Устройство для определения толщины гистологического среза Советский патент 1981 года по МПК G01N1/28 A61B10/00 G01B3/02 

К стенке 5 рамки также прикреплена аналогичная металлическая планка 10, положение которой может изменяться соответствующим креплением 11. Фиксация металлических планок 9 и 10 при регистрации зазора ними достигается за счет крепления 12 С устройством для определения толщины гистологического среза работают следуюащм образом.

Необходимо определить толщину гистологических срезов злокачественной опухоли легкого 0,5x0,5 см.

Перед приготовлением гистологических срезов с помощью микрометра производится отбор соответствующих предметного стекла 2 и покровногб стекла 3, отвечающих требованиям цитофотометрии. Отбор производится таким образом, чтобы сумма толщины покровного стекла 3 предметного стекла 2 незначительно отличалась от других Каждая пара стекол 2,3 должна иметь свой порядковый номер. Маркируется фламастером центральная часть предметного стекла, где будет монтироваться гистологический срез. Предметное стекло 2 с помещенным на него покровным стеклом 3 помещается на горизонтальную подставку 1 (см. чертеж), и между двумя металлическими планками 9,10 устанавливается зазор. При этом края планок 9,10 должны быть хорошо видны в поле зрения микроскопа при 400- или 600-кратном увеличении (объектив 40, окуляр 1015). Расстояние между металлически ми планками 9,10 документируется фото графически.

Последовательно ангшогичную операцию проводят с другими парами стекол 2,3. После этого на предметные стекла 2 монтируют гистологические срезы. Эти стекла 2,3 вновь поме- щают в устройство на подставку 1 и проводят последовательно фотографирование расстояний между 1у1еталлическими планками 9,10. Фотографирование проводят всегда в одном участке, для чего на верхней металлической планке 10 наносят ртметку.

Гистологический срез уменьшает .на несколько «щкрон (в зависимости от толщины среза) расстояние между краями металлических планок 9,10. Для расчета толщины среза подготавливают на фотобумаге увеличенное изобрсьжение микрометрической шкалы таким образом, чтобы 1 см соответствовал 1 мк. Это достигается микрофотосъемкой шкалы при увеличениях в 400 или 600 раз с последую«

щим увеличением с помощью фотоувеличителя или диапроектора. Микросъемка производится с помощью насадки МФН-12 (или другой аналогичной).

Для предотвращения смещения ме- таллических планок 9,10 во время фотосъемки их необходимо фиксировать йреплением 12.

Негативы полученных изображений расстояний между металлическими план.. ками 9,10 до и после нанесения ги,стологического среза на предметное стекло 2 подвергают увеличению той же кратности, что и негативное изображение микрометрической шкалы. Указанные расстояния, проецируемые

5 на экран, измеряют в миллиметрах и сопоставляют. Разница между большим и меньшим измерениями и составит величину толщины гистологических срезов. Негативы в последующем хранятся как фотодокументы проведенных исследований.

Предлагаемое изобретение дает возможность с большой точностью определить толщину гистологического среза

5 до 0,1 мк. Ошибка измерения при толщине среза 4 мк не превышает 5%, что является вполне допустимым при проведении исследований на биологических объектах.

Предлагаемое устройство может быть использовано для определения толщины любых гистологических срезов, как криостатных, так и парафинированных и т.д.

Формула изобретения

Устройство для определения толщины гистологического среза, содержащее подставку для размещения на ней покровного и предметного стекол и рамку, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, оно снабжено установленной

в pciMKe с возможностью перемещения в вертикальной плоскости пластиной, нижняя часть которой имеет выступ для контактирования с покровным стеклом, и двумя планками, размещенными

.одна напротив другой для регистрации величины зазора между ними, при этом одна планка укреплена на рамке, а другая - на пластине.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Аппельт. Введение в методы микроскопического исследования. М., Медгиз, 1959, с. 26-2.

W

ft

f