙ МОЛЕКУЛЫ 2001
  • Раховский В.И.
RU2260791C2
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ И ИДЕНТИФИКАЦИИ СКРЫТЫХ ОПАСНЫХ ПРЕДМЕТОВ 2010
  • Артюк Евгений Дмитриевич
  • Богданович Борис Юрьевич
  • Замятнин Виталий Юрьевич
  • Нестерович Александр Владимирович
  • Усенков Александр Вячеславович
  • Шиканов Александр Евгеньевич
RU2427827C1
ШИРОКОДИАПАЗОННЫЙ КОЛЬЦЕВОЙ ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ ДИФРАКТОМЕТР НЕЙТРОНОВ С РЕГУЛИРУЕМЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ 2022
  • Трунов Дмитрий Николаевич
  • Марин Виктор Николаевич
  • Литвин Василий Сергеевич
  • Аксенов Сергей Николаевич
  • Садыков Равиль Асхатович
RU2796123C1
СПОСОБ АНАЛИЗА КОЛИЧЕСТВЕННОГО СОСТАВА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА 1993
  • Зиновьев А.Н.
  • Синани М.А.
RU2064707C1
НЕЙТРОННЫЙ СПЕКТРОМЕТР 1995
  • Глазков В.П.
  • Наумов И.В.
  • Сырых Г.Ф.
RU2091777C1
УНИВЕРСАЛЬНАЯ УСТАНОВКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ 1974
  • Б. А. Котов, А. Л. Шах Будагов, Е. Г. Покорный Я. Г. Гросс
SU278897A1

Реферат патента 1982 года Способ измерения нейтронных спектров

Формула изобретения SU 843 571 A1

SU 843 571 A1

Авторы

Аникин Г.В.

Котухов И.И.

Даты

1982-08-23Публикация

1980-02-19Подача