ОСВЕТИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА ЭЛЕКТРОННОГО МИКРОСКОПА Советский патент 1950 года по МПК H01J37/26 

Описание патента на изобретение SU85458A1

Осветительные устройства современных электронных микроскопов состоят из трехэлектродной системы излучателя и конденсорной линзы, фокусирующей пучок на объекте.

Отличительной особенностью предлагаемой системы является выбор оптимального расстояния между источником и облучаемым объектом таким, чтобы излучением был заполнен требуемый апертурный угол. При этом отпадает необходимость применения фокусирующей конденсорной линзы.

На фиг. 1 изображена схема облучения объекта в электронном микроскопе; на фиг. 2 - схема лучей; на фиг. 3 - схема лучей с фокусирующей линзой.

В качестве излучателя радиуса rp может быть принят не только собственно катод, но и наименьшее сечение пучка электронов с утлом расхождения α0. Пренебрегая рассеянием электронов в объекте, считаем, что электроны, пройдя объект, должны заполнить угол β. Тогда, если этот угол меньше или равен апертурному углу объектива, можно обойтись без применения конденсорных линз, размещая объект на таком расстоянии L от излучателя, чтобы последний был виден из центра объекта под углом. Это оптимальное расстояние

Доказательство такой возможности следующее. Полезно используемая степень электронного пучка будет где rв - радиус площади объекта, а - радиус сечения площади всего пучка в плоскости объекта.

На фиг. 3 показан.случай применения конденсорной линзы, создающей в плоскости объекта действительное изображение источника с увеличением, равным единице. Новый полный угол расхождения будет равен первоначальному α0, а апертурный угол полезно используемой части будет по-прежнему равен β. Отношение даст по-прежнему значение степени использования электронного пучка γ.

Таким образом, в этом случае применение конденсорной линзы не увеличивает интенсивности облучения объекта в пределах заданного апертурного угла. При изменении масштаба изображения, даваемого линзой, интенсивность или плотность энергии облучения остается неизменной, а именно где i - ток пучка, Sρ - площадь изображения и ω - телесный угол пучка. Неизменность R получается за счет того, что уменьшение угла под которым производится облучение, влечет за собой соответствующее увеличение изображения.

Похожие патенты SU85458A1

название год авторы номер документа
Электроннооптическая система про-СВЕчиВАющЕгО элЕКТРОННОгО МиКРОСКОпА 1978
  • Анаскин Иван Филиппович
  • Агеев Евгений Васильевич
  • Стоянов Павел Александрович
SU811365A1
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1996
  • Спирин Е.А.
  • Захаров И.С.
RU2094758C1
Просвечивающий растровый электронный микроскоп 1983
  • Алексеев Анатолий Гаврилович
  • Верховская Татьяна Александровна
SU1173464A1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ В ОТРАЖАТЕЛЬНОМ ЭЛЕКТРОННОМ МИКРОСКОПЕ 1968
  • Л. Б. Розенфельд Ю. М. Кушнир
SU210959A1
СПОСОБ НАВЕДЕНИЯ И ФОКУСИРОВКИ ИЗЛУЧЕНИЯ НА МИШЕНЬ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2020
  • Бородин Владимир Григорьевич
  • Мигель Вячеслав Михайлович
  • Филиппов Владимир Геннадьевич
RU2726219C1
ОПТИЧЕСКАЯ КОЛОНКА ДЛЯ ИЗЛУЧЕНИЯ ЧАСТИЦ 1994
  • Мартин Фредерик Уайт
RU2144237C1
ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ЭЛЕКТРОННО-ИОННЫЙ МИКРОСКОП 2013
  • Ефимов Игорь Николаевич
  • Морозов Евгений Александрович
  • Косов Евгений Сергеевич
  • Германюк Денис Евгеньевич
RU2551651C2
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2000
  • Маклашевский В.Я.
  • Кеткович А.А.
  • Филинов В.Н.
RU2179789C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОКАЗАТЕЛЯ СВЕТОВОЗВРАЩЕНИЯ ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРОВ 2002
  • Барышников Н.В.
  • Бокшанский В.Б.
  • Вязовых М.В.
  • Животовский И.В.
  • Карасик В.Е.
  • Немтинов В.Б.
  • Хомутский Ю.В.
RU2202814C1
УСТРОЙСТВО для ФОРМИРОВАНИЯ УМЕНЬШЕННОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ ШАБЛОНОВ 1972
  • Г. В. Дер Шварц, Г. А. Михайловский, А. И. Трубецкой П. А. Чернов
SU335736A1

Иллюстрации к изобретению SU 85 458 A1

Формула изобретения SU 85 458 A1

Осветительная система электронного микроскопа, отличающаяся тем, что, с целью исключения фокусирующей конденсорной линзы, облучаемый объект устанавливается на таком расстоянии от источника, чтобы излучением был заполнен требуемый апертурный угол.

SU 85 458 A1

Авторы

Янчевский К.М.

Даты

1950-12-31Публикация

1948-02-28Подача