Устройство для измерения деформацииОбРАзцОВ Советский патент 1981 года по МПК G01B17/04 

Описание патента на изобретение SU845003A1

1

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для измерения деформации с помощью звуковых колебаний.

Известно устройство для измерения деформации образцов, содержащее цилиндрический резонатор, тягу длянагружения образца, один конец которой связан с торцом резонатора, а другой - j с образцом, и электрический измерительный прибор, соединенный с резонатором 1.

Недостатком данного устройства является низкая чувствительность, свя- 5 занная с тем, что деформация образца преобразуется в относительное изменение длины резонатора, которое, в связи с достаточно большой длиной резонатора, невелико, а акже низкая 20 точность, связанная с больщими темпе- ратурными погрешностями и влиянием на размеры тяги передаваемого ею усилия.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устрой- 25 ство для измерения деформации образцов, содержащее .полыГ: цилиндрический, резонатор, шток, один конец которого связан с торцом резонатора, другой с образцом, и электрический измери- 30

тельный прибор, соединенный с резонатором ГзЦ.

Недостатками данного устройства являются сравнительно низкая чувствительность, связанная с тем, что деформация образца преобразуется в относительное изменение длины резонатора, которое, в связи с достаточно большой длиной резонатора, невелико,а такхсе сравнительно низкая точность, связанная с температурными погрешностями.

Целью изобретения является повьииенйе чувствительности и точности измерений в активной зоне ядерного реактора.

Указанная цель достигается тем, что устройство для измерения деформации образцов снабжено установленной в резонаторе диафрагмой с отверстием, предназначенным для размещения образца.

На чертеже показано устройство, для измерения деформации образцов, вертикальный разрез.

Устройство для измерения деформации образцов содержит полый цилиндрический резонатор 1, в котором размещены образец 2 и диафрагма °3 с отверстием 4, в которое образец входит С зазором. К резонатору подсоединены коаксиальные провода 5, подключенные к электрическому измерительному прибору (на чертеже не показан), в качестве которого может быть использован, например , прибор для исследования амплитудно-частотных характеристик. Устройство для измерения деформации образцов работает следующим образом. Предварительно осуществляют построение градуировочной зависимости резонансной частоты от зазора меж ду диафрагмой 3 и образцом 2, подава возбуждающий сигнал на коаксиальные провода 5 и устакавливар поочередно по одной из набора диафрагм 3 с отве стиями различного, точно известного диаметра. Затем помещают в отверстие диафрагмы образец, погружают его, из меряют резонансную частоту, и по полученной ранее градуировочной характеристике определяют поперечную дефо мацию образца. Изобретение позволяет повысить чувствительность устройства за счет того, что измерение поперечной дефор Мсщии образца осуществляется путем преобразования ее в изменение ширинь зазора между образцом и диафрагмой, т. е. зазор, измеряемый электронным прибором, изменяется на величину, соизмеримую с самим зазором, и точность устройства за счет исключения температурных деформаций в связи с почти одинаковыми радиальными (за исключением зазора) размерами диафрагмы и торца резонатора, а тепловые деформации диафрагмы и торца резонатора направлены в разные стороны. Формула изобретения Устройство для измерения деформации образцов, содержащее полый цилиндрический резонатор, связываемый с образцом, и электрический измерительный прибор, соединенный с резонатором, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерений в активной зоне ядерного реактора, оно снабжено установленной в резонаторе диафрагмой с отверстием, предназначенным для размещения образца. . Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Патент Франции № 2185095, «л. G 01 В 7/00, 1977. 2.Патент Франции № 2151604, кл. G 21 С 17/00, 1976 (прототип).

Похожие патенты SU845003A1

название год авторы номер документа
КОАКСИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ РЕЗОНАТОР С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМ ЭЛЕКТРОДОМ И РЕГУЛИРУЕМЫМ ЕМКОСТНЫМ ЗАЗОРОМ 2018
  • Егоров Виктор Николаевич
  • Ле Куанг Туен
RU2680109C1
КОАКСИАЛЬНЫЙ РЕЗОНАТОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДОБРОТНОСТИ КОНДЕНСАТОРА 2008
  • Козырев Андрей Борисович
  • Осадчий Виталий Николаевич
  • Косьмин Дмитрий Михайлович
  • Котельников Игорь Витальевич
  • Михайлов Анатолий Константинович
RU2367964C1
РЕЗОНАНСНОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЛИЖНЕПОЛЕВОГО СВЧ-КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ МАТЕРИАЛОВ 2013
  • Усанов Дмитрий Александрович
  • Горбатов Сергей Сергеевич
  • Кваско Владимир Юрьевич
  • Фадеев Алексей Владимирович
RU2529417C1
Устройство для измерений диэлектрических свойств материалов при высокотемпературном нагреве 2021
  • Крылов Виталий Петрович
  • Горшков Николай Анатольевич
  • Суханов Игорь Евгеньевич
  • Титов Николай Сергеевич
RU2763515C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ БЕСКОНТАКТНЫМ СВЧ МЕТОДОМ 2010
  • Владимиров Валерий Михайлович
  • Марков Владимир Витальевич
  • Мартыновский Владимир Николаевич
  • Шепов Владимир Николаевич
RU2430383C1
ПЕТЛЕВОЙ РЕЗОНАТОР 2011
  • Рокеах Александр Ицекович
  • Артемов Михаил Юрьевич
RU2466414C1
СПОСОБ ГРАДУИРОВКИ РЕЗОНАНСНОГО ДАТЧИКА ПАРАМЕТРОВ ЭПИТАКСИАЛЬНОГО СЛОЯ НА ПРОВОДЯЩЕЙ ПОДЛОЖКЕ 1993
  • Тэгай В.А.
  • Енишерлова-Вельяшева К.Л.
  • Детинко М.В.
RU2107356C1
ДАТЧИК ДАВЛЕНИЯ 2000
  • Гумиров Р.З.
  • Киселев О.В.
  • Ребров А.С.
  • Совлуков А.С.
RU2221228C2
КОАКСИАЛЬНЫЙ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЙ РЕЗОНАТОР С НЕИЗЛУЧАЮЩИМ ОКНОМ ДЛЯ ВВОДА ОБРАЗЦА 2016
  • Егоров Виктор Николаевич
  • Костромин Валерий Васильевич
RU2626746C1
Резонатор радиоспектрометра двойного электронно-ядерного резонанса 1977
  • Безобчук Владимир Кондратьевич
  • Брик Александр Борисович
  • Федотов Юрий Васильевич
SU693238A1

Иллюстрации к изобретению SU 845 003 A1

Реферат патента 1981 года Устройство для измерения деформацииОбРАзцОВ

Формула изобретения SU 845 003 A1

SU 845 003 A1

Авторы

Сочилин Геннадий Иванович

Самигуллин Борис Андреевич

Даты

1981-07-07Публикация

1979-08-29Подача