Осветительные устройства современных электронных микроскопов состоят из трехэлектродной системы излучателя и конденсорной линзы, фокусирующей пучок на объекте.
Отличительной особенностью предлагаемой системы является выбор оптимального расстояния между источником и облучаемым объектом таким, чтобы излучением был заполнен требуемый апертурный угол. При этом отпадает необходимость применения фокусирующей конденсорной линзы.
На фиг. 1 изображена схема облучения объекта в электронном микроскопе; на фиг. 2 - схема лучей; на фиг. 3 - схема лучей с фокусирующей линзой.
В качестве излучателя радиуса rp может быть принят не только собственно катод, но и наименьшее сечение пучка электронов с утлом расхождения α0. Пренебрегая рассеянием электронов в объекте, считаем, что электроны, пройдя объект, должны заполнить угол β. Тогда, если этот угол меньше или равен апертурному углу объектива, можно обойтись без применения конденсорных линз, размещая объект на таком расстоянии L от излучателя, чтобы последний был виден из центра объекта под углом. Это оптимальное расстояние
Доказательство такой возможности следующее. Полезно используемая степень электронного пучка будет где rв - радиус площади объекта, а - радиус сечения площади всего пучка в плоскости объекта.
На фиг. 3 показан.случай применения конденсорной линзы, создающей в плоскости объекта действительное изображение источника с увеличением, равным единице. Новый полный угол расхождения будет равен первоначальному α0, а апертурный угол полезно используемой части будет по-прежнему равен β. Отношение даст по-прежнему значение степени использования электронного пучка γ.
Таким образом, в этом случае применение конденсорной линзы не увеличивает интенсивности облучения объекта в пределах заданного апертурного угла. При изменении масштаба изображения, даваемого линзой, интенсивность или плотность энергии облучения остается неизменной, а именно где i - ток пучка, Sρ - площадь изображения и ω - телесный угол пучка. Неизменность R получается за счет того, что уменьшение угла под которым производится облучение, влечет за собой соответствующее увеличение изображения.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Электроннооптическая система про-СВЕчиВАющЕгО элЕКТРОННОгО МиКРОСКОпА | 1978 |
|
SU811365A1 |
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО | 1996 |
|
RU2094758C1 |
Просвечивающий растровый электронный микроскоп | 1983 |
|
SU1173464A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ В ОТРАЖАТЕЛЬНОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ | 1968 |
|
SU210959A1 |
СПОСОБ НАВЕДЕНИЯ И ФОКУСИРОВКИ ИЗЛУЧЕНИЯ НА МИШЕНЬ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2020 |
|
RU2726219C1 |
ОПТИЧЕСКАЯ КОЛОНКА ДЛЯ ИЗЛУЧЕНИЯ ЧАСТИЦ | 1994 |
|
RU2144237C1 |
ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП | 2013 |
|
RU2551651C2 |
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ | 2000 |
|
RU2179789C2 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ СВЕТОВОЗВРАЩЕНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ | 2002 |
|
RU2202814C1 |
УСТРОЙСТВО для ФОРМИРОВАНИЯ УМЕНЬШЕННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ШАБЛОНОВ | 1972 |
|
SU335736A1 |
Осветительная система электронного микроскопа, отличающаяся тем, что, с целью исключения фокусирующей конденсорной линзы, облучаемый объект устанавливается на таком расстоянии от источника, чтобы излучением был заполнен требуемый апертурный угол.
Авторы
Даты
1950-12-31—Публикация
1948-02-28—Подача