Способ измерения коэффициентов пропусканияи КОэффициЕНТОВ ОТРАжЕНия ОпТичЕСКиХМАТЕРиАлОВ Советский патент 1981 года по МПК G01J1/04 

1

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано для измерения поглощающих и отражающих свойств оптических элементов и материалов .

Известен способ измерения коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения оптических материалов.

При реализации этого способа световой пучок источника при помощи светоделительного покрытия разделяют на измерительный и эталонный пучки, пропускают измерительный пучок через, исследуекый материал или отражают его 15 от исследуемого зеркала, проводят временное разделение пучков, подают их на приемник излучения и сравнивают выходные сигналы приемника.

Недостатком известного способа « является малая чувствительность.

наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отражения оптических материалов, заключанидийся в том, что световой пучок источника пространственно разделяют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через исследуемый w

оптический материал или отражают его от исследуемого оптического материала, производят временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемни а,

Недостатком способа является то, что световой пучок источника два раза проходит через светоделительное покрытие, в результате чего интенсивность излучения в измерительном и эталонном пучках оказывается в два раза меньше, а на приемнике излучения в четыре раза меньше, чем интенсивность излучения источника, что приводит к снижению точности измерений и уменьшению диапазона измеряемых коэффициентов пропускания оптических материалов и коэффициентов отражения зеркал.

Целью изобретения является повышение точности и расширение диапазона измерений.

Поставленная цель достигается тем, что по предложенному способу, при осуществлении которого световой пучок источника пространственно разделяют на измерительный и этгшонный, пропускают измерительный пучок через оптический материал или отражают его

г оптического материала, проводят временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемника, пространственное и временное разделение световых пучков производят одновремено ггутем скан1- рования .

Способ реализуется следуюашм образом. Оптическое ;- Злучение от источника подают на отражающее покрытие, путем сканирования отражающим покрытием проводят пространственное и временное разделение светового пучка источника на измерительный и эталонный пучки, пропускают измерительный пучо через исследуе елй материал или отраукают его от исследуемого зеркала, подают оба пучка яа приемник излучения и сравнивают выходные сигналы приемника .

На чертеже представлен вариант cxeiMbi устройства, на котором может быть реализован предлагаемый способ.

Устройство состоит из источника оптического излучения 1, сканирующего отрал ающего покрытия, выполненного в виде зеркала 2, рефлекторов 3 и 4 измерительного и эталоннс5го пучков соответственно, линзы 5 и приемника излучения 6 «

Устройство работает следующим образ ом.

Световой пучок источника поступает на сканирующее зеркало 2. В момент времени г когда зеркало 2 находится в положении, обозначенном на чертеже сплошными линиями, световой пучок источника 1 отражается зеркалом 2 на рефлектор измерительново пучка 3, и после прдхождения исследуемого образца 7, фокусируется линзой 5 на приемник излучения 6. В момент времени, когда зеркало 2 находится в положении, обозначенном на чертеже пунктирными линиями, светово пучок источника отражается зеркалом 2 на рефлектор эталонного пучка 4 и фокусируется на приемник -излучения б, Таким образом, путем сканирования отражающим покрытием, выполненным в виде зеркала, одновременно производится как пространственное, так и временное разделение светового пучка источника на измерительный и эталонный пучки. При этом интенсивность измерительного и эталонного пучков и интенсивность излучения на приемнике равны интенсивности источника излучения 1, Отсюда следует, что интенсивность измерительного и эталонного

пучков оказывается в два раза выше, а интенсивность излучения на приемнике - в четыре раза выше, чем при реализации известного способа. Сравнивая выходные сигналы приемника излучения б от измерительного и эталонного пучков определяют коэффициент пропускания исследуемого образца 7. При этом за счет того, что интенсивность измерительного и эталонного пучков сравнительно высока, обеспечивается высокая точность и широкий диапазон измере(НИЙ .

При измерении коэффициентов отражения зеркал, исследуег ъгй образец 7 убирают, а вместо рефлектора измерительного пучка 3 устанавливают исследуемое зеркало.

Таким образом, одновременное пространственное и временное разделение светового пучка источника, проводимое путем сканирования отражающим покрытием, позволяет увеличить в два раза интенсивность излучения в измерительном и эталонном пучках и в четыре раза интенсивность излучения на приемнике, что существенно повышает точность и расширяет диапазон измерений. Кроме того, установка для реализации способа оказывается более проста, что дает экономический эффект.

Формула изобретения

Способ измерения коэффициентов пропускания и коэффициентов отражения оптических материалов, при котором световой пучок источника пространственно разделяют на измерительный и эталонный, пропускают измерительный пучок через оптический материал или

0 отражают его от оптического материала, проводят временное разделение пучков, подают их на фотоприемник и сравнивают выходные сигналы фотоприемника, отличающийся тем, что, с

g целью повышения точности и расширения диапазона измерений, пространственное и временное разделение производят одновременно путем сканирования. Источники информации,

Q принятые во внимание при экспертизе

1.Волькенштейн А.А., Кириллов А.Ф., Кувалдин Э.В. Импульсная фотометрия. Л.. Машиностроение, 1975, с. 151-157.

2.Патент ФРГ № 1281170, кл. G 0.1 J 1/04, опублик. 1968 (прототип).