Прибор для контроля качества обработки поверхностей Советский патент 1950 года по МПК G01B11/30 G02B21/14 

1н-Н1Т;1тсды ого , при коTfjjx.jii ои ; :сс|ч;к оси и иопма/И с(. ( СОСТа. оди:;ако|;;:;о xT.ii.i. Такое к нктпхД|ипиое пкиио ириоо ;; }д:;чд,:иаст j)accei i;ainTe света при и:п ереи1и; весьма Ma.Tijix ими;ии г,т бг1И1;1 бороздок иа обраб;:ть;;;аемои по ерх11ости и обеС1 е1|ив:и т их 13мереиие с исобходил;ои точиостгдо. , 1Кд-ти чстаиапдиваетсн иа Г;) .;-п{ ИСГаЧД ИЫ15 КО:;Тр;;СТ дм 1 о;;т;);;, ;см :iC :oMo;areo ;- :ОГО .1иь:рос1д.и;д Пос.те утого Д- Оf5i-(.1ЯрОл д.СиОКССДрод::;; рсЗчп М1и роскоп / i; д; pяe;д.тo 11иску. псрсмеиииот ;рД1бор и.ти дета.И так. чтобы 1;зг:бпад еиие. рдск; деремоигадось идодь 1Д:-;а.ты оку.;ярио11 сетки, отыскивая то ио.тожсиде eixx когда кодтпаст

изводится по сооизетствующсй формуле.

Фазовые пластинки 2 микроскопа 15ыпол1-1е 1ы сменными и оитическая толидипа изменяющих фазу элемеитов их плавно изменяется от одного края к другол1у.

Предмет и з о б р е т е н и я

1. Прибор для коитро;1я качества обработки поверхностей, состоящий из фазового микроскопа со смениыми зоиальиыми или лучевглми фазовыми пластинками и ироекцпогнюосветительной системы с внутренне фокусировкой, о т ,т и ч а ю HI и и

с я тем. ), с целью yмe ПlИJe lия рассеивания света при измерении |луби11ы бороздок, микроскоп н проек 1ИО га-осветителвное устройство . в нем так, что их онтическ1 е оси образу от одииаковь е ) с н()рма.1ью исследуемой поверхности.

2. Форма выполиеиия прибора для ко ггроля качества обработки поверхиостей по п. 1, отличаюП1 а я с я тем, что фазовые п.астиики микроскопа 1 ыполиеиы сменным 1 и оптическая толщина изменяюи,их фазу элементов их плавно изменяется от одного края к другому.